一种电阻式双测杆对接平整度检测仪制造技术

一种电阻式双测杆对接平整度检测仪，包括壳体、上盖、左右两个测杆、测头、壳体内壁上的导轨，左右两个测杆上分别设有绝缘块，并分别设有沿导轨移动的滑块，左右两个测杆之间设有与其相平行的滑线电阻，滑线电阻两侧对称设有分别与设在左右两个测杆上的绝缘块相连的滑片，滑线电阻的两端固定在与外壳内壁连接的绝缘固定座，上盖上设有采集、处理两个测杆相对位移信号的信号处理器。可同时测量对接的两块被测结构件；被测结构件检测表面的高度差将导致两个滑片间滑线电阻的长度变化，通过电压比较器将电压信号与设定值比较，根据比较结果发出动作信号，并通过绿色和红色发光二极管发光状态显示是否满足检测要求。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种对接平整度检测仪，尤其是用于曲面、平面、回转体等结构件 对接过程中对接平齐度检测的电阻式双测杆对接平整度检测仪。
技术介绍
目前大多对接平整度的检测采用靠模检测法，即工人用平齐度较高的直板，比对 接在一起的板材是否在同一平面上。这种检测方法无法保证精度，劳动强度大，费时费力， 也不利于自动化生产。另一种用的较多的方法是用百分表等单测杆的量具分别测两块板材 距固定的测量装置的距离。这种方法操作过程繁琐，效率较低。
技术实现思路
本技术的目的是克服已有技术中的不足，提供一种结构简单、对接平齐度检 测精度高，检测速度快，省时省力，利于自动化生产的电阻式双测杆对接平整度检测仪。本技术的电阻式双测杆对接平整度检测仪，包括壳体、设在壳体顶部的上盖， 壳体内对称设有头部伸出壳体底板的左右两个测杆，左右两个测杆的头部分别设有测头， 壳体内左右两个测杆的外侧分别设有固定于壳体内壁上的导轨，左右两个测杆上分别设有 绝缘块，并分别设有沿导轨移动的滑块，左右两个测杆之间设有与其相平行的滑线电阻，滑 线电阻两侧对称设有分别与设在左右两个测杆上的绝缘块相连的滑片，两个滑片上分别连 接有接线头，滑块的底部设有弹簧，壳体的上端部固定有穿套左右两个测杆的定位板，滑线 电阻的两端设有分别固定在定位板和壳体底部的绝缘固定座，上盖上设有采集、处理两个 测杆相对位移信号的信号处理器。所述的壳体底部设有分别引导左右两个测杆下部导向的下导向套；所述的定位板 上设有分别引导左右两个测杆上部导向的上导向套；所述的信号处理器包括电压比较器、 与电压比较器相连的红色、绿色发光二极管和动作信号输出端口。有益效果采用双测杆结构，可同时测量对接的两个被测结构件；将被测结构件 检测表面的高度差转化为两个滑动触头间电阻丝的长度，即电阻值，并将电阻值变化转化 为电压信号变化；通过电压比较器可将电压信号，与设定值比较，并根据比较结果发出动作 信号。能够检测曲面、平面、回转体等结构件的对接平整度，尤其对回转体的对接检测效果 突出，适用于自动化生产，其结构简单、测量精度高，操作方便，造价低廉。附图说明图1是本技术的结构示意图。图2是本技术的信号处理器原理框图。图中1-被测结构件，2-测头，3-外壳，4-滑块，5-滑片，6-滑线电阻，7-上盖， 8-信号处理器，9-测杆，10-接线头，11-导轨，12-绝缘块，13-弹簧，14-绝缘固定座，15-下 导向套，16-定位板，17-上导向套，18-动作信号输出端口。具体实施方式下面结构附图对本技术的一个实施例作进一步的描述如图1所示，电阻式双测杆对接平整度检测仪主要由测头2、壳体3、滑片5、滑线电 阻6、信号处理器8、测杆9、绝缘块12、弹簧13构成，壳体3的顶部设有上盖7，壳体3内对 称设置头部伸出壳体底板的左右两个测杆9，左右两个测杆9的头部分别设有测头2，壳体 3内两侧内壁上分别设有开有凹槽的导轨11，导轨11的凹槽内分别设有固定在左右两个测 杆9上的滑块4，滑块4沿导轨11上下移动，左右两个测杆9之间设有滑线电阻6，滑线电 阻6与左右两个测杆9相平行，滑线电阻6两侧对称设有两个滑片5，两个滑片5分别与设 在左右两个测杆9上的绝缘块12相连，两个滑片5上分别连接有接线头10，左右两个测杆 9上分别设有绝缘块12，滑块4的底部设有弹簧13，壳体3的上端部固定有穿套左右两个测 杆9的定位板16，定位板16上设有分别引导左右两个测杆9上部导向的上导向套17。滑 线电阻6的两端设有分别固定在定位板16和壳体3底部的绝缘固定座14，上盖7上设有采 集、处理两个测杆相对位移信号的信号处理器8。壳体3底部设有分别引导左右两个测杆9 下部导向的下导向套15。信号处理器8包括电压比较器，电压比较器的型号为LM393。电 压比较器上分别连有红色、绿色发光二极管及动作信号输出端口 18，如图2所示。工作原理及过程两个测头2与对接缝隙两侧的被测结构件1分别接触。为保持 始终接触并保证及时复位，弹簧13维持一定的拉伸量。在运动过程中，随着两侧被测结构 件1高度差值的波动，两个测头2随之波动，带动测杆9产生轴向位移。由于测杆9上固定 有滑块4，使测杆9沿着导轨11方向往复移动。当两个对接被测结构件1的表面存在高度 差值时，就会导致固定在两个测杆9上的两个绝缘块12间的轴向错位，从而使分别固定在 两个绝缘块12上的滑片5发生轴向错位，通过连接在滑片5上接线头10将两个滑片5之 间轴向错位转化为电压信号输入给信号处理器8，通过信号处理器8中的电压比较器，将电 压信号与设定值(允许高度差值)比较，根据比较结果通过动作信号输出端口 18向执行机 构发出动作信号，同时通过绿色和红色发光二极管的发光状态显示是否满足检测要求，红 色发光二极管发光表示超出设定值，绿色发光二极管发光表示不超出设定值。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻式双测杆对接平整度检测仪，其特征在于：它包括壳体（３）、设在壳体（３）顶部的上盖（７），壳体（３）内对称设有头部伸出壳体底板的左右两个测杆（９），左右两个测杆（９）的头部分别设有测头（２），壳体（３）内左右两个测杆（９）的外侧分别设有固定于壳体（３）内壁上的导轨（１１），左右两个测杆（９）上分别设有绝缘块（１２），并分别设有沿导轨（１１）移动的滑块（４），左右两个测杆（９）之间设有与其相平行的滑线电阻（６），滑线电阻（６）两侧对称设有分别与设在左右两个测杆（９）上的绝缘块（１２）相连的滑片（５），两个滑片（５）上分别连接有接线头（１０），滑块（４）的底部设有弹簧（１３），壳体（３）的上端部固定有穿套左右两个测杆（９）的定位板（１６），滑线电阻（６）的两端设有分别固定在定位板（１６）和壳体（３）底部的绝缘固定座（１４），上盖（７）上设有采集、处理两个测杆相对位移信号的信号处理器（８）。

【技术特征摘要】
1.一种电阻式双测杆对接平整度检测仪，其特征在于它包括壳体(3)、设在壳体(3) 顶部的上盖(7)，壳体(3)内对称设有头部伸出壳体底板的左右两个测杆(9)，左右两个测 杆(9)的头部分别设有测头O)，壳体(3)内左右两个测杆(9)的外侧分别设有固定于壳 体(3)内壁上的导轨(11)，左右两个测杆(9)上分别设有绝缘块(12)，并分别设有沿导轨 (11)移动的滑块G)，左右两个测杆(9)之间设有与其相平行的滑线电阻(6)，滑线电阻 (6)两侧对称设有分别与设在左右两个测杆(9)上的绝缘块(12)相连的滑片(5)，两个滑 片(5)上分别连接有接线头(10)，滑块的底部设有弹簧(13)，壳体(3)的上端部固定 有穿套左右两个测杆(9...

【专利技术属性】
技术研发人员：张磊，姚群海，朱真才，杨根喜，马孝直，刘刚，王道强，李清民，李宾，
申请(专利权)人：中天仕名徐州重型机械有限公司，中国矿业大学，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]