本发明专利技术涉及一种元器件自动检测装置，属于自动化领域，一种元器件自动检测装置，包括进料轨道、出料轨道、物料分散限位装置、参数测定装置，物料分散限位装置设置在进料导轨一侧，进料轨道通过物料分散限位装置与测试台连接，出料轨道与测试台另一侧连接，参数测定装置通过设置在测试台侧边的支架延伸至测试台的上方，还包括不良品排除装置和不良品存储盒，不良品排除装置包括感应器和不良品排除拨片，本发明专利技术提供的元器件自动检测装置实现了元器件检测的快速化和自动化，便于连续生产，同时使用机器进行检测和移动，检测过程中不会由于人为原因带入异物干扰检测结果，提高了检测的精度和灵敏度。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种元器件自动检测装置，属于自动化领域，一种元器件自动检测装置，包括进料轨道、出料轨道、物料分散限位装置、参数测定装置，物料分散限位装置设置在进料导轨一侧，进料轨道通过物料分散限位装置与测试台连接，出料轨道与测试台另一侧连接，参数测定装置通过设置在测试台侧边的支架延伸至测试台的上方，还包括不良品排除装置和不良品存储盒，不良品排除装置包括感应器和不良品排除拨片，本专利技术提供的元器件自动检测装置实现了元器件检测的快速化和自动化，便于连续生产，同时使用机器进行检测和移动，检测过程中不会由于人为原因带入异物干扰检测结果，提高了检测的精度和灵敏度。【专利说明】—种元器件自动检测装置
本专利技术属于自动化领域，具体涉及一种元器件自动检测装置。
技术介绍
随着人民生活水平和生活质量的不断提高，家用电器、通讯设备、汽车等的数量和质量不断提高，各种产品都趋向小型化、微型化，这就要求有质量更好、更小的电子元器件，元器件进行加工时，手工操作制造微型元器件往往十分不便，特别是元器件的检测方面，由于检测条件要求比较苛刻，所以才有人工操作不仅效率低下，检测的结果往往达不到工业或者使用的要求，而且不能实现连续化生产。
技术实现思路
为解决现有技术的上述缺陷，本专利技术提供一种元器件自动检测装置，实现了元器件检测的自动化，提高了效率。本专利技术通过以下技术方案实现: 一种元器件自动检测装置，包括进料轨道、出料轨道、物料分散限位装置、参数测定装置，物料分散限位装置设置在进料导轨一侧，进料轨道通过物料分散限位装置与测试台连接，出料轨道与测试台另一侧连接，参数测定装置通过设置在测试台侧边的支架延伸至测试台的上方，还包括不良品排除装置和不良品存储盒，不良品排除装置包括感应器和不良品排除拨片，感应器与参数测定装置电连接，感应器控制不良品排除拨片运动，不良品储存盒与不良品排除拨片分别位于测试台两侧，不良品储存盒内设有与测试台垂直设置的导轨，不良品排除拨片与参数测定装置位于一条直线上靠近出料轨道一侧，不良品排除拨片可以沿不良品储存盒的导轨方向往复运动。不良品储存盒下部设有与出料轨道平行的导轨，不良品存储盒可沿导轨运动。物料分散限位装置为间隔设置的格栅，相邻格栅间设有对应的气缸和顶针，顶针运动将物料从进料轨道顶入测试台。所述测试台上设有与物料分散限位装置上相邻格栅间对应的凹槽。本专利技术的有益效果:本专利技术提供的元器件自动检测装置实现了元器件检测的快速化和自动化，便于连续生产，同时使用机器进行检测和移动，检测过程中不会由于人为原因带入异物干扰检测结果，提高了检测的精度和灵敏度。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术的结构图。【具体实施方式】一种元器件自动检测装置，包括进料轨道10、出料轨道4、物料分散限位装置、参数测定装置1，物料分散限位装置7设置在进料导轨10 —侧，进料轨道10通过物料分散限位装置7与测试台11连接，出料轨道4与测试台11另一侧连接，参数测定装置I通过设置在测试台11侧边的支架延伸至测试台11的上方，还包括不良品排除装置和不良品存储盒6，不良品排除装置包括感应器13和不良品排除拨片3，感应器13与参数测定装置I电连接，感应器13控制不良品排除拨片3运动，不良品储存盒6与不良品排除拨片3分别位于测试台11两侧，不良品储存盒6内设有与测试台11垂直设置的导轨5，不良品排除拨片3与参数测定装置I位于一条直线上靠近出料轨道4 一侧，不良品排除拨片3可以沿不良品储存盒的导轨5方向往复运动。不良品储存盒6下部设有与出料轨道4平行的导轨12，不良品存储盒可沿导轨12运动。物料分散限位装置7为间隔设置的格栅，相邻格栅间设有对应的气缸9和顶针8，顶针8运动将物料从进料轨道10顶入测试台11。所述测试台11上设有与物料分散限位装置7上相邻格栅间对应的凹槽2。【权利要求】1.一种元器件自动检测装置，包括进料轨道、出料轨道、物料分散限位装置、参数测定装置，物料分散限位装置设置在进料导轨一侧，进料轨道通过物料分散限位装置与测试台连接，出料轨道与测试台另一侧连接，参数测定装置通过设置在测试台侧边的支架延伸至测试台的上方，其特征在于:还包括不良品排除装置和不良品存储盒，不良品排除装置包括感应器和不良品排除拨片，感应器与参数测定装置电连接，感应器控制不良品排除拨片运动，不良品储存盒与不良品排除拨片分别位于测试台两侧，不良品储存盒内设有与测试台垂直设置的导轨，不良品排除拨片与参数测定装置位于一条直线上靠近出料轨道一侧，不良品排除拨片可以沿不良品储存盒的导轨方向往复运动。2.根据权利要求1所述的一种元器件自动检测装置，其特征在于:不良品储存盒下部设有与出料轨道平行的导轨，不良品存储盒可沿导轨运动。3.根据权利要求1所述的一种元器件自动检测装置，其特征在于:物料分散限位装置为间隔设置的格栅，相邻格栅间设有对应的气缸和顶针，顶针运动将物料从进料轨道顶入测试台。4.根据权利要求3所述的一种元器件自动检测装置，其特征在于:所述测试台上设有与物料分散限位装置上相邻格栅间对应的凹槽。【文档编号】G01R31/01GK103743986SQ201310722104【公开日】2014年4月23日 申请日期:2013年12月24日 优先权日:2013年12月24日 【专利技术者】宗斌, 李仁峰 申请人:安徽省明光市爱福电子有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种元器件自动检测装置，包括进料轨道、出料轨道、物料分散限位装置、参数测定装置，物料分散限位装置设置在进料导轨一侧，进料轨道通过物料分散限位装置与测试台连接，出料轨道与测试台另一侧连接，参数测定装置通过设置在测试台侧边的支架延伸至测试台的上方，其特征在于：还包括不良品排除装置和不良品存储盒，不良品排除装置包括感应器和不良品排除拨片，感应器与参数测定装置电连接，感应器控制不良品排除拨片运动，不良品储存盒与不良品排除拨片分别位于测试台两侧，不良品储存盒内设有与测试台垂直设置的导轨，不良品排除拨片与参数测定装置位于一条直线上靠近出料轨道一侧，不良品排除拨片可以沿不良品储存盒的导轨方向往复运动。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：宗斌，李仁峰，
申请(专利权)人：安徽省明光市爱福电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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