【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微波元器件测试的，尤其涉及一种微波元器件测试的批量去嵌方法及系统。
技术介绍
1、微波元器件是用于射频(radio frequency，rf)和微波频段的电路和系统中的特殊元件，其工作频率通常在几百兆赫兹到数十千兆赫兹范围内。这些元器件在通信、雷达、卫星通信、射频识别(rfid)等领域中发挥着关键作用。以下是一些常见的微波元器件：
2、(1)微波天线：用于接收和发射微波信号的天线。天线类型包括各种波导天线、孔径天线等。
3、(2)微波开关：可以在微波频段切换或调整信号路径的开关。常见类型包括pin开关和机械开关。
4、(3)微波滤波器：用于在特定频带内通过或阻塞信号的电路。微波滤波器通常用于频率选择和信号调整。
5、(4)微波耦合器和分束器：用于将信号分离、合并或分配到不同的通道。耦合器用于将一部分信号耦合到另一部分，分束器用于将信号分成两个或多个通道。
6、(5)微波放大器：在微波频段放大信号的电路。微波放大器常用于增强射频信号的强度。
7、(6)微...
【技术保护点】
1.一种微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，在步骤S1中，所述待去嵌数据组合为通过所述相似度匹配算法进行匹配后的能够采用相同去嵌方法进行去嵌的所述待去嵌数据的组合，具体为：
3.根据权利要求1所述的微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，在步骤S2中，基于选择的所述待去嵌数据组合选择或自定义与当前所述待去嵌数据组合相匹配的所述去嵌方法，具体为：
4.根据权利要求3所述的微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，所述去嵌相关函数包括射频参数转换算...
【技术特征摘要】
1.一种微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，在步骤s1中，所述待去嵌数据组合为通过所述相似度匹配算法进行匹配后的能够采用相同去嵌方法进行去嵌的所述待去嵌数据的组合，具体为：
3.根据权利要求1所述的微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，在步骤s2中，基于选择的所述待去嵌数据组合选择或自定义与当前所述待去嵌数据组合相匹配的所述去嵌方法，具体为：
4.根据权利要求3所述的微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，所述去嵌相关函数包括射频参数转换算法和复数计算算法在内的算法，具体为：
5.根据权利要求3所述的微波元器件测试的批量去嵌方法，其特征在于，在步骤s3中，使用选择或自定义的所述去嵌方法对所述待去嵌数据组合中的每一个所述待去...
【专利技术属性】
技术研发人员：张凤英，于萌，左少华，
申请(专利权)人：上海概伦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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