半导体晶圆的分拣平台制造技术

技术编号:41180486 阅读:3 留言:0更新日期:2024-05-07 22:15
本技术公开了半导体晶圆的分拣平台,包括操作台,所述操作台的上表面固定连接有称重台,所述操作台的前表面固定连接有控制箱,所述操作台的侧表面固定连接有安装板,所述安装板的侧表面固定连接有电机,所述电机的输出端固定连接有丝杠,所述丝杠的侧表面螺纹连接有套筒,所述套筒的侧表面活动连接有限位块。上述结构,通过控制箱、电机、放置箱与称重台、检测器对半导体晶圆进行检测与称重,将合格与不合格的半导体进行区分,配合使其被第一传送机构或第二传送机构运输,放置箱内的底板与滚柱配合,使放置箱左右移动时更加顺畅减少摩擦的同时,两根滚柱之间的上下落差使底板能够倾斜,便于内部的半导体晶圆滑出,减少人力使用。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体晶圆的分拣平台


技术介绍

1、半导体晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的单晶硅。硅晶棒在经过研磨、抛光、切片后形成硅晶圆片,也就是晶圆。

2、半导体晶圆在制作过程中需要进行分拣,现有的分拣平台将产品放置在称重台上,称重后通过u型推板将物品移动至不同的送料装置上,但称重台与送料装置之间有空隙,在进行推动时物品可能卡在缝隙中造成器械损坏,且在推动过程中由于重量与台面摩擦,使推动不顺畅。


技术实现思路

1、本技术提供一种可以减少摩擦,移动顺畅的半导体晶圆的分拣平台。

2、本技术的目的是这样实现的:

3、半导体晶圆的分拣平台,包括操作台,所述操作台的上表面固定连接有称重台,便于对半导体晶圆进行称重,所述操作台的前表面固定连接有控制箱,控制箱控制电机的启动,所述操作台的侧表面固定连接有安装板,所述安装板的侧表面固定连接有电机,电机为放置箱的移动提供动力,所述电机的输出端固定连接有丝杠,所述丝杠的侧表面螺纹连接有套筒,所述套筒的侧表面活动连接有限位块,限位块避免套筒进行转动;

4、所述限位块的侧表面固定连接有放置箱,使待检测的半导体晶圆进行放置,所述放置箱的内部固定连接有检测器,便于检测,所述放置箱的侧内壁固定连接有固定轴,所述固定轴的侧表面转动连接有底板,底板在固定轴的作用下可以翻转,便于内部的材料滑出,所述操作台的侧表面转动连接有滚柱,滚柱使放置箱的移动更加顺畅,同时两根滚柱之间有位置高低落差,使底板能够翻转,所述操作台的侧表面固定连接有第一导向板,对滑出的半导体晶圆进行导向,所述操作台的侧表面固定连接有固定板,所述操作台的侧表面固定连接有第二导向板,所述操作台的侧表面固定连接有第一传送机构,所述操作台的侧表面固定连接有第二传送机构,便于传输。

5、所述控制箱与外部电源连接,所述控制箱与电机连接。

6、所述电机与外部电源连接,所述限位块的下表面与操作台接触。

7、所述限位块的侧表面与称重台接触,所述称重台与控制箱连接。

8、所述放置箱的下表面与称重台接触,所述底板的下表面与称重台接触。

9、所述检测器与控制箱连接,所述底板的侧表面与放置箱接触。

10、所述套筒的侧表面与固定板接触,所述丝杠的侧表面与固定板转动连接。

11、所述放置箱的下表面与滚柱接触,所述底板的下表面与滚柱接触。

12、本技术的有益效果是:

13、这种半导体晶圆的分拣平台通过控制箱、电机、放置箱与称重台、检测器对半导体晶圆进行检测与称重,将合格与不合格的半导体进行区分,配合使其被第一传送机构或第二传送机构运输,放置箱内的底板与滚柱配合,使放置箱左右移动时更加顺畅减少摩擦的同时,两根滚柱之间的上下落差使底板能够倾斜,便于内部的半导体晶圆滑出,移动顺畅,减少人力使用。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,包括操作台(1),所述操作台(1)的上表面固定连接有称重台(2),所述操作台(1)的前表面固定连接有控制箱(3),所述操作台(1)的侧表面固定连接有安装板(4),所述安装板(4)的侧表面固定连接有电机(5),所述电机(5)的输出端固定连接有丝杠,所述丝杠的侧表面螺纹连接有套筒(6),所述套筒(6)的侧表面活动连接有限位块(7);

2.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述控制箱(3)与外部电源连接,所述控制箱(3)与电机(5)连接。

3.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述电机(5)与外部电源连接,所述限位块(7)的下表面与操作台(1)接触。

4.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述限位块(7)的侧表面与称重台(2)接触,所述称重台(2)与控制箱(3)连接。

5.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述放置箱(8)的下表面与称重台(2)接触,所述底板(10)的下表面与称重台(2)接触。

6.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述检测器与控制箱(3)连接,所述底板(10)的侧表面与放置箱(8)接触。

7.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述套筒(6)的侧表面与固定板(13)接触,所述丝杠的侧表面与固定板(13)转动连接。

8.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述放置箱(8)的下表面与滚柱(11)接触,所述底板(10)的下表面与滚柱(11)接触。

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【技术特征摘要】

1.半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,包括操作台(1),所述操作台(1)的上表面固定连接有称重台(2),所述操作台(1)的前表面固定连接有控制箱(3),所述操作台(1)的侧表面固定连接有安装板(4),所述安装板(4)的侧表面固定连接有电机(5),所述电机(5)的输出端固定连接有丝杠,所述丝杠的侧表面螺纹连接有套筒(6),所述套筒(6)的侧表面活动连接有限位块(7);

2.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述控制箱(3)与外部电源连接,所述控制箱(3)与电机(5)连接。

3.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其特征在于,所述电机(5)与外部电源连接,所述限位块(7)的下表面与操作台(1)接触。

4.根据权利要求1所述的半导体晶圆的分拣平台,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈叶清徐春平
申请(专利权)人:江阴市优立拓科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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