压力传感器校准方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:46567232 阅读:0 留言:0更新日期:2025-10-10 21:16
本申请涉及器件校准技术领域,公开一种压力传感器校准方法、装置、设备及介质。该方法包括:响应于接收到的校准指令,控制校准气源对多个压力传感器进行负压测试、常压测试和高压测试,得到相应的目标气压检测值;基于目标气压检测值对各压力传感器进行参数校准。本申请实施例可以准确且高效地对多个压力传感器进行校准。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及器件校准,尤其是一种压力传感器校准方法、装置、设备及介质


技术介绍

1、在压力传感器的生产和使用过程中,需要对其进行校准,以确保压力传感器的测量精度和可靠性。在实际应用场景中,如汽车制造和航空航天等领域,需要准确且高效地对多个压力传感器进行校准。然而,目前的校准方案在面对大量压力传感器的校准任务时,不仅耗费时间长,而且由于人工干预较多,容易引入误差,难以保证校准结果的一致性和准确性。


技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种压力传感器校准方法、装置、设备及介质,可以准确且高效地对多个压力传感器进行校准。

2、本申请实施例提供一种压力传感器校准方法,包括:

3、响应于接收到的校准指令,控制校准气源对多个压力传感器进行负压测试、常压测试和高压测试,得到相应的目标气压检测值;所述校准气源包括负压气源、常压气源和用于提供高于常压的气压的高压气源;

4、基于所述目标气压检测值对各所述压力传感器进行参数校准。

5、在一些实施例中,对所述压力传感器进行负压测试的方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种压力传感器校准方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的压力传感器校准方法,其特征在于,对所述压力传感器进行负压测试的方法,包括:

3.根据权利要求1所述的压力传感器校准方法,其特征在于,对所述压力传感器进行常压测试的方法,包括:

4.根据权利要求1所述的压力传感器校准方法,其特征在于,对所述压力传感器进行高压测试的方法,包括:

5.根据权利要求1所述的压力传感器校准方法,其特征在于,所述基于所述目标气压检测值对各所述压力传感器进行参数校准,包括:

6.根据权利要求5所述的压力传感器校准方法,其特征在于,所述对所...

【技术特征摘要】

1.一种压力传感器校准方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的压力传感器校准方法,其特征在于,对所述压力传感器进行负压测试的方法,包括:

3.根据权利要求1所述的压力传感器校准方法,其特征在于,对所述压力传感器进行常压测试的方法,包括:

4.根据权利要求1所述的压力传感器校准方法,其特征在于,对所述压力传感器进行高压测试的方法,包括:

5.根据权利要求1所述的压力传感器校准方法,其特征在于,所述基于所述目标气压检测值对各所述压力传感器进行参数校准,包括:

6.根据权利要求5所述的压力传感器校准方法,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:钟志刚覃凡忠王子龙郭航陈浩
申请(专利权)人:深圳市恒永达科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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