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本发明涉及微波元器件测试技术领域，提供了一种微波元器件测试的批量去嵌方法，包括以下步骤：S1：选择包含至少一个待去嵌数据的微波元器件的一组待去嵌数据组合，其中，所述待去嵌数据组合为通过相似度匹配算法进行匹配后的能够采用相同去嵌方法进行去嵌的...
该专利属于上海概伦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海概伦电子股份有限公司授权不得商用。

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