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本申请提供一种芯片测试装置、测试系统及芯片测试方法，该芯片测试装置包括存储器和处理器；处理器用于实现如下步骤：根据待测芯片的仿真测试数据，确定待测芯片的起始输入功率和截止输入功率；根据起始输入功率，测定待测芯片的线性增益值；将起始输入功率与...
该专利属于锐石创芯（深圳）科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过锐石创芯（深圳）科技股份有限公司授权不得商用。

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