一种贴片X2电容器制造技术

技术编号:46590250 阅读:1 留言:0更新日期:2025-10-10 21:24
本发明专利技术公开了一种贴片X2电容器,包括塑封体、多层陶瓷介质、第一金属引脚、第二金属引脚和多层陶瓷介质外电极;塑封体与多层陶瓷介质外电极连接,其内部形成空腔,多层陶瓷介质设置于塑封体与多层陶瓷介质外电极形成的空腔内,第一金属引脚和第二金属引脚相对设置,第一金属引脚与多层陶瓷介质外电极一侧焊接电气导通,第二金属引脚与多层陶瓷介质外电极另一侧焊接电气导通,贴片X电容器为SMD封装。本发明专利技术通过在多层陶瓷介质两边设置外电极,并通过引脚连接外电极,在两电极层间产生电场,使得两引脚间产生效应,通过选用多层陶瓷介质和SMD封装,使贴片X2电容器在保证容值的基础上,具有体积小、产品尺寸更加标准化、装配效率高、良品率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于电容器,具体涉及一种贴片x2电容器。


技术介绍

1、x2电容是一种安规电容,主要用于抑制交流电路中的差模干扰,同时也可用于阻容降压等场景。目前,市面上的x2电容多为薄膜电容,其介质材料为金属化聚丙烯薄膜(mkp)、金属化聚乙烯萘酯(pen)、金属化聚酯薄膜(pet)。

2、现有技术采用这些介质材料有如下缺陷:1.金属化聚丙烯薄膜(mkp)耐高温能力有限,机械强度低,易受振动和机械应力损伤;对湿度也较为敏感,长期在高湿环境下可能降低绝缘电阻;该介质材料的x2电容有优异的自愈能力,但多次自愈后容量可能会下降,影响在高频下的性能;2.金属化聚乙烯萘酯(pen)与金属化聚丙烯薄膜(mkp)比较,介电损耗更大,在高频下发热更明显;同时自愈能力和温度稳定性都较差;但是pen的成本比mpk的贵30%~50%,性价比低;3.金属化聚酯薄膜(pet)高频下损耗显著,发热严重,不适合高频电路;同时,其耐压能力较弱,相同体积下耐压比mpk低;自愈性差,击穿后容易形成永久性短路点,可靠性较低;温度稳定性表现也较差。

3、上述三种x2电容的均是本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种贴片X2电容器,其特征在于:包括塑封体(1)、多层陶瓷介质(2)、第一金属引脚(3)、第二金属引脚(4)和多层陶瓷介质外电极(5);所述塑封体(1)与多层陶瓷介质外电极(5)连接,其内部形成空腔,所述多层陶瓷介质(2)设置于塑封体(1)与多层陶瓷介质外电极(5)形成的空腔内,所述第一金属引脚(3)和第二金属引脚(4)相对设置,所述第一金属引脚(3)与多层陶瓷介质外电极(5)一侧焊接电气导通,所述第二金属引脚(4)与多层陶瓷介质外电极(5)另一侧焊接电气导通,所述贴片X2电容器为SMD封装。

2.根据权利要求1所述的一种贴片X2电容器,其特征在于:所述第一金属引脚(3)...

【技术特征摘要】

1.一种贴片x2电容器,其特征在于:包括塑封体(1)、多层陶瓷介质(2)、第一金属引脚(3)、第二金属引脚(4)和多层陶瓷介质外电极(5);所述塑封体(1)与多层陶瓷介质外电极(5)连接,其内部形成空腔,所述多层陶瓷介质(2)设置于塑封体(1)与多层陶瓷介质外电极(5)形成的空腔内,所述第一金属引脚(3)和第二金属引脚(4)相对设置,所述第一金属引脚(3)与多层陶瓷介质外电极(5)一侧焊接电气导通,所述第二金属引脚(4)与多层陶瓷介质外电极(5)另一侧焊接电气导通,所述贴片x2电容器为smd封装。

2.根据权利要求1所述的一种贴片x2电容器,其特征在于:所述第一金属引脚(3)和第二金属引脚(4)分别包括一体成型的连接部(6)、延伸部(7)和焊接部(8),所述延伸部(7)一端连接连接部(6),另一端连接焊接部(8),所述第一金属引脚(3)和第二金属引脚(4)的连接部(6)均为为平板状,所述连接部(6)分别与所述多层陶瓷介质外电极(5)焊接电气导通。

3.根据权利要求2所述的一种贴片x2电容器,其特征在于:所述延伸部(7)为平板状,所述延伸部(7)的端面凸出于所述塑封体(1)。

4.根据权利要求2所述的一种贴片x2电容器,其特征在于:所述焊接部(8)整体为倒l型状,焊接部(8)的短边为平...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘世军唐贾林
申请(专利权)人:四川特锐祥科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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