一种用于FTS-60V/FTS-6000红外光谱仪上的样品架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于ＦＴＳ－６０Ｖ／ＦＴＳ－６０００红外光谱仪上的样品架，包括支架和立柱导轨，支架上设置有下垫片，与该下垫片的位置相对应，其上方设置有上垫片，上垫片活动卡装在立柱导轨上，上垫片和下垫片上均设置有相互对应的通孔和相互吸引的磁铁。本实用新型专利技术在不破坏原有仪器的光路的前提下，克服了由于样品厚度薄、形状不规则等带来的测量困难的缺点，同时不损伤、污染样品，实现了对样品的红外光谱测量。此外，本实用新型专利技术结构简单、安装容易、使用方便，同时使用稳定性好，坚固耐用。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及红外光谱研究所用的实验仪器功能开发领域，尤其 是一种用于FTS-60V/FTS-6000红外光谱4义上的样品架。
技术介绍
FTS-60V和FTS-6000型傅立叶变换红外光语4义是可以进行红外光i普 测量分析的重要测试仪器。该光谱仪的系统可以对样品的晶格结构进行 测量分析。在原有的测试系统中，需要把样品粘贴在样品架上，这样势 必对样品造成污染。且近年来各类人工合成新材料的诞生和交叉学科的 发展，但受样品大小及形状的限制，是无法实现对样品的红外光谱的采 集。因此，在不破坏原有光学系统的基础上，设计一种即可以实现上述 测量方式，又可以不损伤、污染样品试验装置，还可以与原有光学系统 配套使用，对方便样品光谦测量研究及保护宝贵的样品对具有十分重要 的实用意义。
技术实现思路
针对现有情况存在的问题，本技术的目的在于提供一种安放样 品稳定、操作简单的用于FTS-60V/FTS-6000傅立叶变换红外光谱仪上的 样品架。为实现上述目的，本技术 一种用于FTS-6 OV/FTS-6 000红外光谓-仪上的样品架，包括支架和立柱导轨，支架上设置有下垫片，与该下垫 片的位置相对应，其上方设置有上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于ＦＴＳ－６０Ｖ／ＦＴＳ－６０００红外光谱仪上的样品架，其特征在于，该样品架包括支架和立柱导轨，支架上设置有下垫片，与该下垫片的位置相对应，其上方设置有上垫片，上垫片活动卡装在立柱导轨上，上垫片和下垫片上均设置有相互对应的通孔和相互吸引的磁铁。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨洋，朱恪，刘玉龙，张丽燕，
申请(专利权)人：中国科学院物理研究所，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]