用于触摸屏的激光干涉设备制造技术

用于通过激光干涉检测进行位置确定的系统和方法采用了跨平面区域（３００）的宽光束宽度激光投影（３０１）。透镜系统（２２２）用来提供所述宽光束宽度投影，分束系统（２２５）用来使干涉图案与所述宽光束宽度投影的特定段相关。反射的干涉光束在检测器阵列（２４０）上被检测，该检测器阵列被配置成检测与所述宽光束宽度投影内的物体相应的波动。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于触摸屏的激光干涉设备本专利技术涉及触摸设备领域，特别地，涉及使用激光干涉测量来检测 表面上的触摸位置的触摸设备。2004年11月9日公布的并且通过引用合并于此的Martin D. Liess 的美国专利6816537"Device having touch sensitivity functionality，V/^开了一种使用激光干涉/反射来检测物体位置的触摸屏，所述物体例如接触屏 幕的指示笔(stylus)或手指。图IA和图IB示出了该专利中所使用的 技术。图IB示出了扫描设备110，其包括提供激光束101的激光发射和 检测设备120。激光束101由在机构130的控制下摆动的反射镜125反 射。附图说明图1A中的附图标记101a、101b等用来指示当该光束在扫掠屏幕100 的表面时在不同时间情况下的这个光束。如果在光束101的路径上没有障碍，那么光束行进到屏幕100的边 缘并且以散射模式从该边缘反射。采用激光检测领域的常见技术，反射 回扫描设备110的这些散射光线引入干涉，其对设备120的激光发射二 极管的光输出产生波动，并且得到的电流调制被激光发射和检测设备 120检测器检测到本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种系统，包括：　宽光束宽度投影（２０３）源（２２０，２２２）；　检测器阵列（２４０）；　分束器（２２５），其被配置成提供所述宽光束宽度投影（２０３）的两个投影（２０１，２０２）：　第一投影（２０１），其跨平面区域延伸，和　第二投影（２０２），其跨所述检测器阵列延伸；以及　检测系统（２５０），其被配置成检测由第一投影（２０１）反射到检测器阵列（２４０）上造成的干涉，并且据此确定所述平面区域内一个或多个物体（１５０）的存在。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：CN普雷素拉，GJA德斯图拉，G加西亚莫利纳，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]