封装体结构及其制备方法、存储器系统和电子设备技术方案

技术编号:43345166 阅读:27 留言:0更新日期:2024-11-15 20:42
本公开实施例公开了一种封装体结构及其制备方法、存储器系统和电子设备。封装体结构包括:基板;第一堆叠结构,位于基板上,包括:至少一个第一芯片;塑封层,位于基板上且包覆第一堆叠结构;第一支承结构,贯穿塑封层且位于第一堆叠结构外周;其中,第一支承结构的高度大于第一堆叠结构的高度。

【技术实现步骤摘要】

本公开实施例涉及半导体领域,尤其涉及一种封装体结构及其制备方法、存储器系统和电子设备


技术介绍

1、常规的基板设计主要是为了满足电信号连接性能,目前移动产品对封装整体除了电性能的要求之外,还有机械强度和韧度的要求。然而,传统的封装体经常不能满足移动产品的机械形变要求。


技术实现思路

1、根据本公开实施例的第一方面,提供一种封装体结构,包括:

2、基板;

3、第一堆叠结构,位于所述基板上,包括:至少一个第一芯片;

4、塑封层,位于所述基板上且包覆所述第一堆叠结构;

5、第一支承结构,贯穿所述塑封层且位于所述第一堆叠结构外周;其中,所述第一支承结构的高度大于所述第一堆叠结构的高度。

6、在一些实施例中,所述第一支承结构位于所述第一堆叠结构沿第一方向相对的两侧,所述第一方向平行于所述基板所在的平面;

7、和/或,

8、所述第一支承结构位于所述第一堆叠结构沿第二方向相对的两侧,所述第二方向平行于所述基板所在的平面

9、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种封装体结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的封装体结构,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的封装体结构,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的封装体结构,其特征在于,所述第一支承结构包括多个第一支承柱,多个所述第一支承柱沿所述第一堆叠结构外周环绕设置;所述封装体结构还包括:

5.根据权利要求4所述的封装体结构,其特征在于,多个所述第一支承柱在所述第一堆叠结构外周具有第一密度分布,多个所述第二支承柱在所述第二堆叠结构外周具有第二密度分布;其中,所述第一密度分布和所述第二密度分布相同或不同。

>6.根据权利要求1...

【技术特征摘要】

1.一种封装体结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的封装体结构,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的封装体结构,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的封装体结构,其特征在于,所述第一支承结构包括多个第一支承柱,多个所述第一支承柱沿所述第一堆叠结构外周环绕设置;所述封装体结构还包括:

5.根据权利要求4所述的封装体结构,其特征在于,多个所述第一支承柱在所述第一堆叠结构外周具有第一密度分布,多个所述第二支承柱在所述第二堆叠结构外周具有第二密度分布;其中,所述第一密度分布和所述第二密度分布相同或不同。

6.根据权利要求1所述的封装体结构,其特征在于,所述封装体结构包括冗余区域和布线区域;其中,

7.根据权利要求1所述的封装体结构,其特征在于,所述第一支承结构的机械强度大于所述塑封层的机械强度。

8.根据权利要求1或7所述的封装体结构,其特征在于,所述第一支承结构的材料包括:有机复合材料、硅基材料或者金属;

9.一种封装体结构的制备方...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈鹏赵姗姗
申请(专利权)人:长江存储科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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