【技术实现步骤摘要】
【】本专利技术涉及电子设计自动化，特别涉及一种验证设计版图检测模型功能的方法、验证模型及测试系统。
技术介绍
0、
技术介绍
1、随着芯片技术节点的尺寸逐渐缩小，工艺设备在越来越极限的工艺尺寸下只能在一定的图形条件下才能完成制造，所以对于版图图形的设计限制也随之越来越苛刻。因此设计规则检查(design rule check，简称drc)过程在芯片设计和制备过程中变得越来越严格。为了更高效率和高质量的检测出设计版图中不符合规则的地方，设计者通常会根据设置的设计规则，对版图内的图形进行检测，以保证图形被制备成实际的电路可以正常工作。
2、而芯片在不同的场景下的工作状态可能存在着极大的区别。现有技术对检测模型的精准性进行验证时，需要人工手动对版图的每一层进行标记，并对标记处进行检测。然而其每次检测时，同一层的不同区域上，或不同层上的设计图形，其在测试时所经历的场景均不同。也即各个区域所测试的场景不同。也即现有的检测模型验证方法由于其覆盖性差，无法覆盖所有的场景，导致最终测试处理的结果具有不准确性。另外，在验证检测模型对设计版图进行检测时，需要人工手动对测试区域进行选择，该过程需要耗费大量时间。即在验证现有的检测模型准确性时本身耗费时间不说，自身的准确性还有待验证。因此，需要对检测模型的准确性进行验证，以获取一种更为准确性的检测模型。
技术实现思路
0、
技术实现思路
1、为了对检测模型的准确性进行验证，以获取一种更为准确性的检测模型。本专利技术提
2、本专利技术为解决上述技术问题，提供如下的技术方案：一种验证设计版图检测模型功能的方法，用于对检测模型的测试准确性进行验证，包括以下步骤：
3、提供标准设计版图，判断标准设计版图的层数；
4、若为单层，对单层标准设计版图生成第一测试用例，基于第一场景对第一测试用例进行测试，以获得第一测试结果；
5、若为双层，对双层标准设计版图生成第二测试用例，基于第二场景对第二测试用例进行测试，以获得第二测试结果；
6、判断第一测试结果或第二测试结果的准确性以验证检测模型的测试准确性。
7、优选地，提供标准设计版图具体包括：
8、获取若干的样本设计版图，对样本设计版图内的设计图形进行提取，并将提取后的设计图形依照预设分类规则进行分类，以获得若干个不同种类的设计图形；
9、将每一个种类的设计图形均设置于一版图上以获得标准设计版图。
10、优选地，所述标准设计版图的面积小于所述样本设计版图的面积。
11、优选地，对单层标准设计版图生成第一测试用例包括：
12、所述单层标准设计版图包括多边形图层和线性图层；
13、单层标准设计版图基于多边形图层和线性图层、预设检查模式、预设量测方法和预设输出形式，生成至少两个第一测试用例。
14、优选地，对双层标准设计版图生成第二测试用例包括：
15、所述双层标准设计版图包括多边形图层和线性图层；
16、将多边形图层和线性图层可组合以获得组合图层；
17、双层标准设计版图基于组合图层、预设检查模式、预设量测方法和预设输出形式，生成至少三个第二测试用例。
18、优选地，所述第一场景和第二场景由若干个限定条件组合而成，第一场景与第二场景所囊括的限定条件不相同。
19、优选地，判断第一测试结果或第二测试结果的准确性包括：
20、获取标准设计版图于第一场景或第二场景下的预期检测结果；
21、获取实际检测结果，所述实际检测结果包括第一测试结果和/或第二测试结果；
22、判断预期检测结果与实际检测结果是否相同；
23、若相同，则表明该测试结果的准确性合格；
24、若不相同，则表明该测试结果的准确性不合格。
25、优选地，判断第一测试结果或第二测试结果的准确性之前还包括：
26、基于预设过滤选项对第一测试结果或第二测试结果进行筛选，并判断筛选后的测试结果的准确性，以验证检测模型的测试准确性。
27、本专利技术为解决上述技术问题，提供又一技术方案如下：一种验证模型，用于对检测模型的测试准确性进行验证，所述验证模型包括：
28、设计模块：用于获得标准设计版图；
29、判断模块：用于判断标准设计版图的层数；
30、处理模块：用于生成第一测试用例或第二测试用例；
31、测试模块：用于基于第一场景对第一测试用例进行测试，以获得第一测试结果，或，基于第二场景对第二测试用例进行测试，以获得第二测试结果；
32、验证模块：用于判断第一测试结果或第二测试结果的准确性以验证检测模型的测试准确性。
33、本专利技术为解决上述技术问题，提供又一技术方案如下：一种测试系统，测试系统包括输入模块、输出模块和上述的验证模型；
34、所述输入模块用于将设计版图输入到验证模型中；
35、所述验证模型用于对系统内的设计版图内的设计图形进行测试；
36、所述输出模块用于将验证模型所测试的结果进行输出。
37、与现有技术相比，本专利技术所提供的一种验证设计版图检测模型功能的方法、验证模型及测试系统，具有如下的有益效果：
38、1.本专利技术实施例提供的一种验证设计版图检测模型功能的方法，用于对检测模型的测试准确性进行验证，包括以下步骤：
39、提供标准设计版图，判断标准设计版图的层数；
40、若为单层，对单层标准设计版图生成第一测试用例，基于第一场景对第一测试用例进行测试，以获得第一测试结果；
41、若为双层，对双层标准设计版图生成第二测试用例，基于第二场景对第二测试用例进行测试，以获得第二测试结果；
42、判断第一测试结果或第二测试结果的准确性以验证检测模型的测试准确性。本实施例创新地提供了标准设计版图，而有选择性地针对标准设计版图的层数不同，生成不同的测试用例。而不同的测试用例可以基于不同的场景下进行测试进而获得不同的测试结果。最后基于测试结果进行验证即可对检测模型的测试准确性进行验证。通过本实施例提供的验证方法，可以快速对检测模型的准确性进行验证，以获取一种更为准确性的检测模型。
43、2.本专利技术实施例提供标准设计版图具体包括：
44、获取若干的样本设计版图，对样本设计版图内的设计图形进行提取，并将提取后的设计图形依照预设分类规则进行分类，以获得若干个不同种类的设计图形；将每一个种类的设计图形均设置于一版图上以获得标准设计版图。本实施例通过提供标准设计版图，其内部的图形均具有代表性作用，且可以缩短验证检测模型的准确性所耗费的时间，有助于提升验证效率。
45、3.本专利技术实施例对单层标准设计版图生成第一测试用例包括：所述单层本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种验证设计版图检测模型功能的方法，用于对检测模型的测试准确性进行验证，其特征在于：包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：提供标准设计版图具体包括：
3.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：所述标准设计版图的面积小于所述样本设计版图的面积。
4.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：对单层标准设计版图生成第一测试用例包括：
5.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：对双层标准设计版图生成第二测试用例包括：
6.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：所述第一场景和第二场景由若干个限定条件组合而成，第一场景与第二场景所囊括的限定条件不相同。
7.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：判断第一测试结果或第二测试结果的准确性包括：
8.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：判断第一测试结果或第二测试结果的准确性之前
9.一种验证模型，用于对检测模型的测试准确性进行验证，其特征在于：所述验证模型包括：
10.一种测试系统，其特征在于：所述测试系统包括输入模块、输出模块和如权利要求9中所述的验证模型；
...【技术特征摘要】
1.一种验证设计版图检测模型功能的方法，用于对检测模型的测试准确性进行验证，其特征在于：包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：提供标准设计版图具体包括：
3.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：所述标准设计版图的面积小于所述样本设计版图的面积。
4.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：对单层标准设计版图生成第一测试用例包括：
5.如权利要求1所述的验证设计版图检测模型功能的方法，其特征在于：对双层标准设计版图生成第二测试用例包括：
6.如权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈新梅，
申请(专利权)人：深圳晶源信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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