本发明专利技术提供一种用于将位于电子测试机的多个测试模块处的每一测试位置校准到标准化值的补偿工具和过程。每一测试模块位于从相关联中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上，且具有用于测试电子组件的多个触点。所述补偿工具包括：具有旋转轴线的主体，其可共轴地与所述中心轴线对准以用于旋转到不同角位置；以及组件支撑部件，其可操作地与所述主体相关联以用于转位移动，以选择性地与同每一测试位置相关联的不同触点对准。所述组件支撑部件包括凹穴，其用于接纳具有终止端的电子组件，所述终止端向外延伸以允许在每一测试位置处的电接触和测试。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于将包括具有用于测试电子组件的多个触点的至少一个测试 模块的电子测试机(例如，多层陶瓷电容器(MLCC))校准到标准化值的设备和方法。
技术介绍
普遍已知提供可手动置于测试板的特定测试凹穴中且在单一触点台处经电测试 的具有已知值的多层陶瓷电容器(MLCC)。接着电容器循环通过其它测试台，离开测试板， 恢复，且被置于下一测试台的位置。重复此过程直到已针对每一测试台记录电容器的值为 止。此当前用于标准补偿的过程在零件跨越多个触点移动，离开测试板，恢复，且重复所述 过程时引起对MLCC的终止端的某些机械磨损。由于机械损坏的缘故，与在第一台中经测试 时MLCC所具有的电特性相比，在最终台中经测试时MLCC可具有不同的电特性。
技术实现思路
将需要提供一种经由组件测试器上的多个测试台测试单一组件(例如，多层陶瓷 电容器(MLCC))而不会对电容器的终止端引起不当损坏且无错过电容器的风险的方法。将 需要此程序以将机器参数校准到随后可用作标准化值的特定值。如本文所描述，电子测试机包括多个测试模块。每一测试模块位于从相关联中心 轴线延伸的有角度间隔的径向线上且具有用于测试电子组件的多个触点。一种用于将电子 测试机的多个测试模块校准到标准化值的补偿工具可包括具有旋转轴线的主体，其可共 轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置；以及 组件支撑部件，其可操作地与主体相关联用于转位移动，以选择性地与同位于多个测试模 块中的每一者处的每一测试位置相关联的触点对准。组件支撑部件可包括凹穴，其用于接 纳具有终止端的电子组件，所述终止端向外延伸以允许位于多个测试模块中的每一者处的 每一测试位置的电接触和测试。本文还教示一种用于通过补偿工具将电子测试机中的多个测试模块校准到标准 化值的过程或方法。每一测试模块位于从相关联中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上且 具有用于测试电子组件的多个触点。所述过程可包括啮合具有旋转轴线的主体，所述主体 可共轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置。 所述过程还可包括使组件支撑部件相对于主体转位，以选择性地与同位于多个测试模块中 的每一者处的每一测试位置相关联的触点对准。组件支撑部件可包括至少一个凹穴，其用 于接纳具有终止端的电子组件，所述终止端向外延伸以允许位于多个测试模块中的每一者 处的每一测试位置的电接触和测试。当结合附图阅读以下描述时，所属领域的技术人员将了解本专利技术的这些和其它应 用中的变化。附图说明本文的描述参照附图，附图中贯穿于若干视图，相同参考标号指代相同零件，且其 中图1是具有旋转轴线的主体和组件支撑部件的透视图，所述主体共轴地与同多个 测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置，所述组件支撑部件 用于转位移动以选择性地与同位于电子测试机的多个测试模块中的每一者处的每一测试 位置相关联的不同触点对准；图2是图1的主体和组件支撑部件的放大详细透视图；图3是与图1的主体可操作地相关联的组件支撑部件的放大详细透视图；图4A是图1的主体和组件支撑部件在相对于电子测试机的测试模块的测试位置 处的部分透视图；图4B是与图1的主体相关联且位于经径向和弓状地转位的多个测试位置的一者 处的组件支撑部件的放大详细透视图；图5是图1和图2的主体的放大详细视图，其说明用于啮合组件支撑部件的对应脊 或挡止件以用于将组件支撑部件固持于多个经转位测试位置的一者处的轨道转位掣子；图6A是沿图3中的线6A-6A截取的组件支撑部件的横截面图；图6B是沿图3中的线6B-6B截取的组件支撑部件的横截面图；图6C是沿图3中的线6C-6C截取的组件支撑部件的横截面图；图7是具有位于从中心轴线延伸的径向线上的至少一个测试模块和用于测试电 子组件的多个触点的电子测试机的简化透视图；图8是具有旋转轴线的主体和可径向移动的组件支撑部件的简化分解透视图，所 述主体共轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角 位置，所述可径向移动的组件支撑部件用于转位移动以选择性地与同位于电子测试机的多 个测试模块中的每一者处的每一测试位置相关联的不同触点对准；图9是图8的主体和组件支撑部件的装配详细透视图；图IOA和IOB是由组件支撑部件载运的可能替代性凹穴的简化透视图；以及图11是具有旋转轴线的主体和可有角度旋转的组件支撑部件的简化透视图，所 述主体共轴地与同多个测试模块相关联的中心轴线对准以用于绕旋转轴线旋转到不同角 位置，所述可有角度旋转的组件支撑部件用于转位移动以选择性地与同位于电子测试机的 多个测试模块中的每一者处的每一测试位置相关联的不同触点对准。具体实施例方式简要地参看图6B、图6C和图7，电子测试机10具有测试模块12的至少一个上部 触点14和至少一个下部触点15。每一测试模块12可位于从相关联中心轴线延伸的有角度 间隔的径向线上，且具有用于测试电子组件的相对触点对14、15。生产测试板或盘20可包 括多个凹穴54(由图1中的实例部分展示)。每一凹穴54将电子组件32载运到待电插入 于测试模块12的上部触点14与下部触点15之间的测试位置28，以便在电子组件32上执 行一个或一个以上测试。测试板20可绕其中心轴线旋转，以将电子组件32转移到测试位 置28以及从测试位置28转移电子组件32，所述测试位置28与不同测试模块12的对应上部触点14和下部触点15相关联。现参看图1到图4B和图7，用于将电子测试机10的多个测试模块12校准到标准 化值的补偿工具16包括具有旋转轴线的主体22，所述主体22可共轴地与同多个测试模块 12相关联的中心轴线对准，以用于绕旋转轴线旋转到不同角位置。中心轴线可由测试板20 的中心轴18界定。借助实例而非限制，如图1到图6C中所说明，主体22包括与其相关联的 槽24。如图8和图9所示，主体22还可包括具有与其相关联的槽24a的安装(mounting) 部分22a。借助实例而非限制，例如图1到图6C或图8到图9中所说明，组件支撑部件26、 26a为滑件(slide)，其可在与主体22相关联的槽24、24a内啮合，用于转位移动以选择性 地与同位于多个测试模块12中的每一者处的每一测试位置28相关联的不同触点14对准。 组件支撑部件26、26a包括凹穴30，其用于接纳具有终止端34的电子组件32，所述终止端 34向外延伸以允许在多个测试模块12中的每一者处的电接触和测试。单一电子组件32可有角度且径向地与同多个测试模块12中的每一者的每一测试 位置28相关联的触点14、15对准。针对位于多个测试模块12中的每一者处的每一测试位 置28记录单一电子组件32的值的读数。基于针对单一电子组件32所读取的已记录值校 准每一测试位置28。如图3、图5、图6A和图6B所示，主体22和组件支撑部件26界定允许组件支撑部 件26相对于主体22转位移动的相对互补界面38、36。借助实例而非限制，如图5中最佳所 见，多个轨道转位掣子40沿主体22和组件支撑部件26的相对界面38、36之间的槽24的表 面定位。至少一个挡止件44(参见图6C)与对应于电子组件32的每一径向间隔的测试位 置28的至少一个掣子40本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：斯科特L蔡尔德，尼克A塔布斯，
申请(专利权)人：电子科学工业有限公司，
类型：发明
国别省市：US
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