The invention relates to an electronic label RFID testing system. The system includes a host, used to control the testing process, and record test data; electronic label, composed of chip and coupling components, chip EEPROM is used to store the identification code or other data, the label contains a built-in antenna, used to complete the communication with the reader; the RFID reader is used to control the RF module to transmit read labels the signal, and receives the tag response, object identification information on the label will decode the object identification information on the label several other relevant information transmission to the host for processing; digital signal generator generates a digital signal through RF / RF signal identification circuit produced according to the international standard ISO, RFID chip to receive the signal to be tested later, under normal circumstances will generate a return signal, the RF signal transmission / Identification identification circuit that capture the signal, and convert it into a corresponding digital signal, through the test system and look forward to advance stored value, judging chip communication function is realized; testing equipment for receiving inspection data items to be measured RFID chip information, including physical characteristics, performance testing, static testing the dynamic performance test and RFID tag and product application field simulation test, the test results will be transmitted to the host. The invention can realize rapid and convenient RFID testing, standard consistency and optimized measurement.
【技术实现步骤摘要】
]本专利技术涉及一种电子标签RFID测试系统。
技术介绍
RFID已经成为IT领域的热点,许多国家都在不遗余力地推广这种 技术。然而,尽管RFID技术在各行各业中正逐步为人们所认识和重视, 但它还是未能走向大规模应用,仍局限于小范围的示范应用。造成这种 现状的根本原因在于,无论RFID技术本身还是基于这项技术所衍生出的 各种应用系统都还存在着尚未解决的问题。这些棘手的问题制约了 RFID 技术在众多行业中应用的全面展开。因此,在实际应用前对RFID系统和 应用环境进行测试,就会降低RFID在企业中部署和应用的困难,从而有 助于促进整个RFID产业链的形成和发展。目前,各国都在积极开展RFID技术和设备的测试工作。为了从容地参与国际竟争,我国政府和相关企业应仔细着手建立自己的RFID测试中心,对RFID产业化中的共性1^出和关键技术进行针对性研究。 RFID系统测试通过提出RFID技术的系列测试方法,建立开放式RFID软硬件产品的联合测试平台,制定系列RFID软硬件产品测试标准与规范,形成RFID技术的测试标准体系,满足RFID技术研究测试、应用测试等公共服务需求。从国际国内RFID测试技术发展的动向来看,RFID测试技术将由功 能测试向性能测试发展。性能测试如测试标签的一致性、物理特性、 读取距离、读取角度、动态读取率、调制深度、可靠性、贴附强度、材 料特性(阻燃性、扭曲特性、变形特性、温度稳定性、湿度等)、环境适应性(抗磁场、抗静电、抗紫外线、抗x射线、抗静电、交变磁场、交 变电场、振动、波形失真)、使用寿命等;测试读写器的覆盖范围、发射 功率、发射 ...
【技术保护点】
一种电子标签RFID测试系统,其特征在于,包括 主机,用于控制测试流程、纪录和测试数据; 电子标签,由芯片以及耦合元器件组成,芯片上有EEPROM用来储存识别码或其它数据,标签内含有内置天线,用于完成与读写器的通信; RF ID读写器用于控制射频模块向标签发射读取信号,并接收标签的应答,对标签的对象标识信息进行解码,将对象标识信息连带标签上其它相关信息传输到主机以供处理; 数字信号发生器产生一数字信号,通过射频发生/识别电路产生符合ISO国际标准的射频信 号,待测试RFID芯片收到该信号后,在正常情况下会产生一个返回信号,此时射频信号发射/识别电路的识别部分即捕获该信号,并将其转换成为相应的数字信号,通过测试系统与事先保存的期待值进行比较,判别芯片的通讯功能是否实现; 测试设备,用于接 收待测RFID芯片的检测数据项目信息,包括物理特性检测、静态性能检测、动态性能检测及射频识别与电子标签产品应用模拟试验场,并将测试结果传输到主机。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:易琳,
申请(专利权)人:北京中食新华科技有限公司,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
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