一种用于降低原子荧光光谱仪光学背景及噪声的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种用于降低原子荧光光谱仪光学背景及噪声的装置，包括光学暗室，光学暗室与光路筒的外壁相贴合，光路筒正对光学暗室的一侧设置有两光源以及信号接收装置，光源的正前方靠近光学暗室处各装有一反射镜，反射镜由光路筒内壁向外壁凸设，光学暗室内壁处设置有吸光材料，光路筒的内壁正对信号接收装置处设置有通光孔，本实施例中光源为空心阴极灯。整个装置结构简单，布局合理；最大程度地降低仪器的杂散光，将仪器空白测量的噪声值降低到最小；用户操作使用方便。其适用于环境保护、临床医学、农业、地质冶金、制药行业、石化行业等行业的原子光谱分析中的降低仪器使用中的光学背景及噪声之用。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种原子荧光光谱仪，具体涉及一种用于降低原子荧光光谱仪光学背景及噪声的装置。
技术介绍
原子荧光光谱分析是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术，是原 子光谱法中的一个重要分支，它是原子吸收和原子发射光谱的综合与发展，是一种优良的 痕量分析技术。 现有技术中，原子荧光光谱仪主要用于检测Hg， As、 Se、 Te、 Bi、 Sb、 Sn或其他元素 的ppt级检测，其被广泛应用于环境保护、临床医学、农业、地质冶金、制药行业、石化行业 等行业，其不仅可以测定金属元素，而且也可以被间接用来测定非金属元素和有机化合物。 原子荧光光谱分析法(AFS)是利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性及定量分 析方法，它的基本原理是原子蒸气吸收特征波长的光辐射之后，原子被激发至高能级，然后 回到基态时便发射出一定波长的原子荧光，再依据荧光的强度分析所测元素的含量。原子 荧光光谱仪的基本结构包括激发光源、原子化器、分光系统、检测器、信号放大器以及数据 处理器等部分。 现有技术中，光源发射的特征光谱会照射到光路筒内壁及其后的光学暗室内壁， 由于光的漫反射作用，会有一部分反射进入到信本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于降低原子荧光光谱仪光学背景及噪声的装置，包括光学暗室，所述光学暗室与光路筒的外壁相贴合，所述光路筒正对所述光学暗室的一侧设置有两光源以及信号接收装置，其特征在于：所述光源的正前方靠近所述光学暗室处各装有反射镜，以吸收并反射光源发出的光线。

【技术特征摘要】
一种用于降低原子荧光光谱仪光学背景及噪声的装置，包括光学暗室，所述光学暗室与光路筒的外壁相贴合，所述光路筒正对所述光学暗室的一侧设置有两光源以及信号接收装置，其特征在于所述光源的正前方靠近所述光学暗室处各装有反射镜，以吸收并反射光源发出的光线。2. 如权利要求1所述的用于降低原子荧光光谱仪光学背景及噪声的装置，其特征在 于所述反射镜由所述光路筒内壁向外壁凸设。3. 如权利要求1所述的用于降低原子荧光光谱仪光学背景及噪声的装置，其特征在 于所述光学暗室内壁处设...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘召贵，胡晓斌，马聪，郭昕，谭周勇，
申请(专利权)人：江苏天瑞仪器股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32[中国|江苏]