【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，尤其是指一种测试机时钟管理模块参数设置方法及装置。
技术介绍
1、芯片测试机的时钟资源是有限的，为了提高时钟资源的利用率，需要通过时钟管理模块(mixed-mode clock manager，mmcm)对时钟资源进行处理并分频，从而输出多个不同频率的时钟信号。mmcm模块包括时钟输入端、可编程计数器、相位频率检测器、电荷泵、环路滤波器、压控振荡器和小数分频器以及多个时钟输出端，输入时钟依次经过可编程计数器、相位频率检测器、电荷泵、环路滤波器和压控振荡器，得到经过压控振荡器调节后的具有特定频率的时钟，通过在各个时钟输出端设置相应的分频系数，将压控振荡器输出的时钟进行分频，从而得到多个固定频率的时钟信号，以便用于后续芯片测试。
2、由于多个时钟输出端的分频系数均需要基于压控振荡器输出的时钟频率设置，而压控振荡器输出的时钟频率与输入时钟的频率、可编程计数器的系数以及小数分频器的系数相关，因此，在进行芯片测试之前，需要先根据输入时钟的频率设置可编程计数器的系数、小数分频器的系数以及每个时钟输出端的分频系数，...
【技术保护点】
1.一种测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求2所述的测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，若多个可行解的绝对值平均误差相等，则计算每组可行解的均方根误差，将均方根误差最小的可行解作为最优解。
4.根据权利要求1所述的测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，压控振荡器的实际输出时钟频率的计算公式为：
5.根据权利要求1所述的测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，压控振荡器的期望输出时钟频率的计算公式
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【技术特征摘要】
1.一种测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，还包括：
3.根据权利要求2所述的测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，若多个可行解的绝对值平均误差相等，则计算每组可行解的均方根误差，将均方根误差最小的可行解作为最优解。
4.根据权利要求1所述的测试机时钟管理模块参数设置方法，其特征在于，压控振荡器的实际输出时钟频率的计算公式为：
5.根据权利要求1所述的测试机时钟管理模块参数设置方法，...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐润生，孙恩刚，吴艳平，
申请(专利权)人：胜达克半导体科技上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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