【技术实现步骤摘要】
一种电容测试装置
本技术涉及一种电容测试装置，具体与一种可批量自动测试电容参数，提升电容测试效率的电容测试装置有关。
技术介绍
现有电容测试，采用电容测试仪测试电容参数，但现有的测试方法需要将电容测试仪两个测试端子人工夹住电容两端，再读取测试参数，这样每测试一个电容均需要人工固定电容，测试效率低。
技术实现思路
为解决现有技术中存在的技术问题，本技术提供了一种可批量自动测试电容参数，提升电容测试效率的电容测试装置。本技术解决上述技术问题，所采用的技术方案是:一种电容测试装置，包括电容测试仪，其两端连接测试板，测试板上设有插拨式夹子，待测电容插置到所述的插拨式夹子内定位，所述的测试板内设有时序控制器连接驱动开关，驱动开关连接继电器，继电器连接待测电容，所述的电容测试仪通过相应的继电器与待测电容连接。进一步，所述的驱动开关包括与时序控制器连接由其控制的一组译码器及与译码器连接并由其控制的一组MOS管，一组MOS管，与相应的继电器连接并控制其通断。采用上述技术方案，本技术采用时序控制器控制译码器数据输出信号驱动MOS管开关，继而控制继电器导通，使该继电器所控制待测电容连接至电容测试仪，即可读取待测电容的测试参数。时序控制器输出译码器所需要的数据输入信号，译码器数据输出不同端口按照设定时序处于有效电平，使不同译码器数据输出端口所控制MOS管开通，继而使MOS管所驱动的继电器导通，不同继电器KAn导通不同待测电容Cn，即可达到快速批量测试的目的。【附图说明】此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，...
【技术保护点】
一种电容测试装置，其特征在于：包括电容测试仪（1），其两端连接测试板（2），测试板（2）上设有插拨式夹子（3），待测电容（4）插置到所述的插拨式夹子（3）内定位，所述的测试板（2）内设有时序控制器（5）连接驱动开关（6）,驱动开关（6）连接继电器（7），继电器（7）连接待测电容（4），所述的电容测试仪（1）通过相应的继电器（7）与待测电容（4）连接。
【技术特征摘要】
1.一种电容测试装置，其特征在于:包括电容测试仪(1)，其两端连接测试板(2)，测试板(2)上设有插拨式夹子(3)，待测电容(4)插置到所述的插拨式夹子(3)内定位，所述的测试板(2)内设有时序控制器(5)连接驱动开关(6)，驱动开关(6)连接继电器(7)，继电器(7 )连接待测电容(4)，所述的电容...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑金龙，
申请(专利权)人：泉州市鲤城区强力巨彩光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35
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