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本申请涉及器件校准技术领域,公开一种压力传感器校准方法、装置、设备及介质。该方法包括:响应于接收到的校准指令,控制校准气源对多个压力传感器进行负压测试、常压测试和高压测试,得到相应的目标气压检测值;基于目标气压检测值对各压力传感器进行参数校...该专利属于深圳市恒永达科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市恒永达科技股份有限公司授权不得商用。
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