数字验证失败位计数（VFC）电路制造技术

一种失败位计数方法包括：在计数器的输入处顺序地接收包括一个或多个验证位的位组。一个或多个验证位中的每一个是失败位或通过位。计数器包括从输入以串的形式耦合的一个或多个计数器级。该方法还包括：针对所述一个或多个验证位中的一个验证位，根据所述一个验证位在所述组中的位置执行确定过程，以选择所述一个或多个计数器级中的一个计数器级用于写入失败位或决定丢弃所述一个验证位。

【技术实现步骤摘要】

本公开内容涉及存储器，并且更具体地，涉及用于存储器件的数字验证失败位计数(vfc)电路。

技术介绍

1、存储器件，比如三维(3d)存储器件，通过将电荷(比如，电子)存储在存储单元(也被称为“存储器单元”)中来存储数据。在存储器件中，对失败或错误数据写入的存储器单元进行计数的过程被称为验证失败位计数(vfc)。相应地，执行vfc的电路也被称为vfc电路。vfc电路占用存储器件中的空间并增加存储器件的功耗。此外，由于现有vfc电路使用模拟方法来感测失败位数量，因此在该过程期间需要电流。电流可能会受到若干个因素的影响，例如功率下降、晶体管失配和信号路由，这些因素会导致少计数并导致产量损失。因此，需要改进vfc电路。

技术实现思路

1、根据本公开内容，提供了一种失败位计数方法，包括：在计数器的输入处顺序地接收包括一个或多个验证位的位组。所述一个或多个验证位中的每一个验证位是失败位或通过位。所述计数器包括从所述输入以串的形式耦合的一个或多个计数器级。该方法还包括：针对所述一个或多个验证位中的一个验证位，根据所述一个验证本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种失败位计数方法，包括：

2.根据权利要求1所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述位组中的所述位置来执行所述确定过程包括：响应于所述一个验证位是通过位，决定丢弃所述一个验证位。

3.根据权利要求1所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述组中的所述位置来执行所述确定过程包括：

4.根据权利要求1所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述组中的所述位置来执行所述确定过程包括：

5.根据权利要求4所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述组中的所述位置来执行所述确定过程还包括：

6....

【技术特征摘要】

1.一种失败位计数方法，包括：

2.根据权利要求1所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述位组中的所述位置来执行所述确定过程包括：响应于所述一个验证位是通过位，决定丢弃所述一个验证位。

3.根据权利要求1所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述组中的所述位置来执行所述确定过程包括：

4.根据权利要求1所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述组中的所述位置来执行所述确定过程包括：

5.根据权利要求4所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述组中的所述位置来执行所述确定过程还包括：

6.根据权利要求1所述的失败位计数方法，其中：

7.根据权利要求6所述的失败位计数方法，其中，根据所述一个验证位在所述组中的所述位置来执行所述确定过程还包括：

8.根据权利要求6所述的失败位计数方法，其中：

9.根据权利要求8所述的失败位计数方法，其中，根据所述一...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈腾，栗山正男，
申请(专利权)人：长江存储科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：