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本发明涉及一种测试机时钟管理模块参数设置方法及装置，属于芯片测试技术领域。在可编程计数器系数和小数分频器系数取值范围内分别进行取值，基于每次取值计算得到实际输出时钟频率集合；在每个时钟输出端分频系数取值范围内进行取值，基于每次取值计算得到该...
该专利属于胜达克半导体科技（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胜达克半导体科技（上海）股份有限公司授权不得商用。

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