傅立叶变换红外光谱仪制造技术

本实用新型专利技术属于检测仪器技术领域，尤其涉及一种傅立叶变换红外光谱仪，所述检测仓内设有下支撑杆，所述下支撑杆水平设置，所述下支撑杆上表面设有第一下支撑柱、第二下支撑柱，所述第一下支撑柱上表面设有第一下限位柱，所述第二下支撑柱上表面设有第二下限位柱，所述上盖下底面设有上支撑杆，所述上支撑杆下底面设有第一上支撑柱、第二上支撑柱，所述第一上支撑柱下底面设有第一上限位柱，所述第二上支撑柱下底面设有第二上限位柱，所述上支撑杆、下支撑杆之间设有集成电路板，所述集成电路板设有第一限位槽、第二限位槽，所述第一上限位柱、第一下限位柱位于第一限位槽内，所述第二上限位柱、第二下限位柱位于第二限位槽内。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于检测仪器
，尤其涉及一种傅立叶变换红外光谱仪。
技术介绍
傅立叶变换红外光谱是利用迈克尔逊干涉仪将检测光(红外光)分成两束，在动镜和定镜上反射回分束器上，这两束光是宽带的相干光，会发生干涉。相干的红外光照射到样品上，经检测器采集，获得含有样品信息的红外干涉图数据，经过计算机对数据进行傅立叶变换后，得到样品的红外光谱图。傅立叶变换红外光谱具有扫描速率快，分辨率高，稳定的可重复性等特点，目前被广泛使用。目前实际使用的光谱仪，控制电路板紧贴壳体设置，使电路板只能一面散热，散热效果不佳。
技术实现思路
本技术提供一种傅立叶变换红外光谱仪，以解决上述
技术介绍
中提出的电路板散热不佳的问题。本技术所解决的技术问题采用以下技术方案来实现：一种傅立叶变换红外光谱仪，其特征在于：包括底壳、上盖，所述底壳的上表面设有定位凸起，所述上盖的下底面设有与定位凸起相配合的定位凹槽，所述底壳内设有隔断，所述隔断水平设置，所述隔断下方设有样品仓，所述隔断上方设有检测仓，所述样品仓底部设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种傅立叶变换红外光谱仪，其特征在于：包括底壳、上盖，所述底壳的上表面设有定位凸起，所述上盖的下底面设有与定位凸起相配合的定位凹槽，所述底壳内设有隔断，所述隔断水平设置，所述隔断下方设有样品仓，所述隔断上方设有检测仓，所述样品仓底部设有样品支座，所述样品支座上设有样品支架，所述检测仓内设有下支撑杆，所述下支撑杆水平设置，所述下支撑杆上表面设有第一下支撑柱、第二下支撑柱，所述第一下支撑柱上表面设有第一下限位柱，所述第二下支撑柱上表面设有第二下限位柱，所述上盖下底面设有上支撑杆，所述上支撑杆下底面设有第一上支撑柱、第二上支撑柱，所述第一上支撑柱下底面设有第一上限位柱，所述第二上支撑柱下底面设有第二...

【技术特征摘要】
1.一种傅立叶变换红外光谱仪，其特征在于：包括底壳、上盖，所述底壳的上表面设有定位
凸起，所述上盖的下底面设有与定位凸起相配合的定位凹槽，所述底壳内设有隔断，所述隔
断水平设置，所述隔断下方设有样品仓，所述隔断上方设有检测仓，所述样品仓底部设有样
品支座，所述样品支座上设有样品支架，所述检测仓内设有下支撑杆，所述下支撑杆水平设
置，所述下支撑杆上表面设有第一下支撑柱、第二下支撑柱，所述第一下支撑柱上表面设有
第一下限位柱，所述第二下支撑柱上表面设有第二下限位柱，所述上盖下底面设有上支撑杆，
所述上支撑杆下底面设有...

【专利技术属性】
技术研发人员：万成富，赵朋辉，白志恒，
申请(专利权)人：天津中世沃克科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12