触控面板的坐标检测方法技术

一种触控面板的坐标检测方法，该触控面板具有多个并列的条状导体分上、下层位置交错设置，且各条状导体彼此为电性不导通，该坐标检测方法包含下列步骤：先产生一测试信号对该等第一条状导体依序轮询，并纪录电压值及电阻值的变化，该测试信号对该等第二条状导体依序轮询，并纪录电压值及电阻值的变化，尔后利用一处理器依据所得的电压值及电阻值而推算至少一坐标，坐标即为该等感测点中被触发者的位置，达到多点触控的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电阻式触控面板，特别是有关于一种触控面板的坐标检测 方法。
技术介绍
请参阅图19，公知电阻式触控面板结构包括一镀有IT0 (Indium Tin Oxides;铟锡氧化物)薄膜的上基板1以及一镀有ITO薄膜的下基板2， 当触控面板被触控时，上基板1与下基板2于按压处导通且会产生电压降， 一处理器(图未示)则会算出电压降所占的比例而进一步算出坐标轴。然而，上述己有技术只能检测触控一点的坐标，如果有不慎的误触致 发生多点触控(multi touch)情形时，则会造成触控点检测错误，如图 20至图23所示，图中触控点T1及触控点T2同时被按压，此时公知的只能检测到一个等效电阻值而无法个别检测触控 点Tl及触控点T2的电阻值，即得到一位于触控点T3的坐标，而非触控 点T1及触控点T2其中一点的坐标；换言之，即同一时间内，触控点数量 在两点以上，最终只会检测到一点坐标；但是所检测到的这一点坐标，并 非前述那些触控点其中一点而是不正确的坐标。借此，常用者无法达到多 点触控的目的，形成触控面板在操作行为上的限制。综上所陈，公知具有上述的缺失而有待改迸。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种，其能够确 实检测多个触控点的所在坐标，具有多点触控(multi touch)的特色。 为达成上述目的，本专利技术的技术解决方案是-一种，前述触控面板具有相迭设的一第一透光片与一第二透光片，以及多个绝缘体(spacer)位于该第一透光片与该 第二透光片之间，使得第一透光片与第二透光片之间保有间隙，其中，第 一透光片顶面设有多个并列的第一条状导体，第二透光片底面设有多个并 列的第二条状导体，且第二条状导体相对第一条状导体呈交错设置并于投 影位置界定出多个感测点；该坐标检测方法包含下列步骤先对该第一条 状导体一端接地， 一测试信号以轮询方式对第一条状导体依序传送，并纪 录该第二条状导体输出电压值及电阻值的变化；接着对该第二条状导体一 端接地，该测试信号以轮询方式对第二条状导体依序传送，并纪录该第一 条状导体输出电压值及电阻值的变化；尔后利用一处理器依据以上步骤所 得的电压值及电阻值的变化而推算至少一坐标，该坐标即为该感测点中被 触发者的位置。借此，本专利技术透过上述步骤，其能够克服电 阻式触控面板在多点触控会造成检测错误的缺失；换言之，本专利技术能够确 实检测多个触控点的所在坐标，进而提供正确的坐标；其相较于已有的触 控面板，具有多点触控(multi touch)的特色附图说明图1为本专利技术第一较佳实施例的步骤流程图2为本专利技术第一较佳实施例的结构示意图，主要揭示各组件的结构；图3为本专利技术第一较佳实施例的结构示意图，主要揭示下基板与上基 板之间的结构；图4为本专利技术第一较佳实施例的是统架构示意图5为本专利技术第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至 Yl的情形；图6为本专利技术第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至 Y2的情形；图7为本专利技术第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板轮询至 Y3的情形；图8为本专利技术第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板于步骤4e的状态；图9为本专利技术第一较佳实施例的测试信号的动作步序图； 图10为本专利技术第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询 至X1的情形；图11为本专利技术第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询 至X2的情形；图12为本专利技术第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板轮询 至X3的情形；图13为本专利技术第一较佳实施例的动作示意图，主要揭示下基板于步 骤f的状态；图14为本专利技术第二较佳实施例的是统架构示意图15为本专利技术第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示测试信号正向输入至Y2的情形；图16为本专利技术第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示测试信号反向输入至Y2的情形；图17为本专利技术第二较佳实施例的动作示意图，主要揭示上基板于步 骤e的状态；图18为本专利技术第二较佳实施例的测试信号的动作步序图； 图19为公知触控屏幕的结构示意图20为公知触控屏幕的动作示意图，主要揭示上基板扫瞄Y轴的情形；图21为公知触控屏幕的动作示意图，主要揭示下基板扫瞄Y轴的情形；图22为公知触控屏幕的示意图，主要揭示触控屏幕检测触控点Y轴 坐标的等校电路；图23为公知触控屏幕的示意图，主要揭示触控屏幕检测触控点Y轴 坐标经过A—Y转换的等校电路。主要元件符号说明第一透光片10第一条状导体12下基板14第一电极16 第二电极17第二透光片20 第二条状导体22上基板24 第三电极26第四电极27 感测点28绝缘体30 控制装置40处理器42 感测点P1P2感测点P3P具体实施方式 '为了详细说明本专利技术的特征及功效所在，兹举以下较佳实施例并配合 附图说明如后.-请参阅图1至图4，其是为本专利技术第一较佳实施例所提供的一种触控 面板的坐标检测方法；其中，为利于说明本实施例，对前述触控面板的结 构描述如下该触控面板具有相迭设的一第一透光片10与一第二透光片20，多个 绝缘体(spacer) 30位于该第一透光片10与该第二透光片20之间，使得 该第一透光片10与该第二透光片20之间保有间隙。该第一透光片10顶面设有八条并列的第一条状导体12，该第一透光 片10与该第一条状导体12构成一下基板14;其中，该第一条状导体12 相互平行且分别依序定义为Y1至Y8，用以作为Y轴的扫描线；各该第一 条状导体12两端分别设有一第一电极16以及一第二电极17，以供对该第 一条状导体12通以测试信号或进行接地。该第二透光片20底面设有八条并列的第二条状导体22，该第二透光 片20与该第二条状导体22构成一上基板24;其中，该第二条状导体22 相互平行且分别依序定义为X1至X8，用以作为X轴的扫描线；各该第二 条状导体22两端分别设有一第三电极26以及一第四电极27，以供对该第 二条状导体22通以测试信号或进行接地。该第二条状导体22相对该第一条状导体12呈交错设置并于投影位置 界定出多个感测点28;该第一条状导体12的延伸方向垂直该第二条状导 体22的延伸方向；本实施例中，该感测点28形成8X8的扫瞄矩阵。其中，当该第一条状导体12其中之一接触该第二条状导体22其中之一，即 表示该感测点28至少其中之一被按压而触发。本实施例中，该感测点28 以感测点P1以及感测点P2被触发为例进行说明；其中，感测点P1所在 坐标为X3， Y3，感测点P2所在坐标为X4， Y5。本实施例所提供该坐标检测方法，包含下列步骤 a)请参阅图4及图5，对该第一条状导体12的第二电极17接地， 一控制装置40输出一测试信号且以轮询方式对该第一条状导体12的第一 电极16依序传送；该测试信号的工作周期在20毫秒(ms)至50毫秒(ms); 该测试信号选自以单向扫瞄以及往复扫瞄其中一种形式依序传送；本实施 例中，该测试信号以单向扫瞄形式为例且工作周期为50毫秒(ms)，在此仅为举例说明，并非做为限制要件。扫瞄期间，本实施例再利用一处理器 42纪录电压值及电阻值的变化。请参阅图5至图8，当该第一条状导体12中的Yl被输入该测试信号， 该第一条状导体12中的Yl两端电压为Vcc，该第一条状导体12中的Y2 至Y8则两端呈断路状态；当该测试信号轮询至Y2，该第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控面板的坐标检测方法，前述触控面板具有相迭设的一第一透光片与一第二透光片，以及多个绝缘体位于该第一透光片与该第二透光片之间，使得第一透光片与第二透光片之间保有间隙，其中，第一透光片顶面设有多个并列的第一条状导体，第二透光片底面设有多个并列的第二条状导体，且第二条状导体相对第一条状导体呈交错设置并于投影位置界定出多个感测点；其特征在于，该坐标检测方法包含下列步骤：　　　　ａ．对该第一条状导体一端接地，一测试信号以轮询方式对第一条状导体依序传送，并纪录该第二条状导体输出电压值及电阻值的变化；　　　　ｂ．对该第二条状导体一端接地，该测试信号以轮询方式对第二条状导体依序传送，并纪录该第一条状导体输出电压值及电阻值的变化；以及　　　　ｃ．利用一处理器依据步骤ａ及步骤ｂ所得的电压值及电阻值的变化而推算至少一坐标，该坐标即为该感测点中被触发者的位置。

【技术特征摘要】
1.一种触控面板的坐标检测方法，前述触控面板具有相迭设的一第一透光片与一第二透光片，以及多个绝缘体位于该第一透光片与该第二透光片之间，使得第一透光片与第二透光片之间保有间隙，其中，第一透光片顶面设有多个并列的第一条状导体，第二透光片底面设有多个并列的第二条状导体，且第二条状导体相对第一条状导体呈交错设置并于投影位置界定出多个感测点；其特征在于，该坐标检测方法包含下列步骤a.对该第一条状导体一端接地，一测试信号以轮询方式对第一条状导体依序传送，并纪录该第二条状导体输出电压值及电阻值的变化；b.对该第二条状导体一端接地，该测试信号以轮询方式对第二条状导体依序传送，并纪录该第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖辉龙，黄荣信，陈俊荣，吴炳升，
申请(专利权)人：奇信电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]