一种电容检测装置制造方法及图纸

一种电容检测装置，待测电容为电容屏上触摸电容，装置包括：电容检测单元，电容检测单元与待测电容连接；该装置还包括：电容屏上待测电容的周边电容；将待测电容上电压反馈到周边电容的反馈模块；控制待测电容、周边电容进行充电的充电控制模块；控制电容检测单元对待测电容进行检测的检测控制模块；控制反馈模块进行电压反馈的反馈控制模块；反馈模块连接在待测电容和周边电容之间，充电控制模块与待测电容、周边电容连接；检测控制模块与电容检测单元连接；反馈控制模块与反馈模块连接。本装置通过反馈模块反馈待测电容的电压到周边电容，减小待测电容与周边电容之间的寄生电容对电容检测单元的影响，使电容检测装置灵敏度高、检测范围大。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电容检测领域，尤其涉及一种电容检测装置。
技术介绍
CapSense (电容感应触摸)系统的应用大多数是外接电容屏的应用。由于电容屏的物理结构和所使用的材料的原因，大多数电容屏的横向和纵向的Sensor(传感器)之间 都存在较大的寄生电容。尽管现在各大电容屏的生产厂家在生产过程中已经把减小寄生电 容作为设计电容屏的重要指标，但总体来说，市场上大多数电容屏上的寄生电容仍然比较 大。由于CapSense系统是个灵敏度要求很高的电容检测系统，要求检测的电容范围很小， 甚至会在0. IPF左右或更小(人的手指等效电容值在0. 1PF-10PF)。因此，电容屏上的寄生 电容对检测的灵敏度会造成很大的影响，如果屏上的寄生电容远大于检测电容值的话，那 么CapSense系统的检测灵敏度将会大大降低。同时大的寄生电容的存在，也会使CapSense 系统的检测范围减小。常规的CapSense系统中的电容检测单元通过调制器将待测电容及寄生电容转换 成PWM波(脉冲宽度调制波)，待测电容的变化可以反映到调制器输出PWM波的占空比上， 利用计数器对PWM波进行计数，再反映到计数器代码的变化上。然后用DSP (数字信号处 理)模块对这些代码进行处理，转换成坐标或位置信息，最终到用户可操作界面。电容屏上 的寄生电容是一直存在的，不同的电容屏寄生电容值的大小也会有很大的差异。CapSense 系统在外接电容屏的应用时，电容检测单元不仅会检测到屏上的触摸电容值，同时也会检 测屏上的寄生电容值。如上所述，目前的电容检测单元接屏应用时的检测灵敏度、检测范围很大程度上 受限于屏上的寄生电容。则需要设计一种能有效的减小电容屏上寄生电容对电容检测单元 的影响，得到灵敏度高、检测范围大的电容检测装置。
技术实现思路
本技术为解决现有电容检测单元灵敏度低、检测范围小的技术问题，提供一 种灵敏度高、检测范围大的电容检测装置。一种电容检测装置，其中待测电容为电容屏上触摸电容，该电容检测装置包括电 容检测单元，电容检测单元与待测电容连接；该电容检测装置还包括电容屏上待测电容的周边电容；将待测电容上电压反馈到周边电容的反馈模块；控制待测电容、周边电容进行充电的充电控制模块；控制电容检测单元对待测电容进行检测的检测控制模块；控制反馈模块进行电压反馈的反馈控制模块；反馈模块连接在待测电容和周边电容之间，充电控制模块与待测电容、周边电容连接；检测控制模块与电容检测单元连接；反馈控制模块与反馈模块连接。优选的是，上述反馈模块为源跟随器。优选的是，上述源跟随器为缓冲器。优选的是，该检测装置还包括用于选择去寄生电容模式和普通模式的模式选择 模块，所述模式选择模块连接在反馈模块和周边电容之间。本技术通过一个反馈模块反馈待测电容的电压到周边电容，减小待测电容与 周边电容之间的寄生电容对电容检测单元的影响，使电容检测装置灵敏度高、检测范围大。附图说明图1是本技术提供的电容检测装置原理图；图2是本技术实施例1提供的电容检测装置电路图；图3是本技术实施例1提供的电容检测装置的控制开关时序波形图；图4是本技术实施例2提供的电容检测装置电路图；图5是本技术实施例2提供的电容检测装置的控制开关时序波形图。具体实施方式为了使本技术所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下 结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施 例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。Capsense系统在接屏应用时，由于屏上寄生电容的存在，系统不仅会对待测电容 进行充放电，同时也会对屏上的寄生电容进行充放电，影响检测范围和系统的灵敏度。本实 用新型内容所述的电容检测装置旨在有效减小电容屏上的寄生电容对CapSense系统接屏 应用时的影响。如图1所示是本技术提供的电容检测装置原理图，其中待测电容11为电容屏 上触摸电容，该电容检测装置包括电容检测单元12、电容屏上待测电容11的周边电容13、 反馈模块14、充电控制模块15、检测控制模块16和反馈控制模块17。电容检测单元12与 待测电容11连接，检测控制模块16与电容检测单元12连接，用于控制电容检测单元12对 待测电容11进行检测；反馈模块14连接在待测电容11和周边电容13之间，反馈控制模块 17与反馈模块14连接，控制反馈模块14将待测电容11的电压反馈到周边电容13的极板 上，消除待测电容11和周边电容13之间的寄生电容对电容检测单元12的影响；充电控制 模块15与待测电容11、周边电容13连接，用于控制电源对待测电容11和周边电容13进行 充电。优选的是上述反馈模块14为源跟随器，所述源跟随器为缓冲器。此缓冲器具有增 大驱动能力的作用，还能隔离反馈电压对电容检测单元12的影响。作为优选方案，该电容检测装置还包括用于选择去寄生电容模式和普通模式的模 式选择模块，所述模式选择模块连接在反馈模块14和反馈控制模块17之间。该电容检测装置通过接入一个由缓冲器和反馈控制模块17组成的反馈电路，使 待测电容11和周边电容13之间产生的寄生电容两极板间的电势在检测的时间段内尽量保 持一致，即在检测的时间里，寄生电容两极板的电势差近似为零，转移的电荷可以近似的相互抵消，寄生电容上没有或仅有少量的电荷转移。这样根据CapSense系统的检测原理，装 置的实际电荷转移只发生在想要检测的电容上。该检测装置可以最大程度减小电容屏上寄 生电容对检测装置的影响，可以有效的提高CapSense系统接屏应用时的检测范围和灵敏度。如图2所示，为本技术实施例1的电路图，虚拟寄生电容Cpar位于待测电容 CxO与周边电容Cxl之间，为描述方便，只考虑与待测电容CxO最近的周边电容Cxl之间的 虚拟寄生电容Cpar，与待测电容CxO邻近的周边电容还有很多，故寄生电容也比较多，可按 照此原理设计电路达到消除其他寄生电容的目的。第一充电开关Sl连接在电源Vcc与第 一节点21之间，待测电容CxO连接在第一节点21与地之间；第二充电开关S2连接在电源 Vcc与第二节点22之间，周边电容Cxl连接在第二节点22与地之间；第一检测开关S3连 接在第一节点21与第三节点23之间，电容检测单元与第三节点23连接；缓冲器buffer连 接在第三节点23与模式选择开关S4之间，模式选择开关S4连接第一反馈开关S5，第一反 馈开关S5连接第二节点22，构成一个反馈电路，减小虚拟寄生电容Cpar对电容检测单元的 影响；接地开关S6连接在第四节点24与地之间。控制开关时序波形如图3所示，该电容检测装置通过开关时序控制第一充电开关 Si、第二充电开关S2对待测电容CxO及周边电容Cxl进行充电；控制第一检测开关S3对待 测电容CxO电压进行检测；控制第一反馈开关S5对待测电容CxO的电压进行反馈；减小虚 拟寄生电容Cpar对电容检测单元的影响；控制模式选择开关S4闭合，选择去寄生电容模 式，控制接地开关S6断开。下面结合图2及图3对该电容检测装置的检测过程进行描述。图3中CLK为时钟波形，PH1、PH2为两相不交叠时钟，由CLk分频产生。S1、S2、S3、 S4、S5、S6分别为第一充本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容检测装置，其中待测电容为电容屏上触摸电容，该电容检测装置包括：电容检测单元，电容检测单元与待测电容连接；其特征在于：所述电容检测装置还包括：电容屏上待测电容的周边电容；将待测电容上电压反馈到周边电容的反馈模块；控制待测电容、周边电容进行充电的充电控制模块；控制电容检测单元对待测电容进行检测的检测控制模块；控制反馈模块进行电压反馈的反馈控制模块；反馈模块连接在待测电容和周边电容之间，充电控制模块与待测电容、周边电容连接；检测控制模块与电容检测单元连接；反馈控制模块与反馈模块连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：樊春胜，纪传瑞，黄臣，杨云，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]