一种触摸屏测试系统及方法技术方案

本发明专利技术适用于触摸屏测试领域，提供了一种触摸屏测试系统及方法，所述系统包括依次连接的待测触摸屏，触摸屏连接模块、触摸屏驱动模块、单片机以及显示模块。本发明专利技术触摸屏测试系统体积小、操作方便、使得检测触摸屏的成本大大降低、极大的提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于触摸屏测试
，尤其涉及。技术背景当今，随着市场的成熟化，企业与企业之间的竟争越来越激烈，企业的单 个产品的利润越来越少，企业之间的竟争不仅仅取决与定单的多少，特别是受 到市场的饱和以及金融危机的影响，成本意识越来越受到企业的重视，减少了 成本就意味着增加了利润，减少了产品的制造成本，就更有竟争力，企业就能 有更好的发展。现有技术中，在触摸屏检测
，检测触摸屏的仪器大都是以电脑为 主，利用电脑软件对触摸屏进行电气功能性测试，但是这种方法成本高、体积 大、不便携带。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种触摸屏测试系统，旨在解决现有技术中 对触摸屏进行电气功能性测试，成本高、体积大、不便携带的问题。本专利技术实施例是这样实现的， 一种触摸屏测试系统，所述系统包括依次连 接的待测触摸屏，触摸屏连接模块、触摸屏驱动模块、单片机以及显示模块。本专利技术的另 一 目的在于提供一种触摸屏测试方法，所述方法包括以下步骤 单片机驱动显示模块显示；当在待测触摸屏上有触摸动作时，触摸屏驱动模块将待测触摸屏的电阻值 信号发送到单片机；单片机接收触摸屏驱动模块发出的电阻值信号，并将所述电阻值信号处理为图片数据；单片机将所述图片数据传送到显示模块显示。 本专利技术通过使用单片机对待测触摸屏进行检测，体积小、操作方便、使得 检测触摸屏的成本大大降低、极大的提高了检测效率。附图说明图1是本专利技术实施例提供的触摸屏测试系统的组成结构图；图2是本专利技术实施例提供的触摸屏测试系统的机械结构图；图3是本专利技术实施例提供的触摸屏测试系统机械结构中PCB的结构图；图4是本专利技术实施例提供的触摸屏测试方法的流程图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实 施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅 仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术利用单片机通过编写触摸屏的测试程序，使用触摸笔在触摸屏上动 作的同时在显示模块上显示相应的图片来确认待测触摸屏的性能的好坏。请参阅图1,该图示出了本专利技术实施例提供的触4莫屏测试系统的结构。该 系统包括单片机，触摸屏连接模块以及显示模块。其中，所述单片机连接触摸屏驱动模块，触摸屏驱动模块连接触摸屏连接 模块，当触摸笔在待测触摸屏上有触摸动作时，触摸屏驱动模块将待测触摸屏 的电阻值信号发送到单片机。单片机接收触摸屏驱动模块发出的电阻值信号，并将所述电阻值信号处理 为图片数据，并将所述图片数据传送到显示模块显示。在具体实施过程中，所述单片机还包括CPU，所述CPU连接触摸屏驱动模块。触摸屏连接模块放置待测触摸屏。优选的，本专利技术实施例的单片机釆用W78E516B单片机，编写好的触摸屏 驱动IC程序下载到单片机后，整个系统通电便可进入正常使用状态。优选的，本设计采用的触摸屏驱动模块是ADS7846,系统启动后，CPU接 收触摸屏驱动模块发送的数据，通过软件编程把触摸屏的显示区域二维的细分 为n个很小的区域，每个小的区域对应一个X、 Y方向的值，驱动IC把触摸屏 对应的X, Y的电阻值的模拟信号转换为数字信号传送到CPU, CPU根据接 收到不同的信号处理后发送到显示;f莫块上显示不同的画面。触摸笔在触摸屏上动作，显示模块显示相应的画面，检测人员根据显示的 结果是否与自己在触摸屏上动作的结果是否一致直接判断待测触摸屏性能的好 坏。在具体实施过程中，本专利技术实施例的机械结构请参阅图2,图3为图2中 测试触摸屏用的印制电路板(Printed Circuit Board, PCB)(即图2中A)，下 面结合图2和图3伯文详细说明。待测触摸屏放置在触摸屏连接模块后，可根据待测触摸屏的软性线路板 (Flexible Printed Circuit, FPC )的PIN脚F的宽度尺寸不同，调整触摸屏连接 模块的PCB上的螺丝G,使待测触摸屏的FPC的PIN角与触摸屏连接模块的 PCB上的金手指I (图3)完全吻合对应后，按下手柄D,使得待测触摸屏的 FPC的PIN脚F通过压头E的压力与触摸屏连接模块的PCB板的上的金手指I (图3)连接导通，PCB板上的4个金手指I中1、 2、 3、 4分别与左侧4个焊 盘H的1、 2、 3、 4——连接对应。其中待测触摸屏的PIN角定义顺序不同可以通过调整焊接在PCB板上的4 个焊盘H上的4条线来实现。在触摸屏上用触摸笔做动作的同时根据显示模块显示的画面是否一致来判 断触摸屏的性能是否好坏。本专利技术实施例还提供一种触摸屏测试方法，请参阅图4。在步骤S101中，单片机驱动显示模块显示。在步骤S102中，当在待测触摸屏上有触摸动作时，触摸屏驱动模块将待测 触摸屏的电阻值信号发送到单片机。优选的，触摸屏驱动模块将待测触摸屏的电阻值的模拟信号转换为数字信 号发送到单片机。在步骤S103中，单片机接收触摸屏驱动模块发出的电阻值信号，并将所 述电阻值信号处理为图片数据。在步骤S104中，单片机将所述图片数据传送到显示模块显示。本专利技术通过使用单片机对待测触摸屏进行;险测，体积小、操作方便、使得 检测触摸屏的成本大大降低、极大的提高了检测效率。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不用以限制本专利技术，凡在本发 明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。权利要求1、一种触摸屏测试系统，其特征在于，所述系统包括依次连接的待测触摸屏，触摸屏连接模块、触摸屏驱动模块、单片机以及显示模块。2、 如权利要求1所述的触摸屏测试系统，其特征在于，所述单片机为 W78E516B单片机。3、 如权利要求1所述的触摸屏测试系统，其特征在于，所述触摸屏驱动模 块为ADS7846驱动IC。4、 如权利要求1所述的触摸屏测试系统，其特征在于，所述显示模块是 LCD显示模块。5、 一种触摸屏测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤 单片机驱动显示模块显示；当在待测触摸屏上有触摸动作时，触摸屏驱动模块将待测触摸屏的电阻值 信号发送到单片机；单片机接收触摸屏驱动模块发出的电阻值信号，并将所述电阻值信号处理 为图片数据；单片机将所述图片数据传送到显示模块显示。6、 如权利要求5所述的触摸屏测试方法，其特征在于，所述触摸屏驱动模 块将待测触摸屏的电阻值信号发送到单片机的步骤具体包括触摸屏驱动模块将待测触摸屏的电阻值的模拟信号转换为数字信号发送到 单片机。全文摘要本专利技术适用于触摸屏测试领域，提供了，所述系统包括依次连接的待测触摸屏，触摸屏连接模块、触摸屏驱动模块、单片机以及显示模块。本专利技术触摸屏测试系统体积小、操作方便、使得检测触摸屏的成本大大降低、极大的提高了检测效率。文档编号G01R31/00GK101545937SQ200810241750公开日2009年9月30日 申请日期2008年12月30日 优先权日2008年12月30日专利技术者温健宾, 凡 陈 申请人:深圳创维－Rgb电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触摸屏测试系统，其特征在于，所述系统包括依次连接的待测触摸屏，触摸屏连接模块、触摸屏驱动模块、单片机以及显示模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：温健宾，陈凡，
申请(专利权)人：深圳创维RGB电子有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]