【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及半导体元件、半导体芯片搭载基板、布线基板等基板的多层布线结构,特别是层间绝缘膜的结构,还涉及具有该多层布线结构的半导体装置、布线基板、和含有它们的电子装置。进而,本专利技术涉及该多层布线结构的制造方法、以及具有该多层布线结构的半导体装置、布线基板、和含有它们的电子装置的制造方法。
技术介绍
以往,为了使半导体基板等上的多层布线结构中的布线层间绝缘,而形成有层间绝缘膜。 在采用这样的多层布线结构的半导体装置中,无法忽视由布线间的寄生电容和布线电阻所导致的信号延迟问题,要求采用具有低电容率(Low-k)的层间绝缘膜。 作为这种低电容率(Low-k)的材料,氟碳膜受到关注。另外,能在层间绝缘膜中使用的氟碳膜在专利文献1中被提出来。专利文献1公开了通过使用具有1个以上双键、或者1个三键的成膜气体来形成由氟碳聚合物构成的层间绝缘膜,而能控制膜密度的技术方案。还公开了分子结构具有1个双键的氟碳系的成膜气体容易在等离子体中解离,能够形成高密度且平坦的膜的技术方案。另一方面,公开了使用分子结构具有三键的成膜气体而形成的氟碳聚合物膜,是兼具密度高的性质和硬的性 ...
【技术保护点】
一种层间绝缘膜,其特征在于,被设置在下部电极、或布线层与上部布线层之间,至少部分含有介电常数k为2.5以下的绝缘性涂布膜。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:大见忠弘,松冈孝明,井口敦智,绵贯耕平,小池匡,足立龙彦,
申请(专利权)人:国立大学法人东北大学,东京毅力科创株式会社,宇部兴产株式会社,宇部日东化成株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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