光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法技术

本发明专利技术公开一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法，是用计算机进行操作，调整聚焦误差信号生成电路的参数，使聚焦点位置分别移动到聚焦误差信号Ｓ字线性区范围内至少３个等距的点上，在每个点上分别进行聚焦增益自动调整，上位计算机根据聚焦增益自动调整值和聚焦增益值和聚焦误差信号Ｓ字线性区斜率的关系公式计算每个点的斜率，并将每个点斜率的最大值与最小值相比，其比值即光学头聚焦误差信号线性度。可在１～２秒钟内完成线性度的自动测量，应用在光盘刻录机或播放器光学头（ＯＰＵ）的生产环节中，具有操作简单、结果准确、劳动强度低及检测效率高等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光学头聚焦误差信号(FE)线性度的测量方法，尤其是一种操作 简单、结果准确、劳动强度低、检测效率高的。
技术介绍
光盘刻录机或播放器光盘控制驱动模块的聚焦误差信号生成电路中有一个 FEbalance参数，调整聚焦误差信号生成电路的FE balance参数可使光学头的聚焦点沿聚 焦误差信号(FE)的S字线性区移动。光盘刻录机或播放器光盘控制驱动模块中还存在一个聚焦增益(FGAIN)自动调 整电路，其功能是对伺服系统的聚焦增益进行自动调整。使调整后的聚焦伺服系统幅频特 性曲线的截止频率《c满足设计值(DVD的截止频率设计值一般为1. 8kHz,⑶的截止频率 设计值一般为1. IkHz……)。S字的线性度即光学头(OPU)聚焦误差信号的线性度，是光学头重要的性能指标， 线性度差就会影响光学头聚焦伺服的稳定性。目前，对光学头聚焦误差信号的线性度的测 量均使用目测方法，即通过观察示波器上测得的光学头聚焦误差信号(FE)的S字图形来判 断。此方法操作复杂、劳动强度高、效率低，因此在实际生产中并不能对光学头进行全数检 查，即便这样还存在着检测结果受人为因素影响大、精确度低等问题，直接影响了产品的可 靠性。
技术实现思路
本专利技术是为了解决现有技术所存在的操作复杂、劳动强度高、效率及精确度低等 技术问题，提供一种操作简单、结果准确、劳动强度低、检测效率高的光学头聚焦误差信号 线性度的自动测量方法。本专利技术的技术解决方案是一种，其 特征在于按如下步骤进行a.将上位计算机与光盘控制驱动模块连接，实现相互通信；b.程序开始，上位计算机向光盘控制驱动模块发送聚焦指令控制光学头工作在 聚焦状态；c.上位计算机向光盘控制驱动模块发送调整聚焦误差信号生成电路参数及聚焦 增益自动调整指令调整聚焦误差信号生成电路的参数，移动聚焦点位置分别在聚焦误差 信号S字线性区的2n+l个点上，并在每个点上进行聚焦增益自动调整，得到2n+l个聚焦增 益自动调整值；2n+l个点在S字线性区上下均勻分布，η为不等于零的正整数，当η = 1时， 两端的点不是最高或最低点；d.上位计算机向光盘控制驱动模块发送寄存器数据读取指令光盘控制驱动模 块返回2n+l个聚焦增益自动调整值至上位计算机；e.上位计算机根据预存的聚焦误差信号S字线性区斜率和聚焦增益值的关系公3式，计算得到2n+l个点的斜率值并存储；f.上位计算机计算2n+l个斜率值中最大值与最小值之间的比值，即光学头聚焦误差信号线性度。本专利技术是用计算机进行操作，通过上位计算机向光盘控制驱动模块发送指令，调 整聚焦误差信号生成电路的参数，使聚焦位置分别移动到聚焦误差信号S字线性区范围内 至少3个等距的点上，在每个点上分别进行聚焦增益自动调整；上位计算机根据聚焦增益 自动调整值和聚焦增益值和聚焦误差信号S字线性区斜率的关系公式计算每个点的斜率， 并将这2n+l个斜率值中的的最大值与最小值相比，其比值即光学头聚焦误差信号线性度， 可在1 2秒钟内完成线性度的自动测量。本专利技术应用在光盘刻录机或播放器光学头(OPU) 的生产环节中，具有操作简单、结果准确、劳动强度低及检测效率高等优点。附图说明图1是本专利技术实施例的程序流程图。图2是本专利技术实施例S字线性区内2n+l个点的位置示意图。 具体实施例方式对大批量同一型号光学头测量前，需要用标准的、正常的光学头作为样本，确定聚 焦增益值和聚焦误差信号S字线性区斜率的关系公式，并将此关系公式存于上位计算机 中。因不同型号0PU，其信号特性是不同的，聚焦增益和S字线性区斜率的关系曲线和关系 公式也是有差异的，需要针对不同型号0PU，建立相应的关系公式。确定聚焦增益值和聚焦误差信号S字线性区斜率的关系公式的方法很多，可以手 动改变聚焦增益值，同时通过数字示波器或记录仪测定在当前聚焦增益值的条件下的S字 线性区的斜率，建立聚焦增益和S字线性区斜率的一一对应的二维数据表，根据《数值计算 与分析方法》确定聚焦误差信号S字线性区斜率和聚焦增益值的关系公式。本专利技术实施例是采用如下方法确定关系公式的(以中国华录 松下电子信息有限 公司内制8. ^cL OPU为例)1.上位计算机发送修改聚焦增益调整寄存器值命令，光盘控制驱动模块执行命令 改变聚焦增益值。2.上位计算机发送物镜上下移动命令，光盘控制驱动模块执行命令，控制光学头 上下移动，同时用示波器记录聚焦误差信号S字波形。3.根据示波器上的聚焦误差信号S字波形，利用微分学中关于微分定义的工程中 近似应用，来测量聚焦误差信号S字线性区的斜率。4.重复1 3，并记录至少2组聚焦增益值和聚焦误差信号S字线性区的斜率测 量值的对应数据，建立二维数据表(见表1)，表 1NO.聚焦增益值S字线性区斜率NO.聚焦增益值S字线性区斜率HexDecDecHexDecDec00x00801281. 12150x044010884.371OxOOCO1921.45160x048011524. 5120x01002561. 53170x04C012164. 7430x01403201. 67180x050012804. 9840x01803841.82190x054013445. 225OxOlCO4481.98200x058014085. 5360x02005122. 13210x05C014725. 7870x02405762. 24220x060015366. 2380x02806402.48230x064016006.4190x02C07042. 76240x068016646. 67100x03007683. 01250x06C017286.88110x03408323. 25260x070017927. 12120x03808963. 47270x074018567. 45130x03C09603.7280x078019207. 77140x040010244. 13290x07C019848. 215.利用数值计算与分析方法或者直接利用Excel表中的图表向导得到聚焦误差 信号S字线性区斜率(y)和聚焦增益值(χ)的关系公式为y = 6E-07x2+0. 0025x+0. 7857。对每个光学头的聚焦误差信号线性度的测量方法，只需如图1所示，由上位计算 机控制操作a.将上位计算机与光盘控制驱动模块连接，通过RS232实现相互通信；b.上位计算机向光盘控制驱动模块发送聚焦指令使光学头处于聚焦状态；c.上位计算机向光盘控制驱动模块发送调整聚焦误差信号生成电路参数及聚焦 增益自动调整指令，使聚焦点移动至指定位置且在该位置进行聚焦增益自动调整调整聚 焦误差信号生成电路的参数，移动聚焦点位置分别在聚焦误差信号S字线性区的2n+l个点 上(如图2所示)，并在每个点上进行聚焦增益自动调整，得到2n+l个聚焦增益自动调整 值；2n+l个等距的点在S字线性区上下均勻分布，η为不等于零的正整数，当η = 1时，两端 的点不是最高或最低点；当2η+1个聚焦点完成后，再进行下一步；d.上位计算机向光盘控制驱动模块发送寄存器数据读取指令光盘控制驱动模 块返回2n+l个聚焦增益自动调整值至上位计算机；e.上位计算机根据预存的聚焦误差信号S字线性区斜率和聚焦增益本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法，其特征在于依次按如下步骤进行：ａ．将上位计算机与光盘控制驱动模块连接，实现相互通信；ｂ．上位计算机向光盘控制驱动模块发送聚焦指令：使光学头处于聚焦状态；ｃ．上位计算机向光盘控制驱动模块发送调整聚焦误差信号生成电路参数及聚焦增益自动调整指令：调整聚焦误差信号生成电路的参数，移动聚焦点位置分别在聚焦误差信号Ｓ字线性区的２ｎ＋１个点上，并在每个点上进行聚焦增益自动调整，得到２ｎ＋１个聚焦增益自动调整值；２ｎ＋１个点在Ｓ字线性区上下均匀分布，ｎ为不等于零的正整数，当ｎ＝１时，两端的点不是最高或最低点；ｄ．上位计算机向光盘控制驱动模块发送寄存器数据读取指令：光盘控制驱动模块返回２ｎ＋１个聚焦增益自动调整值至上位计算机；ｅ．上位计算机根据预存的聚焦误差信号Ｓ字线性区斜率和聚焦增益值的关系公式，计算得到２ｎ＋１个点的斜率值并存储；ｆ．上位计算机计算２ｎ＋１个斜率值中最大值与最小值之间的比值，即光学头聚焦误差信号线性度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：余永立，周传辉，周禀桢，
申请(专利权)人：中国华录松下电子信息有限公司，
类型：发明
国别省市：91[中国|大连]