【技术实现步骤摘要】
本申请涉及数据测试的，尤其涉及一种芯片测试装置、测试系统及芯片测试方法。
技术介绍
1、低噪声放大器(lna)是一种噪声系数很低、可将弱信号放大成抗噪声能力强的信号的放大器。低噪声放大器通常具有线性区，在线性区内低噪声放大器的增益是稳定的。在该线性区间的最大值之外，增益会下降。
2、在低噪声放大器出厂之前，需要测试芯片的1db压缩点(p1db)等目标增益点。然而，当前的芯片测试方法为了保证目标增益点的测量精度，通常需要耗费大量测试时间。因此，如何在保证精度的情况下，提高目标增益点的测试效率成为了亟需解决的问题。
技术实现思路
1、本申请的主要目的在于提供一种芯片测试装置、测试系统及芯片测试方法，旨在提高待测芯片的目标增益点的测试效率。
2、第一方面，本申请提供一种芯片测试装置，所述芯片测试装置包括存储器和处理器；所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于执行所述计算机程序，并在执行所述计算机程序时，实现如下步骤：
3、根据待测芯片的仿真测试数据，确定所述待测芯片的起始输入功率和截止输入功率；
4、根据所述起始输入功率，测定所述待测芯片的线性增益值；
5、将所述起始输入功率与所述截止输入功率的中间值确定为所述待测芯片的第一输入功率；
6、根据所述第一输入功率，测定所述待测芯片的第一增益值；
7、根据所述线性增益值与所述第一增益值之间的差值，利用二分法确定所述待测芯片的目标增益点。
8、第
9、信号源，用于输出功率可调的测试信号；
10、待测芯片，与所述信号源连接，用于对所述测试信号进行功率放大；
11、信号接收器，与所述待测芯片连接，用于测量所述待测芯片的输出功率；
12、如本申请实施例所述的芯片测试装置，与所述信号源、所述信号接收器连接，用于测试所述待测芯片的目标增益点。
13、第三方面，本申请还提供一种芯片测试方法，包括：
14、根据待测芯片的仿真测试数据，确定所述待测芯片的起始输入功率和截止输入功率；
15、根据所述起始输入功率，测定所述待测芯片的线性增益值；
16、将所述起始输入功率与所述截止输入功率的中间值确定为所述待测芯片的第一输入功率；
17、根据所述第一输入功率，测定所述待测芯片的第一增益值；
18、根据所述线性增益值与所述第一增益值之间的差值，利用二分法确定所述待测芯片的目标增益点。
19、本申请实施例提供一种芯片测试装置，包括存储器和处理器，处理器在执行存储器存储的计算机程序时，通过仿真测试数据设置待测芯片的起始输入功率和截止输入功率，从而缩减了待测芯片的功率测试区间。并且，利用二分法的方式在起始输入功率与截止输入功率的功率测试区间内确定待测芯片的目标增益点，能够减少待测芯片的测试次数。因此，能够在保证精度的情况下，减少目标增益点测试所需的时间成本，从而能够极大的提高待测芯片的目标增益点的测试效率。
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1.一种芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置包括存储器和处理器；所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于执行所述计算机程序，并在执行所述计算机程序时，实现如下步骤：
2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述处理器在实现根据所述线性增益值与所述第一增益值之间的差值，利用二分法确定所述待测芯片的目标增益点时，用于实现：
3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述处理器在实现根据待测芯片的仿真测试数据，确定所述待测芯片的起始输入功率和截止输入功率时，用于实现：
4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一预设功率、所述第二预设功率的取值区间均为5dB至10dB。
5.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述处理器在实现根据所述起始输入功率，测定所述待测芯片的线性增益值时，用于实现：
6.根据权利要求5所述的芯片测试装置，其特征在于，所述处理器还用于实现：
7.一种测试系统，其特征在于，包括：
8.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，所述芯
9.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括功率放大器，所述功率放大器连接于所述信号源与所述待测芯片之间；
10.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括衰减器，所述衰减器连接于所述待测芯片与所述信号接收器之间；
11.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种芯片测试装置，其特征在于，所述芯片测试装置包括存储器和处理器；所述存储器用于存储计算机程序；所述处理器用于执行所述计算机程序，并在执行所述计算机程序时，实现如下步骤：
2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述处理器在实现根据所述线性增益值与所述第一增益值之间的差值，利用二分法确定所述待测芯片的目标增益点时，用于实现：
3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，所述处理器在实现根据待测芯片的仿真测试数据，确定所述待测芯片的起始输入功率和截止输入功率时，用于实现：
4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，所述第一预设功率、所述第二预设功率的取值区间均为5db至10db。
5.根据权利要求1所述的芯...
【专利技术属性】
技术研发人员：林扬书，林楷辉，方坤，倪建兴，
申请(专利权)人：锐石创芯深圳科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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