【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学薄膜领域，尤其涉及一种光学薄膜瑕疵识别方法及其应用。
技术介绍
1、光学薄膜优异的透光性对膜面有很高的要求，光学级薄膜生产中，薄膜经拖动系统拖动至收卷，在薄膜经过某个附着异物或表面带有凹凸损伤的拖动系统时，在异物应力及拖动运行的速度下，或外物与运行薄膜接触时，会对光学级薄膜表面造成极其微小的损伤。成品表现为纵向带有固定间距或无规律连续出现亮线，长度不一，产品表面在反射光下极为明亮，与光学薄膜表面反射光形成极大的反差，这种瑕疵业内称之为划伤。严重影响产品的表观质量，降低成品率。
2、而在光学薄膜的生产过程中，通常薄膜的干燥区域会经过400～600根导辊的传动，在薄膜与导辊之间可能会存在异物随着转动摩擦，造成规律性、毫米级或者微米级的划伤；另一方面，导辊过大的转动阻力导致其与薄膜形成位移，导辊的硬度对薄膜表面造成划伤，这种划伤类型随机性和隐蔽性都较强，排查较为困难。在现有的瑕疵处理方法中，需要先检查薄膜运行区域中距离较近的接触物，排查是否为外物接触运行的薄膜而发生剐蹭形成划伤；再排查所有带动薄膜运行的导辊，被动辊与主动辊，如发现有导辊轴承转动不灵或停转，需要轴承加油或更换，如未发现轴承异常，需要将所有导辊轴承加油润滑，大范围处理，难度较大。另一方面，可以增强拖动张力，使得薄膜具有更大能力带动无动力导辊，避免因为过大的速度差而导致的磨损，但是这样的方法容易出现纵向的张力线类折皱，得不偿失。
3、而在瑕疵的排查识别和确认方法中，cn103630547b提供了一种周期性结构的光学薄膜的瑕疵检测方法
4、因此，为了解决上述问题，本申请提供了一种光学薄膜瑕疵识别方法。
技术实现思路
1、为了解决上述问题，本专利技术第一方面提供了一种光学薄膜瑕疵识别方法，步骤包括以下几步：s1：瑕疵区域的识别确认，确定反光线位置；s2：薄膜双表面的有色染料浸润；s3：观察有色染料浸润后的薄膜双表面的反光线变化，对比确认瑕疵所在表面。
2、作为一种优选的方案，所述s1步骤包括静态瑕疵识别方法和动态瑕疵识别方法。
3、作为一种优选的方案，所述静态瑕疵识别方法为：薄膜在静止状态下，通过光源聚集照射，在薄膜表层形成光斑，光斑以薄膜宽幅为横坐标移动，光源与薄膜形成一定的照射夹角，设置观察点，观察点与光源照射方向形成反射角并确保观察点在光源上方，之后在观察点横向观察光斑内的变化，如有划伤会在光斑中呈现细条状亮线(反光线)，其与光斑反光亮度不同。
4、作为一种优选的方案，所述光斑为圆形无影光斑；所述圆形无影光斑的直径为50～200mm。
5、作为一种优选的方案，所述静态瑕疵识别方法中光源与薄膜形成的照射夹角为30～60°；所述静态瑕疵识别方法中观察点与光源照射方向形成反射角为30～60°。
6、作为一种优选的方案，所述动态瑕疵识别方法为：待导辊拖动薄膜运行时，同样通过光源聚集照射，在薄膜表层形成光斑，光源平行于薄膜表面移动，光源与薄膜形成一定的照射夹角，设置观察点，观察点与光源照射方向形成反射角并确保观察点在光源下方，之后在观察点横向观察光斑内的变化，如有划伤会在光斑中呈现细条状亮线(反光线)，其与光斑反光亮度不同。
7、作为一种优选的方案，所述动态瑕疵识别方法中光源与薄膜形成的照射夹角为30～60°；所述动态瑕疵识别方法中观察点与光源照射方向形成反射角为30～60°。
8、作为一种优选的方案，所述s2步骤为：在薄膜的双表面涂抹浸润可附着性有色染料，涂抹浸润位置要全面覆盖s1步骤中反光线位置。
9、作为一种优选的方案，所述s3步骤为：通过涂抹浸润有色染料后的光的漫反射作用观察不同薄膜表面观察点处的反光线变化，进而对比判断瑕疵所在表面。
10、作为一种优选的方案，本申请中当有色染料浸入到瑕疵所在薄膜面时，有色染料在薄膜瑕疵处会改变划伤的反光面，形成光的漫反射，此时在瑕疵所在薄膜面的观察点进行观察时，反光线消失，而在未有瑕疵薄膜面的相同位置处，其观察点所观察到的反光线会暗淡或消失。
11、作为一种优选的方案，本申请中当有色染料浸入到未有瑕疵薄膜面的瑕疵相同位置时，受到光的漫反射影响，未有瑕疵薄膜面的观察点处的反光线消失，而此时瑕疵所在薄膜面的观察点处依旧能够清晰观察到反光线显现。
12、因此，本申请中可以通过上述两种有色染料的浸润不同薄膜面的结果进而判断瑕疵所在薄膜确切表面。这主要是因为，本申请中可以通过对于光学薄膜两面观察点的巧妙设计，在确定瑕疵所处具体位置后，通过有色染料引发的光学薄膜的光的漫反射作用，观察“标记物”反光线的存在情况，因为受到瑕疵存在的影响，当有色染料浸润不同的光学薄膜表面时，瑕疵的存在使得光的漫反射作用出现差异，而这种差异能够直接导致反光线显象情况，因而在不断的观察对比中，能够直接确定瑕疵所在面，进而可以针对瑕疵位置对于导辊进行清洁或者修复处理，比以往的处理方法至少提高了50％效率。
13、本专利技术第二方面提供了一种上述光学薄膜瑕疵识别方法的应用，包括该光学薄膜瑕疵识别方法在光学薄膜制备工艺中的应用。
14、有益效果：
15、1、本申请中提供的一种光学薄膜瑕疵识别方法，其能够简单有效的识别光学薄膜中瑕疵所在的面，方法简便高效，时间和人工成本低，降低企业排查成本。
16、2、本申请中提供的一种光学薄膜瑕疵识别方法，不同于现有的光学薄膜瑕疵识别方法无法快速准确识别瑕疵所在表面的问题，其能够通过巧妙的利用不同薄膜表面的光的漫反射现象，直接确定瑕疵所在的表面。
17、3、本申请中提供的一种光学薄膜瑕疵识别方法，在实际的应用过程中，因为可以快速确认瑕疵在光学薄膜的表面，从而在导辊的清理和修复中可以直接排除一半可能存在隐患的设备位置，进而至少提高50％的导辊修复效率。
18、4、本申请中提供的一种光学薄膜瑕疵识别方法，通过对于光学薄膜两面观察点的巧妙设计，在确定瑕疵所处具体位置后，通过有色染料引发的光学薄膜的光的漫反射作用，观察“标记物”反光线的存在情况，因为受到瑕疵存在的影响，当有色染料浸润不同的光学薄膜表面时，瑕疵的存在使得光的漫反射作用出现差异，而这种差异能够直接导致反光线显象情况，因而在不断的观察对比中，能够直接确定瑕疵所在面。
19、5、本申请中提供的一种光学薄膜瑕疵识别方法，可以线下通过划伤在薄膜的横向位置，以及分段筛选纵向位置，最终以浸涂辨识的方法，锁定薄膜损伤面的具体位置。同时在薄膜的线上使用划伤观察方法，以薄膜路径分段形式为观察单位，逐段观测定位处理，节省用时，提升作业效率。
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1.一种光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：步骤包括以下几步：S1：瑕疵区域的识别确认，确定反光线位置；S2：薄膜双表面的有色染料浸润；S3：观察有色染料浸润后的薄膜双表面的反光线变化，对比确认瑕疵所在表面。
2.根据权利要求1所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述S1步骤包括静态瑕疵识别方法和动态瑕疵识别方法。
3.根据权利要求2所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述静态瑕疵识别方法为：薄膜在静止状态下，通过光源聚集照射，在薄膜表层形成光斑，光斑以薄膜宽幅为横坐标移动，光源与薄膜形成一定的照射夹角，设置观察点，观察点与光源照射方向形成反射角并确保观察点在光源上方，之后在观察点横向观察光斑内的变化，如有划伤会在光斑中呈现细条状亮线，其与光斑反光亮度不同。
4.根据权利要求3所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述光斑为圆形无影光斑；所述圆形无影光斑的直径为50～200mm。
5.根据权利要求4所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述静态瑕疵识别方法中光源与薄膜形成的照射夹角为30～60°；所述静态瑕疵识别方法中观察
6.根据权利要求5所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述动态瑕疵识别方法为：待导辊拖动薄膜运行时，同样通过光源聚集照射，在薄膜表层形成光斑，光源平行于薄膜表面移动，光源与薄膜形成一定的照射夹角，设置观察点，观察点与光源照射方向形成反射角并确保观察点在光源下方，之后在观察点横向观察光斑内的变化，如有划伤会在光斑中呈现细条状亮线，其与光斑反光亮度不同。
7.根据权利要求6所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述动态瑕疵识别方法中光源与薄膜形成的照射夹角为30～60°；所述动态瑕疵识别方法中观察点与光源照射方向形成反射角为30～60°。
8.根据权利要求7所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述S2步骤为：在薄膜的双表面涂抹浸润可附着性有色染料，涂抹浸润位置要全面覆盖S1步骤中反光线位置。
9.根据权利要求8所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述S3步骤为：通过涂抹浸润有色染料后的光的漫反射作用观察不同薄膜表面观察点处的反光线变化，进而对比判断瑕疵所在表面。
10.一种根据权利要求1～9任一项所述的光学薄膜瑕疵识别方法的应用，其特征在于：包括该光学薄膜瑕疵识别方法在光学薄膜制备工艺中的应用。
...【技术特征摘要】
1.一种光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：步骤包括以下几步：s1：瑕疵区域的识别确认，确定反光线位置；s2：薄膜双表面的有色染料浸润；s3：观察有色染料浸润后的薄膜双表面的反光线变化，对比确认瑕疵所在表面。
2.根据权利要求1所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述s1步骤包括静态瑕疵识别方法和动态瑕疵识别方法。
3.根据权利要求2所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述静态瑕疵识别方法为：薄膜在静止状态下，通过光源聚集照射，在薄膜表层形成光斑，光斑以薄膜宽幅为横坐标移动，光源与薄膜形成一定的照射夹角，设置观察点，观察点与光源照射方向形成反射角并确保观察点在光源上方，之后在观察点横向观察光斑内的变化，如有划伤会在光斑中呈现细条状亮线，其与光斑反光亮度不同。
4.根据权利要求3所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述光斑为圆形无影光斑；所述圆形无影光斑的直径为50～200mm。
5.根据权利要求4所述的光学薄膜瑕疵识别方法，其特征在于：所述静态瑕疵识别方法中光源与薄膜形成的照射夹角为30～60°；所述静态瑕疵识别方法中观察点与光源照射方向形成反射角为30～60°。
6.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：贾克，王超，王力任，要文通，
申请(专利权)人：乐凯光电材料有限公司，
类型：发明
国别省市：
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