物件外表面的取像装置制造方法及图纸

一种物件外表面的取像装置，用于检测一个待检测物件的外表面，并包含：由下往上设置的一光源、一第一反射单元、一第二反射单元，以及一取像单元。该第一反射单元绕一中心轴线而设置，并界定出一个第一光通空间，该第二反射单元界定出一个第二光通空间。该光源将光线投射到该待检测物件上，光线再进入该等第一、二光通空间，并受到该等第一、二反射单元反射至该取像单元，使该取像单元可以撷取成像于该第二反射单元上的待检测物件的影像，达到检测目的。上述结构创新，而且具有检测快速、方便的优点。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

物件外表面的取像装置
本技术涉及一种取像装置，特别是涉及一种用于检测例如螺丝、螺帽等物件的外表面的取像装置。
技术介绍
—般螺丝、螺帽等锻造部品在制造时，需要经过一些冲击、切削等加工步骤，使该 等物件成品上可能会因为加工过程而产生破损、龟裂。为了确保出货品质，此类型的物件在 出厂之前通常会进行各项检测，其中一项检测是检测该物件的外表面的完整性。 参阅图1、2，为中国台湾专利第M355393号专利案所揭露的检测装置l，用于检测 一待检测物件10的外表面，并包含一供该待检测物件10摆放并且可透光的承载盘11、一 设置在该承载盘11的下方的发光模组12、一设置在该承载盘11的上方的反射模组13，以 及一个位于该反射模组13的上方的影像撷取模组14。其中，该反射模组13包括一个具有 一底盘130的中空柱体131、一个设置在该中空柱体131内并围绕界定出一空间的第一反射 镜132，以及一个位于该第一反射镜132的内部空间的第二反射镜133。该第一反射镜132 约呈上窄下宽的中空六角柱状，并包括六个都朝内但彼此延伸方向不同的第一反射面134。 该第二反射镜133为六角锥状，并包括六个朝向本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种物件外表面的取像装置，用于检测一个待检测物件的外表面，并包含：一个将光线投射到该待检测物件的光源、一个位于该待检测物件的上方的第一反射单元、一个第二反射单元，以及一个取像单元，其特征在于：　　该第一反射单元绕一条中心轴线而设置，并包括至少一个界定出一个第一光通空间的第一反射镜，该第一反射镜具有一个朝向该第一光通空间的第一反射面，该第一反射面将该待检测物件反射而来的光线再度反射；　　该第二反射单元位于该第一反射单元的上方，并绕该中心轴线而设置，该第二反射单元包括至少一个界定出一个第二光通空间的第二反射镜，该第二反射镜具有一个朝向该第二光通空间的第二反射面，该第二反射面将该第一反射面反射而来的...

【技术特征摘要】
一种物件外表面的取像装置，用于检测一个待检测物件的外表面，并包含一个将光线投射到该待检测物件的光源、一个位于该待检测物件的上方的第一反射单元、一个第二反射单元，以及一个取像单元，其特征在于该第一反射单元绕一条中心轴线而设置，并包括至少一个界定出一个第一光通空间的第一反射镜，该第一反射镜具有一个朝向该第一光通空间的第一反射面，该第一反射面将该待检测物件反射而来的光线再度反射；该第二反射单元位于该第一反射单元的上方，并绕该中心轴线而设置，该第二反射单元包括至少一个界定出一个第二光通空间的第二反射镜，该第二反射镜具有一个朝向该第二光通空间的第二反射面，该第二反射面将该第一反射面反射而来的光线再度反射；该取像单元位于该第二反射单元的上方，并撷取成像于该第二反射面上的待检测物件的影像。2. 如权利要求1所述的物件外表面的取像装置，其特征在于该第一反射面为上下延 伸，该第二反射面是由上往下逐渐朝该中心轴线靠近而斜向延伸。3. 如权利要求1或2所述的物件外表面的取像装置，其特征在于该第一反射单元包 括一个中空并界定出该第一光通空间的第一反射镜，该第一反射镜具有该第一反射面，而 且该第一反射面围绕该中心轴线而呈环形。4. 如权利要求3所述的物件外表面的取像装置，其特征在于该第二反射单元包括一 个中空并界定出该第二光通空间的第二反射镜，该第二反射镜具有该第二反射面，而且该 第二反射面围绕该中心轴线而设置。5. 如权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄炜展，
申请(专利权)人：三星科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]