双内花键同轴度检具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种双内花键同轴度检具，它由定塞规、动塞规和螺母组成。所述定塞规为竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆柱轴段之上设有与螺母相配合的外螺纹。所述动塞规为有孔法兰状，中间通孔与定塞规中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键。动塞规与定塞规同轴套合并由螺母轴向限位，同时构成不限制动塞规相对定塞规旋转结构。本实用新型专利技术以定塞规为基准用动塞规检验双花键套的同轴度，若两只内花键有齿位误差，可通过旋转动塞规调整位置，此结构在同轴度检验时不受齿位误差影响。本实用新型专利技术检验操作方便、效率高，能够客观地定性判定被检双花键套的同轴度偏差情况，特别适合生产现场使用。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量位置公差的检具，具体地讲，本技术涉及一种两只 内花键同轴度一并测量的检具。
技术介绍
双花键套是汽车差速锁的关键零部件，其结构特征是两端内孔中都设有内花键， 尽管两只内花键尺寸不等，但同轴精度要求较高，现有技术采用塞规可分别检验其形状，但 不能检验两只内花键的同轴度。三维电子测量装置是现有技术中最先进的检测仪器，可通 过立体定位精确测量两只内花键的同轴度，因三维电子测量装置对检测条件和环境有较高 要求，所以只适合在检验室内作型式检验，不适合生产现场检验。由于生产现场缺少必要的 检具，生产过程中不能及时发现两只内花之间同轴度偏差，易发生批量产品超差而造成损 失。
技术实现思路
本技术主要针对现有技术的不足，提出一种适合生产现场使用的双内花键同 轴度检具，该检具结构简单、制造容易、使用方便、测量准确。本技术通过下述技术方案实现技术目标。双内花键盘同轴度检具，它由定塞规、动塞规和螺母组成。所述定塞规为轴径上细 下粗的竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆柱轴段之上相邻轴 段设有与螺母相配合的外螺纹。所述动塞规为有孔法兰状，中间通孔与定塞规中段圆柱轴 间隙配合，外壁轴向设有外花键。其改进之处在于所述动塞规与定塞规同轴套合并由螺母 轴向限位，同时构成不限制动塞规相对定塞规旋转结构。上述结构中，定塞规上的外花键尺寸比动塞规上的外花键尺寸小。本技术与现有技术相比，具有以下积极效果1、两只不同尺寸的外花键塞规同轴连接结构简单，制作容易、安装方便；2、定塞规与动塞规同轴套合，定位基准可靠，配合精度高，同轴度偏差小，检验质 量有保证；3、将定塞规轴向塞入相对应的一端内花键中，以此为基准用动塞规检验另一只内 花键的同轴度偏差，检验操作方便、检测效率高，客观地快速定性判定被检产品同轴度偏差。附图说明图1是本技术结构主视示意图。具体实施方式下面根据图1并结合实施例，对本技术作进一步说明。3 图1所示的双内花键同轴度检具，它由定塞规1、动塞规2和螺母3组成。所述定 塞规1为轴径上细下粗的竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆 柱轴段之上相邻轴段设有与螺母3相配合的外螺纹。所述动塞规2为有孔法兰状，中间通孔 与定塞规1中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键。动塞规2与定塞规1同轴套合并 由螺母3轴向限位，同时构成不限制动塞规2相对定塞规1旋转的结构。本实施例用于检 验汽车差速锁中的双花键套检具，其两端花键尺寸分别为分度圆直径52. 5mm和分度圆直 径73mm。定塞规1底段外壁上的外花键分度圆直径为52. 5mm，动塞规2外壁上的外花键分 度圆直径为73mm，检验时先将定塞规1上的外花键插入被检双花键套相应内花键中，以此 为基准用动塞规2检验另一只内花键的同轴度，若两只内花键齿位有偏差，可转动动塞规2 直至对准被检验内花键的齿位，此结构在同轴度检验时不受齿位偏差影响。当两只塞规顺 利通过双花键套，则表明同轴度合格。若动塞规2不能顺利插入双花键套内，则表明同轴度 偏差超范围。本技术检验操作方便、效率高，能够客观地定性判定被检双花键套的同轴 度偏差情况。权利要求1.一种双内花键盘同轴度检具，它由定塞规(1)、动塞规(2)和螺母(3)组成；所述定 塞规(1)为轴径上细下粗的竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在 圆柱轴段之上相邻轴段设有与螺母(3)相配合的外螺纹；所述动塞规(2)为有孔法兰状，中 间通孔与定塞规(1)中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键；其特征在于所述动塞规 (2)与定塞规(1)同轴套合并由螺母(3)轴向限位，同时构成不限制动塞规(2)相对定塞规 (1)旋转结构。2.根据权利要求1所述的双内花键盘同轴度检具，其特征在于所述定塞规(1)上的外 花键尺寸比动塞规(2)上的外花键尺寸小。专利摘要本技术公开了一种双内花键同轴度检具，它由定塞规、动塞规和螺母组成。所述定塞规为竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆柱轴段之上设有与螺母相配合的外螺纹。所述动塞规为有孔法兰状，中间通孔与定塞规中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键。动塞规与定塞规同轴套合并由螺母轴向限位，同时构成不限制动塞规相对定塞规旋转结构。本技术以定塞规为基准用动塞规检验双花键套的同轴度，若两只内花键有齿位误差，可通过旋转动塞规调整位置，此结构在同轴度检验时不受齿位误差影响。本技术检验操作方便、效率高，能够客观地定性判定被检双花键套的同轴度偏差情况，特别适合生产现场使用。文档编号G01B5/252GK201892515SQ201020641360公开日2011年7月6日 申请日期2010年12月4日 优先权日2010年12月4日专利技术者葛珍晓 申请人:江苏飞船股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种双内花键盘同轴度检具，它由定塞规（１）、动塞规（２）和螺母（３）组成；所述定塞规（１）为轴径上细下粗的竖阶梯轴结构，其底段外壁轴向设有外花键，中段为圆柱轴，在圆柱轴段之上相邻轴段设有与螺母（３）相配合的外螺纹；所述动塞规（２）为有孔法兰状，中间通孔与定塞规（１）中段圆柱轴间隙配合，外壁轴向设有外花键；其特征在于：所述动塞规（２）与定塞规（１）同轴套合并由螺母（３）轴向限位，同时构成不限制动塞规（２）相对定塞规（１）旋转结构。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：葛珍晓，
申请(专利权)人：江苏飞船股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]