甚低功率的模拟补偿电路制造技术

技术编号:5399216 阅读:238 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种补偿电路,用于对集成电路中的PVT变化提供补偿。通过使用低电压参考电流源,所述补偿电路从片上参考低电压源(V↓[DD])直接生成在PVT变化中恒定的参考电流(I↓[ref]),基于电流传送器的感测电路从跨过单个二极管接法的晶体管(M10)而施加的低电压源(V↓[DDE]-V↓[DD])生成随PVT变化可变的检测电流(I↓[z]),低电压源(V↓[DDE]-V↓[DD])与两个参考低电压源之间的电压差相对应。因此,在输出多个数字比特的电流模式模数转换器内对两路电流(I↓[ref]、I↓[z])进行比较。随后,这些数字比特可以用于补偿I/O缓冲电路中的PVT变化。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种模拟补偿电路,更具体地,涉及一种甚低功率的模拟补偿电路,用于对集成电路内的工艺、电压和温度(PVT)变化提供补偿。
技术介绍
输出缓冲电路(例如,输入/输出(I/O)电路)广泛用于促进数据和/或信号从给定芯片上的一个组件传送到另一个组件,或者从一块芯片传送到另一块芯片,其中使用链路或传送线路(如总线、印刷电路板(PCB)走线、或任何其他导电性的类似结构)对其进行路由。 由于集成电路(IC)的速度日益增长,今天这些链路作为传送线路,要求其特性阻抗(典型值范围从50欧到75欧)连续匹配于输出缓冲电路或发射机的阻抗,以避免不期望的反射和冲击激励(ringing),反射和冲击激励导致抗噪性降低和定时偏移。 然而,缓冲电路可能经受电源电压、制造工艺和温度(PVT)的变化。例如,由IC制造导致的工艺变化可能影响阈值电压、通道长度和宽度、掺杂、载流子迁移率等。因此,这些变化不可避免,并导致偏离缓冲电路的最佳性能,从而需要采用PVT补偿技术。 此外,直接依赖于电容性开关操作的缓冲电路中的动态功耗以及由任何快速且同时的开关操作而导致的通过地和供电线路的干扰也将使得性能降低。 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种补偿电路,用于对集成电路内的工艺、电压和温度PVT变化中的至少一个提供补偿,所述补偿电路(100)至少包括: a)参考电路(200),用于生成在PVT变化过程中恒定的参考电流(I↓[ref]),所述参考电路(200)被配置为从第一 电压源(V↓[DD])直接生成所述参考电流(I↓[ref]),所述第一电压源(V↓[DD])位于所述集成电路内部并被配置为提供低电压源; b)感测电路(300),包括输出端子(Z),所述感测电路(300)被配置为在所述输出端子(Z)提 供随PVT变化可变的检测电流(I↓[z]),并通过所述检测电流(I↓[z])来感测所述PVT变化。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:安迪尼古瓦米歇尔泽克里
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

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