提高检测近空精度的方法技术

技术编号:4178033 阅读:122 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种提高检测近空精度的方法,该方法包括以下步骤:在校准模式下,当注射泵的运动部件上的挡光片挡住注射泵上的光电开关时记录第一校准推进量NE1,当注射器的活塞运动到头时记录已空推进量NE2;根据预置的注射器的近空相对量NE0以及第一校准推进量NE1和已空推进量NE2来计算第一校准推进量NE1与近空相对量NE0之间的校准相对量差ΔNE;以及在正常的注射模式下,当挡光片挡住光电开关时记录第一推进量E1,并将注射器的活塞运动时所记录的实时第二推进量E2与第一推进量E1差作为工作相对量差E3与校准相对量差ΔNE进行比较,当工作相对量差E3大于校准相对量差ΔNE时,判断注射器推进到近空状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测系统,更具体地,涉及一种提高检测近空精度的方法,
技术介绍
目前,对于医疗器械注射泵的性能都有近空报警功能的检测。 关的开关量来判别是否近空。对于电位器的这种方案,检测精度高,4旦是成本也比4交高。^f旦对于光电开关而言,对于传统的方法,其冲企 测精度不高。其中,近空是指在正常注射过程中,注射器内的液体 4妄近空的状态。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是,提供一种提高检测近空精度的 方法,利用光电开关的4企测,再通过^f交准相对量差来有效地解决枱r 测i吴差的问题。为了解决上述现有技术中的问题,本专利技术提供了 一种提高检测 近空精度的方法,该方法包括以下步骤步骤一,在校准模式下, 当注射泵的运动部件上的挡光片挡住注射泵上的光电开关时记录第 一校准推进量NE1,当注射器的活塞运动到头时记录已空推进量 NE2;步骤二,根据预置的注射器的近空相对量NEO以及第一校准4推进量NE1和已空推进量NE2来计算第一校准推进量NE1与近空 相对量NEO之间的4史准相对量差ANE;以及步艰《三,在正常的注 射才莫式下,当挡光片挡住光电开关时记录第一推进量E1,并将注射 器的活塞运动时所记录的实时第二推进量E2与第一推进量El差作 为工作相》于量差E3与4交准相对量差ANE进4亍比4交,当工作相》于量 差E3大于校准相对量差ANE时,判断注射器推进到近空状态。其中,步骤一还包括将注射器的活塞置于注射器的满刻度处, 并将注射器放入注射泵中;注射泵的电4几开始运转,使注射器的活 塞向注射器的针头方向运动;当挡光片挡住光电开关时,记录第一 才交准4,进量NE1;以及当注射器的活塞运动到头时,注射泵的电才几 止运转并记录此时的已空推进量NE2。其中,在步骤二中通过以下^^式计算出4交准相对量差ANE: ANE=NE2—画一NE0 。步骤二还包括在挡光片挡住光电开关时,保存第一推进量E1; 以及当工作相对量差E3大于校准相对量差ANE时,判断注射器推 进到近空状态。根据本专利技术的方法,在注射泵上设置多个光电开关。本专利技术的有益效果如下因此,采用本专利技术的方法,通过光电开关的4企测,然后再通过 校准相对量差来有效解决检测误差问题,从而可以很灵活地控制, 降低了产品成本。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部 分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本专利技术而了解。本发5明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附 图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一 步理解,并且构成说明书的 一部 分,与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的限制。在附图中图1是根据本专利技术的近空检测系统的结构图2是根据本专利技术的方法的流程图3是根据本专利技术方法的近空校准流程图;以及图4是根据本专利技术方法的正常注射的流程图。 具体实施例方式以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明,应当理解,此 处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术,并不用于限定本 专利技术。图1是根据本专利技术的近空检测系统的结构图。如图l所示,该近空检测系统由注射推注机构6、检测机构2、 支撑结构3和驱动才几构4构成j企测才/L构2光电开关2a用螺钉固定 到推注机构安装板lb上,挡光片2b安装在推注机构移动块5b上。 在注射过程中移动块5顺着注射方向运动,挡光片2b也随之前行, 当注射管6a到注射近空、已空位置时挡光片2b伸进光电开关的凹 槽中,此时,根据挡光片2b所达到的位置,相应地光电开关2a的 光敏三极管感应到信号,发送一个高电平给单片机8,单片机8通过采样和计算来实现近空、已空的状况并指示检测机构2的报警部 分9发出^^警以及显示部分10显示近空、已空的相关信息。当注射 液推注到注射已空位置时,所述检测部分发出控制信号,控制驱动 电才几转动^f止,注射结束。图2是4艮据本专利技术的方法的流程图。 如图2所示,该方法包4舌以下步骤S202,在校准模式下,当注射泵的运动部件上的挡光片挡住注 射泵上的光电开关时记录第 一校准推进量NE1 ,当注射器的活塞运 动到头时i己录已空4偉进量NE2;S204,根据预置的注射器的近空相对量NEO以及第一校准推进 量NE1和已空推进量NE2来计算第一4交准4,进量NE1与近空相对 量NEO之间的校准相对量差ANE;以及S206,在正常的注射;t莫式下,当挡光片挡住光电开关时记录第 一推进量El,并将注射器的活塞运动时所记录的实时第二推进量 E2与第一推进量E1差作为工作相对量差E3与校准相对量差ANE 进行比较,当工作相对量差E3大于校准相对量差ANE时,判断注 射器推进到近空状态。其中,S202还包括将注射器的活塞置于注射器的满刻度处, 并将注射器放入注射泵中;注射泵的电机开始运转,使注射器的活 塞向注射器的针头方向运动;当挡光片挡住光电开关时,记录第一 才交准推进量NE1;以及当注射器的活塞运动到头时,注射泵的电机 4亭止运转并i己录此时的已空4,进量NE2。其中,在S204中通过以下^/^式计算出才交准相对量差ANE: △NE=NE2—NE1—NEO 。7S204还包括在挡光片挡住光电开关时,保存第一推进量E1; 以及当工作相对量差E3大于校准相对量差ANE时,判断注射器推 进到近空状态。根据本专利技术的方法,在注射泵上设置多个光电开关。图3是根据本专利技术方法的近空校准流程图。图4是才艮据本专利技术方法的正常注射的流程图。如图3、图4所示,本专利技术的实施例如下该实施例分为两部分4交准;以及正常注射。对于校准部分a、 注射器活塞置于满刻度处,正确方文入注射泵,并且,进入近 空才交准界面;b、 电才几开始运转,注射器活塞开始往前运动;c、 当运动部件上的一挡光片挡住了一光电开关时,记录下此时 的累计量NE1;d、 当注射器活塞到头后,电机停止运转,并记录下此时的累计 量NE2;以及e、 通过一计算,ANE-NE2-NE1-NE0 (NEO:近空产生的量, △ NE的单^f立为mL)。只于于正常注射部分a、 判断是否检测一光电开关有效,当检测到光电开关时,记录 下此时的累计量E1;以及b、 记录瞬时的累计量E2,计算E3-E2-E1,判断是否E3 > △ NE,如果是,则产生近空的控制处理,否则继续判断。实现本实施例所应用的设备包括(1)光电开关及运动部件的 挡光片;(2)数据处理CPU,包括光电开关的检测的电平变化输入 至1/0 口; (3)根据当前的累计量与保存的累计量的计算来判断。综上所述,采用本专利技术的方法,通过光电开关的4企测,然后再 通过校准相对量差来有效解决检测误差问题,从而可以很灵活地控 制,降低了产品成本。以上〗叉为本专利技术的优选实施例而已,并不用于限制本专利技术,对 于本领域的技术人员来说,本专利技术可以有各种更改和变化。凡在本 专利技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均 应包含在本专利技术的保护范围之内。9权利要求1.一种,其特征在于,所述方法包括以下步骤步骤一,在校准模式下,当注射泵的运动部件上的挡光片挡住所述注射泵上的光电开关时记录第一校准推进量NE1,当注射器的活塞运动到头时记录已空推进量NE2;步骤二,根据预置的所述注射器的近空相对量NE0以及所述第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提高检测近空精度的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤: 步骤一,在校准模式下,当注射泵的运动部件上的挡光片挡住所述注射泵上的光电开关时记录第一校准推进量NE1,当注射器的活塞运动到头时记录已空推进量NE2; 步骤二,根据预置的所 述注射器的近空相对量NE0以及所述第一校准推进量NE1和所述已空推进量NE2来计算所述第一校准推进量NE1与所述近空相对量NE0之间的校准相对量差ΔNE;以及 步骤三,在正常的注射模式下,当所述挡光片挡住所述光电开关时记录第一推进量E1, 并将所述注射器的活塞运动时所记录的实时第二推进量E2与所述第一推进量E1差作为工作相对量差E3与所述校准相对量差ΔNE进行比较,当所述工作相对量差E3大于所述校准相对量差ΔNE时,判断所述注射器推进到近空状态。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:傅军
申请(专利权)人:北京谊安医疗系统股份有限公司
类型:发明
国别省市:11[]

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