【技术实现步骤摘要】
本申请涉及显示屏测试领域，尤其是涉及一种显示屏自动测试方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、mini led是指尺寸在100μm量级的led芯片，尺寸介于小间距led与micro led之间，是小间距led进一步精细化的结果。mini led显示屏与led显示屏相比，具备更加优良的显示效果，响应速度有着数量级的提升，并且mini led显示屏更轻薄，能够大幅度降低功耗。mini led显示屏与oled显示屏对比，mini led显示屏在保持着出色的显示效果和柔性的同时，拥有更快的响应速度、更高的高温可靠性。
2、mini led显示屏在显示屏中具有明显的优势，在mini led显示屏的生产和使用过程中，为了确保其稳定性需要对mini led显示屏进行测试，但是由于mini led显示屏具有尺寸小、灯珠之间间距小的特性，如果依靠人工进行测试可能会产生人工疲劳度高导致测试效率低下的问题。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种显示屏自动测试方法、装置及存储介质，能够提升显示屏测试的效率。
2、第一方面，本申请提供的一种显示屏自动测试方法采用如下的技术方案：
3、一种显示屏自动测试方法，包括：
4、接收采集到的显示屏灯珠分布图像；
5、根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色；
6、获取所需的测试条件和采集到的环境数据，根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号；
7、根据显示屏的灯珠位置和灯珠基
8、接收显示屏分批点亮测试过程中采集到的测试数据，和/或，接收显示屏直线扫描测试过程中采集到的测试数据；
9、根据测试数据得到显示屏测试结果。
10、通过采用上述技术方案，本申请通过采集显示屏的灯珠分布图像，利用图像识别方法自动识别灯珠位置和灯珠基色，再根据灯珠位置和灯珠基色进行显示屏测试，实现显示屏的自动化测试，无需人工操作，能够有效提升测试效率，降低人工成本。同时，可以根据实际情况选择分批点亮测试或直线扫描测试，进一步提升测试效率。
11、进一步的，所述根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色，具体包括：
12、构建显示屏灯珠分布模型；
13、提取采集到的显示屏灯珠分布图像的特征图像；
14、将特征图像与显示屏灯珠分布模型进行匹配，得到显示屏的灯珠位置和灯珠基色。
15、通过采用上述技术方案，本申请使用了图像识别方法，通过将显示屏灯珠分布图像的特征图像与显示屏灯珠分布模型进行匹配，能够识别出显示屏灯珠分布图像中每个灯珠对应的灯珠位置和灯珠基色，无需通过人工对灯珠位置和灯珠基色进行确认，有效提升显示屏测试的效率。
16、进一步的，所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号，具体包括：
17、获取不同基色的灯珠的重要性和历史故障率；
18、根据重要性和历史故障率生成每个基色的灯珠的点亮优先级；
19、根据点亮优先级生成分批点亮测试信号。
20、通过采用上述技术方案，本申请采用分批点亮的测试方法，可以对不同基色的灯珠进行分批点亮，按照点亮优先级逐步测试，点亮优先级可以根据实际使用时对各个基色的灯珠的重要性需求和以往测试或使用过程中记录的历史故障率来确认，具体为重要性越高、历史故障率越高的基色的灯珠的点亮优先级越高，能够对不同基色的灯珠进行针对性测试，增加测试过程的可靠性以及测试结果的准确性。
21、进一步的，所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号，还包括：当接收到某基色的灯珠的故障反馈信号时，生成对该基色的灯珠的隔离信号，并生成对其他基色的灯珠的分批点亮测试信号。
22、通过采用上述技术方案，本申请采用分批点亮的测试方法，当某个基色的灯珠出现故障时，对该基色的灯珠进行隔离，对除了该基色之外的基色的灯珠进行正常的点亮测试，以避免故障基色的灯珠对其他基色的灯珠产生影响，同时能够节约显示屏测试的时间。
23、进一步的，所述根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号，具体包括：
24、获取灯珠性能参数和老化程度；
25、根据灯珠老化程度得到直线扫描速度；
26、根据直线扫描速度生成直线扫描信号。
27、通过采用上述技术方案，本申请在进行直线扫描时考虑到灯珠的性能和老化程度，对于性能较好、老化程度较低的灯珠，可以采用较快的直线扫描速度，以提升测试的效率；而对于性能较差、老化程度较高的灯珠，则采用较慢的直线扫描速度，以确保测试过程的准确性。
28、进一步的，所述获取所需的测试条件和采集到的环境数据，根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号，具体包括：
29、获取所需的温度测试条件和采集到的温度环境数据，根据温度测试条件和温度环境数据生成温度测试控制信号。
30、通过采用上述技术方案，本申请的测试条件包括温度，温度对显示屏的老化存在一定的影响，通过温度测试能够模拟显示屏在不同温度测试条件下的使用情况，通过监测其性能变化进而得到温度对显示屏的性能影响是否能够满足标准。本申请能够根据温度测试条件和温度环境数据自动生成温度测试控制信号，进一步实现显示屏的自动化测试，提升测试效率。
31、进一步的，所述获取所需的测试条件和采集到的环境数据，根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号，还包括：
32、获取所需的湿度测试条件和采集到的湿度环境数据，根据湿度测试条件和湿度环境数据生成湿度测试控制信号。
33、通过采用上述技术方案，本申请的测试条件包括湿度，湿度对显示屏的老化存在一定的影响，通过湿度测试能够模拟显示屏在不同湿度条件下的使用情况，通过监测其性能变化进而得到湿度对显示屏的性能影响是否能够满足标准。本申请能够根据湿度测试条件和湿度环境数据自动生成湿度测试控制信号，进一步实现显示屏的自动化测试，提升测试效率。
34、进一步的，根据光照环境数据和光照测试条件生成光照测试控制信号；
35、和/或，根据电气信号环境数据和电气信号测试条件生成电气信号测试控制信号；
36、和/或，根据机械应力环境数据和机械应力测试条件生成机械应力测试控制信号。
37、通过采用上述技术方案，本申请的测试条件还包括光照、电气信号和机械应力，通过光照测试、电气信号测试和机械应力测试能够全面测试并评估显示屏的性能，提升测试的可靠性和准确性。
38、第二方面，本申请提供的一种显示屏自动测试装置采用如下的技术方案：
39、一种显示屏自动测试装置，包括处理器，处理器用于执行第一方面所述的一种显示屏自动测试方法，还包括：
40、图像采集设备，用于采集显示屏灯珠分布图像，并将显示屏灯珠分布图像上传至处理本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种显示屏自动测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色，具体包括：
3.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号，具体包括：
4.根据权利要求3所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号，还包括：当接收到某基色的灯珠的故障反馈信号时，生成对该基色的灯珠的隔离信号，并生成对其他基色的灯珠的分批点亮测试信号。
5.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号，具体包括：
6.根据权利要求1-5任一项所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述获取所需的测试条件和采集到的环境数据，根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号，具体包括：
7.根据权利要求6所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述获取所需的测试条件和采集到的环境数据
8.根据权利要求7所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据测试条件和环境数据生成测试条件控制信号，还包括：
9.一种显示屏自动测试装置，其特征在于，包括处理器(1)，处理器(1)用于执行权利要求1-8任一项所述的一种显示屏自动测试方法，还包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有能够被处理器(1)加载并执行如权利要求1-8任一项所述的一种显示屏自动测试方法的计算机程序。
...【技术特征摘要】
1.一种显示屏自动测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据灯珠分布图像识别显示屏的灯珠位置和灯珠基色，具体包括：
3.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号，具体包括：
4.根据权利要求3所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据显示屏的灯珠位置和灯珠基色生成分批点亮测试信号，还包括：当接收到某基色的灯珠的故障反馈信号时，生成对该基色的灯珠的隔离信号，并生成对其他基色的灯珠的分批点亮测试信号。
5.根据权利要求1所述的一种显示屏自动测试方法，其特征在于，所述根据显示屏的灯珠位置生成直线扫描测试信号，具体包括：
6.根据权利要求1-5任一项...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡君榕，胡稳，周泽华，颜周林，
申请(专利权)人：深圳市广晟德科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：
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