最小偏转加速点检测、聚焦引入和跳层方法以及能够执行所述方法的光盘驱动器技术

最小偏转加速点检测、聚焦引入和跳层方法以及能够执行所述方法的光盘驱动器。在光盘驱动器中检测最小偏转加速点的方法包括：转动载入到光盘驱动器中的盘；在盘的一次转动周期内检测盘的第一最小偏转加速点；在盘的一次转动周期内检测盘的第二最小偏转加速点。因此，可得到稳定的聚焦引入和跳层。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的各方面涉及一种光盘驱动器，更具体地讲，涉及最小偏转加速 点检测、聚焦引入和跳层方法以及能够执行所述方法的光盘驱动器。
技术介绍
光盘驱动器是光学信息存储和再现设备。光盘驱动器通过沿垂直于载入 的盘的数据层的方向移动致动器的物镜，来对光盘的数据层(或记录层)执 行聚焦引入操作。聚焦引入操作在盘的数据层上形成光点的焦点，并被称为聚焦。可在执行静态检测盘类型(DDT)处理之后执行聚焦引入操作。图l是 解释在光盘驱动器中执行传统静态DDT处理之后执行向上聚焦引入操作的 处理的操作时序图。当盘不转动时，静态DDT处理确定盘的类型。如图l所 示，主操作0至3是静态DDT处理。即，在操作O中，设置在光盘驱动器中 的激光二极管导通并且物镜向下移动到可检测盘的表面层的反射的最近点 101。在操作1和2中，物镜上下移动以使用反射率和层间距离(Tl:物镜向 上移动时表面层和数据层之间的盘厚度；T2:物镜向下移动时表面层和数据 层之间的盘厚度)来确定盘的类型。在操作3中，验证通过静态DDT处理确定盘的类型的有效性。接着，在 操作4中，根据盘类型使用数据层的s曲线检测条件(聚焦误差信号(FES ) 的电平的绝对值〉1^ )来执行向上聚焦引入处理。此外，在操作4中，在满足 数据层的s曲线检测条件的点tlO执行向上聚焦引入。在操作10中，执行聚 焦伺服操作。因此，当盘转动并且光点聚焦在盘的数据层上时执行聚焦伺服 操作。图2是解释在光盘驱动器中执行传统静态DDT处理之后执行向下聚焦引 入操作的处理的操作时序图。操作0至3之间执行的静态DDT处理与图1所 示相同。然而，图2是解释向下聚焦引入处理的操作时序图。因此，在操作5中，在向下移动物镜时检测到满足聚焦引入条件(FES电平绝对值〉L1 )的 数据层的点tlO执行向下聚焦引入。在操作10中，执行聚焦伺服操作。在图1和图2中，"SO"指的是当物镜从最低点101向上移动时检测到表 面层s曲线的位置。"SI"指的是当物镜从盘的表面层向上移动到盘的数据层 时检测到数据层s曲线的位置。"S2"指的是当物镜从最高点102向下移动时 检测到数据层s曲线的位置。最后，"S3"指的是当物镜从盘的数据层向下移 动到盘的表面层时检测到表面层s曲线的位置。在图1和图2中，"L0"指的是在静态DDT处理中将被识别为数据层s 曲线的聚焦误差信号电平，该电平可被设置为数据层FES峰值电平的大约 50%。 "L1"指的是在聚焦引入处理中将被识别为数据层s曲线的聚焦误差信 号电平，该电平可被设置为数据层FES峰值电平的大约50%。 "L2"指的是 当在聚焦引入处理中识别出数据层s曲线"L1"并且FES电平返回到参考电 平(0V)时，接通在光盘驱动器中设置的聚焦伺服控制器的聚焦误差信号电 平，该电平可被设置为数据层FES峰值电平的大约25%。 "L3"指的是用于 在静态DDT处理和聚焦引入处理中识别数据层的射频直流(RFDC)误差信 号电平，该电平可被设置为数据层RFDC峰值电平的大约50%。最后，"L4" 指的是用于在静态DDT处理和聚焦引入处理中识别表面层的RFDC误差信号 电平，该电平可被设置为表面层RFDC峰值电平的大约50%。根据静态DDT 处理中确定的盘类型来设置"L1"、 "L2"、 "L3"和"L4"的值。在图l和图2中，"T1"指的是在DDT向上移动处理中从RFDC信号电 平大于L4时的t2到RFDC信号电平大于L3时的t3的向上移动时间。"T2" 指的是在DDT向下移动处理中从数据层S2中的RFDC信号电平小于L3时 的t5到RFDC信号电平小于L4时的t6的向下移动时间。"T3"指的是DDT 处理结果验证或主轴加速时间。"T4，，指的是在聚焦引入处理中与表面层和数 据层之间的盘厚度相应的时间。最后，"T5"指的是主轴转动一圈的时间。专利技术公开 技术问题参照图1和图2,可以看出，在主轴转动时执行聚焦引入。然而，当主 轴转动时，在每次转动一圈中反复出现盘偏转分量。因此，当在具有高偏转 的盘的具有任意偏转加速度的点执行聚焦引入时，聚焦引入很可能失败，并且盘很可能与物镜碰撞。此外，当在具有高偏转的盘的具有任意偏转加速度 的点执行跳层时，跳层很可能失败，并且盘很可能与物镜碰撞。技术方案为了解决上述和/或其他问题，本专利技术提供了 一种在光盘驱动器中检测最 小偏转加速点的方法和能够执行该方法的光盘驱动器。本专利技术的各方面还提供一种用于在最小偏转加速点执行聚焦引入的聚焦 引入方法和能够执行该方法的光盘驱动器。本专利技术的各方面还提供一种用于在最小偏转加速点执行跳层的跳层方法 和能够执行该方法的光盘驱动器。有益效果如上所述，本专利技术的各方面可通过在载入到高密度或低密度光学信息存 储和再现设备中的盘的最小偏转加速点执行聚焦引入来实现稳定的聚焦引 入，并在聚焦卩1入期间使盘和物镜之间的碰撞最小化。此外，本专利技术的各方面可通过在载入到高密度或低密度光学信息存储和 再现设备中的盘的最小偏转加速点执行跳层来实现稳定的跳层，并在跳层期 间使盘和物镜之间的碰撞最小化。附图说明通过结合附图阅读以下对示例性实施例的详细描述和权利要求，显然可 更好地理解本专利技术，附图构成本专利技术公开的一部分。尽管以下描述和示出的 公开集中在公开本专利技术的示例性实施例，但是应该清楚地理解，其仅为示出 和说明的方式，本专利技术不限于此。本专利技术的精神和范围仅由权利要求限定。以下表示附图的简要说明，其中图1是解释在光盘驱动器中执行传统静态DDT处理之后执行向上聚焦引 入的处理的才喿作时序图2是解释在光盘驱动器中执行传统静态DDT处理之后执行向下聚焦引 入的处理的操作时序图3是根据本专利技术示例性实施例的光盘驱动器的框图4是解释在图3所示的光盘驱动器中的最小偏转加速点检测处理的操8作时序图5是基于图4的最小偏转加速点检测的示图6是根据本专利技术另 一示例性实施例的光盘驱动器的框图7是在图6所示的光盘驱动器中具有(-)最大偏转大小的最小偏转加速点周围的向上聚焦引入的操作时序图8是在图6所示的光盘驱动器中具有(+ )最大偏转大小的最小偏转加速点周围的向上聚焦引入的操作时序图9是图6所示的光盘驱动器中的跳层的操作时序图10是解释根据本专利技术另一示例性实施例的最小偏转加速点检测方法的流程图11是图IO所示的最小偏转加速点检测处理的示例的详细流程图； 图12是图IO所示的最小偏转加速点检测处理的另一示例的详细流程图； 图13是根据本专利技术另一示例性实施例的聚焦引入方法的操作流程图； 图14是图13所示的聚焦引入处理的详细流程图； 图15是根据本专利技术另一示例性实施例的跳层方法的操作流程图。最佳方式根据本专利技术的 一方面， 一种在光盘驱动器中检测最小偏转加速点的方法 包括转动载入到光盘驱动器中的盘；在盘的一次转动周期内检测盘的第一 最小偏转加速点；在盘的一次转动周期内检测盘的第二最小偏转加速点。根据本专利技术另一方面， 一种光盘驱动器中的聚焦引入方法包括当得知 载入到光盘驱动器中的盘的一个转动周期开始时，计算聚焦致动器驱动信号 的改变量；当在盘的一次转动开始之后才企测到第一最小偏转加速点时，根据 聚焦致动器驱动信号的改变量产生聚焦致动器驱动信号；当检测到满足聚焦 引入条件的点时，对盘执行本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在光盘驱动器中检测最小偏转加速点的方法，所述方法包括：　转动载入到光盘驱动器中的盘；　在盘的一次转动周期内检测盘的第一最小偏转加速点；　在盘的一次转动周期内检测盘的第二最小偏转加速点。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴永在，郑甲均，辛钟玄，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]