System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种mini LED的老化性能的测试方法及装置制造方法及图纸_技高网

一种mini LED的老化性能的测试方法及装置制造方法及图纸

技术编号:41144014 阅读:2 留言:0更新日期:2024-04-30 18:12
本发明专利技术涉及一种mini LED的老化性能的测试方法及装置。其中方法包括:获取每个待测试的mini LED灯珠的唯一标识编号;捕获待测试产品的端子接口的图像,并根据预设的端子接口位置,调整待测试产品的端子接口的位置;获取当前的测试温度,判断当前的测试温度是否处于预设的温度范围内;若否,则向温控设备发送调整指令,使得调整后的测试温度处于预设的温度范围内;若是,则对待测试产品通过不同的驱动条件进行老化性能测试和判定,将判定结果上传至制造执行系统(MES)上。解决了传统的LED老化测试的方法耗费大量的时间和资源的问题。本发明专利技术具有更省时间、可溯源的对mini LED进行老化测试的效果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子产品老化测试,尤其涉及一种mini led的老化性能的测试方法及装置。


技术介绍

1、mini led是一种新兴的显示技术,它采用了更小、更密集的led灯珠来提高显示屏的亮度、对比度和能效等性能。为了延长mini led的使用寿命和保持性能稳定性,可以将mini led进行老化处理,并对mini led的老化性能进行测试。

2、传统的mini led老化性能的测试方法有恒定电流老化测试、温度老化测试、循环老化测试、寿命测试。逐个采用这些方法进行老化测试需要长时间运行mini led来模拟实际使用情况,这将耗费大量的时间和资源。


技术实现思路

1、本专利技术目的一是提供一种mini led的老化性能的测试方法,具有更省时间、可溯源的对mini led进行老化测试的特点。

2、本专利技术的上述专利技术目的一是通过以下技术方案得以实现的:

3、一种mini led的老化性能的测试方法,包括:

4、获取每个待测试的mini led灯珠的唯一标识编号;

5、捕获待测试产品的端子接口的图像,所述待测试产品包括若干个待测试的miniled灯珠,并根据预设的端子接口位置,调整所述待测试产品的端子接口的位置,使得所述待测试产品的端子接口的位置与所述预设的端子接口位置重合,确保所述待测试产品都能够接通电源;

6、获取当前的测试温度,判断所述当前的测试温度是否处于预设的温度范围内;

7、当所述当前的测试温度不处于预设的温度范围内时,则向温控设备发送调整指令,使得调整后的测试温度处于预设的温度范围内;

8、当所述当前的测试温度处于预设的温度范围内时,则对所述待测试产品通过不同的驱动条件进行老化性能测试和判定,并根据所述唯一标识编号,将判定结果上传至制造执行系统(mes)上。

9、通过采用上述技术方案,首先通过为每个待测试的mini led灯珠分配唯一的标识编号,可以准确地追踪和记录每个灯珠的测试结果。这有助于后续的质量管理和追溯。其次通过捕获待测试产品端子接口的图像,并调整位置,确保产品能够接通电源。这有助于确保每个灯珠都能正常工作,并减少由于接触不良或连接错误导致的测试偏差。此外通过获取当前的测试温度并判断是否符合预设范围,可以确保在合适的温度条件下进行老化性能测试。当温度不在预设范围内时,通过向温控设备发送调整指令来调整温度,以确保测试条件的准确性和可重复性。最后在符合预设温度范围的条件下,对待测试产品使用不同的驱动条件进行老化性能测试。这可以评估mini led在长时间使用和不同驱动条件下的性能表现,如亮度衰减、色彩稳定性等。通过将判定结果上传至制造执行系统(mes),可以实现对测试结果的记录和分析,为后续的质量控制提供参考依据。

10、本专利技术在一较佳示例中可以进一步配置为,所述获取每个待测试的mini led灯珠的唯一标识编号,包括:

11、为每个待测试的mini led灯珠分配唯一标识编号;

12、向扫描装置发送启动信号,获取每个待测试的mini led灯珠的唯一标识编号,并上传至制造执行系统(mes)上。

13、通过采用上述技术方法,首先通过启动扫描装置,可以自动地获取每个待测试的mini led灯珠的唯一标识编号,避免了人工输入的错误和漏洞。其次为每个待测试的miniled灯珠分配唯一标识编号,可以准确地追踪并记录每个灯珠的测试结果,便于后续的质量管理和追溯。此外将获取到的每个待测试的mini led灯珠的唯一标识编号上传至制造执行系统(mes)上,可以实现数据共享和真正意义上的“全程追踪”。这有助于后续制造过程的监控和管理,并可以提高生产效率。

14、本专利技术在一较佳示例中可以进一步配置为,所述捕获待测试产品的端子接口的图像,所述待测试产品包括若干个待测试的mini led灯珠,并根据预设的端子接口位置,调整所述待测试产品的端子接口的位置,使得所述待测试产品的端子接口的位置与所述预设的端子接口位置重合,确保所述待测试产品都能够接通电源,包括:

15、捕获待测试产品的端子接口的图像,对所述端子接口的图像进行预处理,所述预处理包括灰度化、去噪、增强,得到预处理后的图像;

16、通过计算机视觉算法识别出所述待测试产品的端子接口的坐标和方向;

17、获取预设的端子接口的坐标和方向,根据所述预设的端子接口的坐标和方向,发送位置调整信号,使得所述待测试产品的端子接口的位置与所述预设的端子接口位置重合,确保所述待测试产品都能够接通电源。

18、通过采用上述技术方法,首先通过对捕获的端子接口图像进行预处理,如灰度化、去噪、增强等,可以提高图像质量,从而更准确地识别出端子接口的坐标和方向。其次通过计算机视觉算法,对预处理后的图像进行分析和处理,可以精确地识别出待测试产品的端子接口的坐标和方向。此外获取预设的端子接口的坐标和方向,并根据预设位置发送位置调整信号,使得待测试产品的端子接口的位置与预设位置重合。这样可以确保所有待测试产品都能够准确地接通电源,避免接触不良或者电路故障。

19、本专利技术在一较佳示例中可以进一步配置为,所述通过计算机视觉算法识别出所述待测试产品的端子接口的坐标和方向,包括:

20、使用特征提取算法从预处理后的图像中提取出待测试产品的端子接口的特征点;

21、根据所述预设的端子接口的坐标和方向计算出所述待测试产品的端子接口的坐标和方向。

22、通过采用上述技术方法,首先使用特征提取算法从预处理后的图像中提取待测试产品的端子接口的特征点。这些特征点可以是端子接口的边缘、角点等显著的图像特征。通过提取这些特征点,可以准确地表示端子接口的形状和位置。其次根据预设的端子接口的坐标和方向,结合提取到的特征点信息,计算出待测试产品的端子接口的坐标和方向。这样可以确定端子接口在图像中的具体位置和朝向。

23、本专利技术在一较佳示例中可以进一步配置为,所述当所述当前的测试温度处于预设的温度范围内时,则对所述待测试产品通过不同的驱动条件进行老化性能测试和判定,并根据所述唯一标识编号,将判定结果上传至制造执行系统(mes)上,包括:

24、当所述当前的测试温度处于预设的温度范围内时,通过输出不同的电流值,来实现对所述待测试产品的红、绿、蓝三色的驱动条件的调节,通过改变pwm信号的占空比,来实现所述待测试产品的亮度调节;

25、获取所述待测试产品的性能参数,所述性能参数包括亮度衰减、色坐标变化;

26、根据预设的判定标准的范围,比较获取的性能参数与所述预设的判定标准的范围的差异;

27、如果所述获取的性能参数超出了所述预设的判定标准的范围,则将该所述待测试产品标记为不合格;

28、如果所述获取的性能参数处于所述预设的判定标准的范围内,则将该所述待测试产品标记为合格;

29、根据唯一标识编号将判定结果上本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种mini LED的老化性能的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取每个待测试的mini LED灯珠的唯一标识编号,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述捕获待测试产品的端子接口的图像,所述待测试产品包括若干个待测试的mini LED灯珠,并根据预设的端子接口位置,调整所述待测试产品的端子接口的位置,使得所述待测试产品的端子接口的位置与所述预设的端子接口位置重合,确保所述待测试产品都能够接通电源,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述通过计算机视觉算法识别出所述待测试产品的端子接口的坐标和方向,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当所述当前的测试温度处于预设的温度范围内时,则对所述待测试产品通过不同的驱动条件进行老化性能测试和判定,并根据所述唯一标识编号,将判定结果上传至制造执行系统(MES)上,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

7.一种mini LED的老化性能的测试装置,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置包括:

9.一种mini LED的老化性能的测试装置,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至6中任一种方法的计算机程序。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,存储有能够被处理器加载并执行如权利要求1至6中任一种方法的计算机程序。

...

【技术特征摘要】

1.一种mini led的老化性能的测试方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取每个待测试的mini led灯珠的唯一标识编号,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述捕获待测试产品的端子接口的图像,所述待测试产品包括若干个待测试的mini led灯珠,并根据预设的端子接口位置,调整所述待测试产品的端子接口的位置,使得所述待测试产品的端子接口的位置与所述预设的端子接口位置重合,确保所述待测试产品都能够接通电源,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述通过计算机视觉算法识别出所述待测试产品的端子接口的坐标和方向,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当所述当...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡稳雷杨周泽华颜周林董士龙
申请(专利权)人:深圳市广晟德科技发展有限公司
类型:发明
国别省市:

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