中央接线盒测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种中央接线盒测试装置，包括总控模块、多个次级控制模块、多路电子负载电路，每一次级控制模块控制一路或多路电子负载电路，总控模块发出命令控制各次级ＭＣＵ控制模块，各次级控制模块根据总控制模块的命令发出电信号从而控制相应电子负载电路电流的大小，电子负载电路的总路数至少与被测中央接线盒所包含的元件的数目相等，中央接线盒的每个元件分别串接于不同的电子负载电路。通过控制电子负载电路电流真实模拟中央接线盒正常工作时的电流情况，通过利用控制模块可控制多个电子负载电路以及电子负载电路电流可调的特点，实现了能对不同的中央接线盒进行测试的中央接线盒测试装置。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种车用中央接线盒测试装置，主要用于车用中央接线盒耐过电流强度性能测试。
技术介绍
中央接线盒是是汽车上一个很重要的零部件。中央接线盒作为很多电器零部件的配电盒，集成了大量的保险丝、继电器等元件。工作时这些元件会流过很大的电流，且会产生大量热量，导致中央接线盒温度升高，严重时会烧坏这些元件。中央接线盒的好坏直接影响到汽车的操作稳定性、安全性以及耐久性。所以，车用中央接线盒在装车之前都必须经过严格试验。试验包括元件压降、过电流、盐务酸试验等，其中过电流尤其重要。 对中央接线盒进行耐过电流测试时，一般是将中央接线盒中各元件分别串接入相应的电路中，使得有一定大小的电流流过各元件；为了更好的模拟实际中中央接线盒的工作情况，在测试过程中并不是使得每个元件都同时有电流经过，而是让部分元件有电流经过，然后在不同的时刻切换电流经过的元件，从而测试中央接线盒在损坏前所能工作的时间。若该时间越长，则表明中央接线盒的耐过电流性能越好；相反，则耐过电流性能越差。 然而，要考核不同车型所用的中央接线盒的耐过电流强度性能并非易事。 一是每款车型所用的车用中央接线盒差别很大，接口不同，要实现通用的测试很难；二是因为测试车用中央接线盒时需要提供很多路且电流各不相同的电路，如果用车上配套的实际负载， 不但成本高，而且不适用于研发产品；如果用大功率电阻模拟，则很难满足对特殊电阻值的 要求。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是，针对现有技术中中央接线盒的测试装置的通 用性差问题，从而提供一种通用性好、能够对多种中央接线盒进行测试的中央接线盒测试 装置。 本技术所采用的技术方案是，一种中央接线盒测试装置，包括总MCU控制模 块、多个次级MCU控制模块、多路电子负载电路、与各电子负载电路电连接并采集其电流的 电流采集电路以及相应的电流显示单元，所述总MCU控制模块分别与各次级MCU控制模块 电连接，每一次级MCU控制模块与一路或多路电子负载电路电连接，所述各次级MCU控制模 块根据总MCU控制模块的命令发出电信号从而控制相应电子负载电路电流的大小，所述电 子负载电路的总路数至少与被测中央接线盒所包含的待测元件的数目相等，中央接线盒的 各待测元件分别串接于各电子负载电路中，所述次级MCU控制模块接收电流采集电路的输 出信号并控制电流显示单元显示各电子负载电路的电流。 本技术通过利用总MCU控制模块以及次级MCU控制模块来同时控制多路电子 负载电路，充分的利用了电子负载电路电流可调的特点以及MCU控制模块可同时控制多路 电子负载电路的特点，从而达到了真实的模拟中央接线盒在正常工作时的通电情景，通过3观察中央接线盒在模拟情况下所能进行工作的时间而测出其耐过电流强度性能；因为电子负载电路电流可根据实际需要而调节，所以可对不同的中央接线盒进行测试，从而实现了可通用的特点。附图说明图1为本技术中央接线盒测试装置的总的框架示意图； 图2为本技术优选的一种中央接线盒测试装置电子负载电路原理图； 图3为电流指令的滤波电路的原理图； 图4为电流采集电路的原理图； 图5为电压反馈电路的原理图； 图6为电压采集电路的原理具体实施方式如图1所示，为本技术中央接线盒测试装置的总框架示意图，总MCU控制模块下电连接有多个次级MCU控制模±央，每个次级MCU控制模块下电连接有多个电子负载电路，每一路电子负载只受一个次级MCU控制模块控制，电子负载电路的路数至少应与所测试的中央接线盒所包含的待测元件(如保险丝、继电器)的数目相等，每个次级MCU控制模块所能控制的电子负载电路的路数是由MCU芯片自身决定的，因而电子负载电路的路数也就决定了次级MCU控制模块的数量，每个次级MCU控制模块可以控制最多数量的电子负载电路，也可以只控制一路或者几路电子负载，实际中可根据所测的中央接线盒所包含的待测元件个数合理选择次级MCU控制模块的数量以及每个次级MCU控制模块下所控制的电子负载电路的数量；次级MCU控制模块向其所控制的电子负载电路发出电信号从而调节相应电子负载电路电流的大小，如何调节将在下文详细描述；总MCU控制模块与各次级MCU控制模块之间以CAN总线实现通讯，总MCU控制模块通过CAN总线向各次级MCU控制模块发出控制各电子负载电路电流的指令，各次级MCU控制模块接收到总MCU控制模块所发的指令后进行分析、解码，然后向相应的电子负载电路发送电流指令，从而控制相应电子负载电路电流的大小；中央接线盒的每个元件分别串接于不同的电子负载电路中，从而使得流过电子负载的电流与流过与该电子负载串接的元件的电流相等，因此控制流过电子负载的电流也就控制了流过相应中央接线盒元件的电流；与每一电子负载电路还对应设有电流采集电路，用于采集流过相应电子负载电路的电流(也即是流过相应中央接线盒元件的电流)；电流采集电路将采集到的电流信号发送给次级MCU控制模块；次级MCU控制模块下还接有数量与电子负载电路的路数相等的电流显示单元，这些电流显示单元分别用来显示各电子负载电路的电流大小。 测试时，通过设定的程序，总MCU控制模块向各次级MCU控制模块发送指令使得相应的电子负载电路导通，并使得相应的电子负载电路的电流与该电路中所串接的中央接线盒的元件的额定电流相同，然后在不同的时刻分别切换需要导通的电子负载电路导通，以便对不同的元件进行测试。电流采集电路不停地采集相应电子负载电路的电流并将电流反馈给次级MCU控制模块，次级MCU控制模块控制电流显示单元显示相应的电流值，若电流显示单元所显示数值与相应电子负载电路中的元件的额定电流相同，则表明此时中央接线盒处于正常工作状态；当电流显示单元所显示的电流大小与预先设定的值不相符且相差很大 或没有显示时，此时便可判断串接于该电子负载电路的元件已损坏，也即中央接线盒已损 坏，因此，根据该中央接线盒所能正常工作的时间即可判断出中央接线盒的耐过电流强度 性能。 如图2所示，为本技术优选的一种电子负载电路的原理图，该电子负载电路 的元件主要包括一 M0S管及部分电阻，MOS管的漏极1接于中央接线盒的一个元件的一端， 该元件的另一端接到一恒压源，MOS管的源级2通过一接地电阻3接地，从而恒压源的电压 经过中央接线盒的待测元件而加在了M0S管的漏极与源级以及接地电阻3上，M0S管的栅极 4接收由次级MCU控制模块发送的电流指令，该电流指令能够控制MOS管的电阻的大小，因 而次级模块只要改变电流指令的大小，即可改变MOS管电阻的大小；该电流指令值越大，则 MOS管的电阻也越大；相反，则MOS管的电阻小。因为加在MOS管和接地电阻3上的电压是 一定的，根据欧姆定律，所以当电流指令改变使得MOS管电阻改变后流过MOS管的电流也就 跟着改变了 ；又因中央接线盒的元件是串接在恒压源与MOS管之间的，所以流过中央接线 盒元件的电流也跟着变化。因此可以预先确定中央接线盒的哪个元件与哪个电子负载电路 连接，根据中央接线盒各元件的所能承受的电流的不同，从而总MCU控制模块在给相应次 级MCU控制模块发送命令时便可预先确定次级MCU所要发送给MOS管的电流指令的大小， 如此便可对中央接线盒的不同元件同时进行测试了。为了防止电子负载电路中的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种中央接线盒测试装置，其特征在于，包括总ＭＣＵ控制模块、多个次级ＭＣＵ控制模块、多路电子负载电路、与各电子负载电路电连接并采集其电流的电流采集电路以及相应的电流显示单元，所述总ＭＣＵ控制模块分别与各次级ＭＣＵ控制模块电连接，每一次级ＭＣＵ控制模块与一路或多路电子负载电路电连接，所述各次级ＭＣＵ控制模块根据总ＭＣＵ控制模块的命令发出电信号从而控制相应电子负载电路电流的大小，所述电子负载电路的总路数至少与被测中央接线盒所包含的待测元件的数目相等，中央接线盒的各待测元件分别串接于各电子负载电路中，所述次级ＭＣＵ控制模块接收电流采集电路的输出信号并控制电流显示单元显示各电子负载电路的电流。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：龙光展，罗刚，庞雷，陈胜波，刘健，陈军，梁国虎，孟钊，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94[中国|深圳]