【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及智能卡，尤其涉及一种智能卡老化测试方法、装置及存储介质。
技术介绍
1、智能卡在使用寿命临近时总是不可避免地出现老化的情况，当智能卡接近或达到它的使用寿命时可能会出现各种各样的问题，有些可能还会给使用者带来一定程度的损失。一般地，同一类型的智能卡在相同的外部环境中的寿命基本上在一个稳定的范围之内。
2、传统的智能卡老化测试中，通过测试终端对智能卡的数据进行逐一读取，测试周期长，测试速度过慢，测试效率过低。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术实施例的目的是提供一种智能卡老化测试方法、装置及存储介质，能够提高智能卡老化测试的效率以及测试速度，减少测试周期。
2、第一方面，本专利技术实施例提供了一种智能卡老化测试方法，应用于智能卡，所述智能卡与终端通信连接，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域、目标区和第二数据区域，所述第一数据区域设置有第一数据，所述第二数据区域设置有第二数据，所述第一数据和所述第二数据不相同，所述方法包括：
3、获取所述终端发送的选择应用指令，并根据所述选择应用指令选择所述应用；
4、获取所述终端发送的更新自检指令；
5、根据所述更新自检指令进行所述应用的写入事务，所述写入事务表征分别将所述第一数据和所述第二数据写入所述目标区，并生成返回值，所述返回值为所述智能卡的所述应用根据所述第一数据和所述第二数据先后写入所述目标区后进行比较所生成的值；
6、向所述终端发送所述返
7、第二方面，本专利技术实施例提供了一种智能卡老化测试方法，应用于终端，所述终端与智能卡通信连接，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域、目标区和第二数据区域，所述第一数据区域设置有第一数据，所述第二数据区域设置有第二数据，所述第一数据和所述第二数据不相同，所述方法包括：
8、向所述智能卡发送选择应用指令，以使所述智能卡根据所述选择应用指令选择所述应用；
9、向所述智能卡发送更新自检指令，以使所述智能卡根据所述更新自检指令进行所述应用的写入事务，所述写入事务表征分别将所述第一数据和所述第二数据写入所述目标区，并生成返回值，所述返回值为所述智能卡的所述应用根据所述第一数据和所述第二数据先后写入所述目标区后进行比较所生成的值；
10、接收所述智能卡发送的所述返回值；
11、根据所述返回值确定继续老化测试或结束老化测试。
12、第三方面，本专利技术实施例提供了一种智能卡老化测试装置，应用于智能卡，所述装置包括：
13、至少一个处理器；
14、至少一个存储器，用于存储至少一个程序；
15、当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如上所述的方法。
16、第四方面，本专利技术实施例提供了一种智能卡老化测试装置，应用于终端，所述装置包括：
17、至少一个处理器；
18、至少一个存储器，用于存储至少一个程序；
19、当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如上所述的方法。
20、第五方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如上所述的方法。
21、实施本专利技术实施例包括以下有益效果：本专利技术实施例提供一种智能卡老化测试方法，包括：获取所述终端发送的选择应用指令，并根据所述选择应用指令选择所述应用；获取所述终端发送的更新自检指令；根据所述更新自检指令进行所述应用的写入事务，所述写入事务表征分别将所述第一数据和所述第二数据写入所述目标区，并生成返回值；向所述终端发送所述返回值，以使所述终端根据所述返回值继续老化测试或结束老化测试。在本实施例的技术方案中，通过选择应用对智能卡进行老化测试，减少了终端与智能卡之间的数据交互，测试速度快，测试周期短。
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1.一种智能卡老化测试方法，其特征在于，应用于智能卡，所述智能卡与终端通信连接，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域、目标区和第二数据区域，所述第一数据区域设置有第一数据，所述第二数据区域设置有第二数据，所述第一数据和所述第二数据不相同，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述返回值继续老化测试或结束老化测试，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述返回值包括第一返回值和第二返回值，所述写入事务，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二比较结果生成第一返回值或第二返回值，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二比较结果表征所述第二数据与所述目标区的数据相同的情况下，生成第一返回值，具体包括：
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述写入事务，包括：
7.一种智能卡老化测试方法，其特征在于，应用于终端，所述终端与智能卡通信连接，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域、目标区和第二数据区域，所述
8.一种智能卡老化测试装置，其特征在于，应用于智能卡，所述装置包括：
9.一种智能卡老化测试装置，应用于终端，所述装置包括：
10.一种计算机可读存储介质，其中存储有处理器可执行的程序，其特征在于，所述处理器可执行的程序在由处理器执行时用于执行如权利要求1-6任一项所述的方法或用于执行如权利要求7所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种智能卡老化测试方法，其特征在于，应用于智能卡，所述智能卡与终端通信连接，所述智能卡设置有应用，所述智能卡包括第一数据区域、目标区和第二数据区域，所述第一数据区域设置有第一数据，所述第二数据区域设置有第二数据，所述第一数据和所述第二数据不相同，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述终端根据所述返回值继续老化测试或结束老化测试，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述返回值包括第一返回值和第二返回值，所述写入事务，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二比较结果生成第一返回值或第二返回值，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二比较结果表征所述第二数据与所述目标区的数据相同的情况下，生...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨黄林，程冉，袁外平，黄卫文，罗佳，付文俊，陈宇英，
申请(专利权)人：星汉智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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