触控点检测方法技术

本发明专利技术提供一种用于电容式触控面板的触控点检测方法，该方法包括借由于水平方向与垂直方向上，扫描电容式触控面板的感测电容，得到对应于各感测电容的第一差异信号与第二差异信号、累计同列感测电容的第一差异信号，以产生对应于各列感测电容的列负载信号、累计同行感测电容的第二差异信号，以产生对应于各行感测电容的行负载信号、比较对应于一感测电容的列负载信号与行负载信号，以据以选择对应于该感测电容的第一差异信号或第二差异信号，以及依据所选择的差异信号与触控阈值，以判断该感测电容是否为一触控点。本发明专利技术的触控点检测方法可得到更正确的触控点检测结果。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触控检测技术，尤其涉及一种用于电容式触控面板的触控点检测 方法。
技术介绍
于各类消费性电子产品中，触控面板已被广泛使用作为输入装置。使用者透过手 指或触控笔等装置在触控面板上的点触、滑动、书写等动作，可对触控面板上所显示的物件 或选单直接下指令及操作，以提供更方便的人机操作界面。以不同感测技术来区分，触控面 板可分为电容式、电阻式、光学式等。请参考图1，图1为说明现有技术的电容式触控面板 100的示意图。电容式触控面板100包括有感测电容C11 Cm、电极X1 Xm与Y1 Yn，其 中感测电容C11 Cmn与电极X1 Xm以及电极Y1 Yn之间的耦接关系如图1所示，故不再 赘述。以下将说明在现有技术中，用于电容式触控面板100的的工作原理。在电容式触控面板100中，当透过电极Y1 Yn扫描各行感测电容时，可透过电极 X1 Xm读取感测电容C11 Cmn所产生的感测信号Sseni ii SSEN1—w。当透过电极X1 Xm扫 描每列感测电容时，可透过电极Y1 Yn读取感测电容C11 Cmn所产生的感测信号Ssen211 SSEN2— 。此外，借由平均感测电容Cn Cm于电容式触控面板100尚未被触碰时所产生的感 测信号Sseni ii Sseni mn,可产生一基准值BASE来表示一感测电容于未被触碰时所产生的感 测信号。如此，于检测触控点时，可将感测信号Sseni ii Sseni mn与基准值BASE相减，以得到 可反映出感测信号Sseni ii Sseni mn的变化的差异信号Sdiffi ii SDIFF1—w。举例而言，第A个 感测电容的差异信号Sdiffi a可由下式计算Sdiffla = abs (Ssenla-BASE) . . . (1)；其中abs表示取绝对值，Ssenla表示第A个感测电容所产生的感测信号，BASE表示 基准值。同理，依据式(1)将感测信号Ssen211 Ssenon与基准值BASE相减，可得到可反映 出感测信号SSEN2—n Ssenon的变化的差异信号Sdiff211 SDIFF2—_。此时，借由检测差异信号 Sdiffiji Sdiffi mn与差异信号SDIFF2—n Sdiffon，可判断感测电容所产生的感测信号的变化的 程度，并据以判断触控点的位置。更明确地说，现有技术的将对应于感测电 容Ca的差异信号Sdiffi a以及Sdiff2 a与一触控阈值THtquch比较。当差异信号Sdiffi a与SDIFF2— α皆大于触控阈值ΤΗτ_时，现有技术的判断感测电容Ca为一触控点。图2与图3图3为说明现有技术的于使用者作多点触控时，无法 正确地检测到触控点的示意图。图2为当使用者作多点触控时，对应于感测电容C11 Cmn 的差异信号Sdiffi η Sdiffi _的示意图。图3为当使用者作多点触控时，对应于感测电容 C11 Cmn的差异信号Sdiff211 Sdiff2 mn的示意图，其中设Μ、N皆为8，且触控阈值THTOUQI为 10。由图2与图3可看出，由于感测电容C32所产生的感测信号Sdiffi 32(21)与Sdiff2 32 ( 20) 皆大于触控阈值THtouqi(IO)，因此现有技术的可判断感测电容C32为一触控 点。同理，现有技术的也可判断感测电容C36与C38为触控点。然而，当感测电容Cu实际上为一触控点时，若第I列(或第J行)感测电容中有其他感测电容同时也为触控点，则感测电容( 可能透过电极X1(或Y^受到同列(或行) 感测电容中对应于触控点的感测电容的干扰，而产生不正确的感测信号Sseni u (或Ssen2 u)， 如此造成现有技术的的误判。举例而言，在图2中，感测电容C34实际上为 一触控点。然而，由于感测电容C34透过电极X3受到同列感测电容中对应于触控点的感测 电容(C32、C36与C38)的干扰，因此感测电容C34产生不正确的感测信号Sseni 34，导致差异信号 SDim—34(8)小于触控阈值THtouqi(10)。此时，虽然对应于感测电容C34的差异信号Sdiff2 34 (18) 大于触控阈值THtouqi (10)，然而，现有技术的却依据差异信号Sdiffi 34⑶，判 断感测电容C34不是触控点。换句话说，在电容式触控面板中，当使用者作多点触控时，现有 技术的可能无法正确地检测到触控点。
技术实现思路
为克服上述现有技术的缺陷，本专利技术提供一种。该触控点检测方 法用于一电容式触控面板。该电容式触控面板具有(MXN)个感测电容、M个第一电极与N 个第二电极。该(MXN)个感测电容耦接于该M个第一电极与该N个第二电极。该(MXN) 个感测电容沿着一第一方向排列成M列感测电容，且沿着相异于该第一方向的一第二方向 排列成N行感测电容。该包括透过该N个第二电极扫描该N行感测电容， 以得到对应于该(MXN)个感测电容的(MXN)个第一差异信号、针对各列感测电容，相加对 应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该M列感测电容的M 个列负载信号、透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以得到对应于该(MXN)个感测 电容的(MXN)个第二差异信号、针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的多个感 测电容的第二差异信号，以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号，以及依据该M个 列负载信号、该N个行负载信号、该(MXN)个第一差异信号、该(MXN)个第二差异信号与 一触控阈值，产生一触控点检测结果。M、N皆为正整数。相较于现有技术，本专利技术的可得到更正确的触控点检测结果。此 外，当一指示物对应于多个触控点时，本专利技术所提供的可依据多个触控点 所对应的感测电容的位置，以及其所对应的差异信号作为加权比例，计算出加权触控坐标， 以更正确地表示指示物所接触的位置。附图说明图1为说明现有技术的电容式触控面板的示意图。图2与图3为说明现有技术的于使用者作多点触控时，无法正确 地检测到触控点的示意图。图4为说明本专利技术的的一实施例的示意图。图5为说明本专利技术的所应用的电容式触控面板的示意图。图6与图7为说明经重置的差异信号的示意图。图8与图9为当指示物接触电容式触控面板时，对应于感测电容的差异信号的示 意图。图10为说明本专利技术的的另一实施例的示意图。其中，附图标记说明如下1、2100、500400410 450、1060 1070510520530540C11 C丽X1 XM、Y1 YnSdiffi ii Sdifflmn > Sdiff211 Sdiff2J1nT1 T具体实施例方式请参考图4。图4为说明本专利技术的400的示意图。 400用于电容式触控面板500 (如图5所示)。电容式触控面板500包括有感测电容C11 Cmn、电极X1 Xm与Y1 Yn、控制电路510、驱动电路520、感测电路530，以及切换电路540。 感测电容C11 Cmn沿着X方向(水平方向)排列成M列感测电容，且沿着Y方向(垂直方 向)排列成N行感测电容。每个感测电容C11 Cmn皆包括一第一端与一第二端。如图5 所示，感测电容Cu的第一端耦接至电极X1，感测电容Cu的第二端耦接至电极Υτ。依此类 推可本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控点检测方法，用于一电容式触控面板，该电容式触控面板具有（Ｍ×Ｎ）个感测电容、Ｍ个第一电极与Ｎ个第二电极，该（Ｍ×Ｎ）个感测电容耦接于该Ｍ个第一电极与该Ｎ个第二电极，该（Ｍ×Ｎ）个感测电容沿着一第一方向排列成Ｍ列感测电容，且沿着相异于该第一方向的一第二方向排列成Ｎ行感测电容，该触控点检测方法包括：透过该Ｎ个第二电极扫描该Ｎ行感测电容，以得到对应于该（Ｍ×Ｎ）个感测电容的（Ｍ×Ｎ）个第一差异信号；针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该Ｍ列感测电容的Ｍ个列负载信号；透过该Ｍ个第一电极扫描该Ｍ列感测电容，以得到对应于该（Ｍ×Ｎ）个感测电容的（Ｍ×Ｎ）个第二差异信号；针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的第二差异信号，以产生对应于该Ｎ行感测电容的Ｎ个行负载信号；以及依据该Ｍ个列负载信号、该Ｎ个行负载信号、该（Ｍ×Ｎ）个第一差异信号、该（Ｍ×Ｎ）个第二差异信号与一触控阈值，产生一触控点检测结果；其中Ｍ、Ｎ皆为正整数。

【技术特征摘要】
一种触控点检测方法，用于一电容式触控面板，该电容式触控面板具有(M×N)个感测电容、M个第一电极与N个第二电极，该(M×N)个感测电容耦接于该M个第一电极与该N个第二电极，该(M×N)个感测电容沿着一第一方向排列成M列感测电容，且沿着相异于该第一方向的一第二方向排列成N行感测电容，该触控点检测方法包括透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第一差异信号；针对各列感测电容，相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该M列感测电容的M个列负载信号；透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第二差异信号；针对各行感测电容，相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的第二差异信号，以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号；以及依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该(M×N)个第一差异信号、该(M×N)个第二差异信号与一触控阈值，产生一触控点检测结果；其中M、N皆为正整数。2.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中透过该N个第二电极扫描该N行感测电 容，以得到对应于该(MXN)个感测电容的该(MXN)个第一差异信号包括透过该N个第二电极扫描该N行感测电容，以从该M个第一电极接收(MXN)个第一感 测信号；以及根据该(MXN)个第一感测信号与一基准值，产生该(MXN)个第一差异信号。3.如权利要求2所述的触控点检测方法，其中根据该(MXN)个第一感测信号与该基准 值，产生该(MXN)个第一差异信号包括以下式计算该(MXN)个第一差异信号中的一第A个第一差异信号 Sdiffi_A — abs (Ssen1_a~BASE)；其中abs表示取绝对值，Sdiffla表示该第A个第一差异信号，Sseni A表示该(MXN)个第 一感测信号的一第A个第一感测信号，BASE表示该基准值。4.如权利要求3所述的触控点检测方法，其中根据该(MXN)个第一感测信号与该基准 值，产生该(MXN)个第一差异信号还包括当该第A个第一差异信号小于一噪声阈值时，重置该第A个第一差异信号为一预定值。5.如权利要求2所述的触控点检测方法，其中透过该M个第一电极扫描该M列感测电 容，以得到对应于该(MXN)个感测电容的该(MXN)个第二差异信号包括透过该M个第一电极扫描该M列感测电容，以从该N个第二电极接收(MXN)个第二感 测信号；以及根据该(MXN)个第二感测信号与该基准值，产生该(MXN)个第二差异信号。6.如权利要求5所述的触控点检测方法，其中根据该(MXN)个第二感测信号与该基准 值，产生该(MXN)个第二差异信号包括以下式计算该(MXN)个第二差异信号中的一第A个第二差异信号 Sdiff2_A 一 abs (Ssen2 A-B^SE)；其中abs表示取绝—对值，Sdiff2 a表示该(MXN)个第二差异信号中的该第A个第二差异信号，SSEN2—A表示该(MXN)个第二感测信号的一第A个第二感测信号，BASE表示该基准值。7.如权利要求6所述的触控点检测方法，其中根据该(MXN)个第二感测信号与该基准 值，产生该(MXN)个第二差异信号还包括当该第A个第二差异信号小于一噪声阈值时，重置该第A个第二差异信号为一预定值。8.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中针对各列感测电容，相加对应于同列感 测电容中的多个感测电容的第一差异信号，以产生对应于该M列感测电容的该M个列负载 信号包括相加对应于该M列感测电容的一第I列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号， 以产生对应于该第I列感测电容的一第I个列负载信号；其中I彡M。9.如权利要求8所述的触控点检测方法，其中针对各行感测电容，相加对应于同行感 测电容中的各个感测电容的第二差异信号，以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信 号包括相加对应于该N行感测电容的一第J行感测电容中的各个感测电容的第二差异信号， 以产生对应于该第J行感测电容的一第J个行负载信号；其中J彡N。10.如权利要求1所述的触控点检测方法，其中依据该M个列负载信号、该N个行负载 信号、该(MXN)个第一差异信号、该(MXN)个第二差异信号与该触控阈值，产生该触控点 检测结果包括将该M个列负载信号的每个列负载信号，与该N个行负载信号的每个行负载信号作比较；当该M个列负载信号的一第I个列负载信号小于该N个行负载信号的一第J个行负载 信号时，依据该触控阈值以及在该(MXN)个第一差异信号中，对应于该(MXN)个感测电容 的一第(...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪春龙，张胜云，许育民，郑咏泽，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]