【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及结构设计领域和表贴电子元器件自动测试，特别涉及一种表贴电子元器件批量测试结构，还涉及一种表贴电子元器件的批量测试方法。
技术介绍
1、表贴电子元器件有广泛的应用需求，工业领域、医疗行业、电子办公产品以及军用电子设备等都离不开表贴电子元器件。随着现代科技的迅猛发展，几乎所有电子产品都朝着微型化方向发展或具有微型化发展趋势，导致表贴电子元器件的需求量稳步增加。表贴电子元器件具备密封性好、重量轻、体积小、电性能优良稳定、可靠性高、寿命长、存储稳定性好等特点，使其在军用电子设备领域得到了广泛的应用。
2、军用产品的质量和寿命取决于产品设计、研制生产和试验全过程的质量, 而电子元器件的质量又是整个产品的基础。部分军用产品的不可维修性,可能因为一个小小的电子元器件的失效而导致整个军用产品的失效，多年以来的经验教训足以证明这一点。电子元器件二次筛选的主要目的，就是利用外加应力或用检测手段，将早期失效的元器件从整批产品中剔除掉，从而保证保留下来的元器件有较高的质量，或者说，通过一系列应力试验，使元器件进入到稳定工作期，因此二次筛选是保证元器件质量不可缺少的措施，目前已经广泛地应用于军用产品的研究与生产中。
3、目前表贴电子元器件二次筛选的自动测试采用单通道单工位结构的方式进行测试，效率较低。
技术实现思路
1、为了提高现有二次筛选自动测试因测试结构的缺陷导致测试效率低的问题，本专利技术旨在提供一种表贴电子元器件批量测试结构和高效的批量测试方法。
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3、优选地，上述压合机构一及压合机构二均通过气缸连接工装，控制其抬升或下压，压合机构一及压合机构二下表面均有凸起，且凸起部分形状与批量测试治具一和批量测试治具二上表面的测试工位一致。
4、优选地，上述批量测试治具一和批量测试治具二分别通过定位销固定在治具卡槽一和治具卡槽二上，治具卡槽一和治具卡槽二下方通过丝母座连接于丝杆滑台一和丝杆滑台二，丝杆滑台一和丝杆滑台二头端分别安装有伺服电机一和伺服电机二。
5、优选地，上述批量测试治具一和批量测试治具二内竖向设有弹簧。
6、优选地，上述丝杆滑台一和丝杆滑台二头端分别通过基座一和基座二固定安装，丝杆滑台一和丝杆滑台二终端分别设有l型固定座一和固定座二连接压合机构一和压合机构二。
7、优选地，上述丝杆滑台一和丝杆滑台二一侧分别设有拖链一和拖链二，拖链一和拖链二的左右链板和上下链板均为绝缘材质，且每节都能打开。
8、一种表贴电子元器件批量测试结构的使用方法，该方法为：组装好批量测试结构，伺服电机一控制丝杆滑台一带动批量测试治具一滑动至上料位，等待自动上料机构将表贴电子元器件上料至批量测试治具一的测试工位上，待工位满后，伺服电机一再次控制丝杆滑台一带动批量测试治具一滑动至测试位，压合机构一下压，电参数测试仪器对批量测试治具一工位上的表贴电子元器件的电参数进行测试，待检测完成后，伺服电机一再次控制丝杆滑台一带动批量测试治具一滑动至下料位，等待下料机构完成下料后，伺服电机一控制丝杆滑台一带动批量测试治具一滑动至上料位，如此循环，实现批量测试。
9、相较现有技术，本专利技术的有益效果是，本专利技术改变了单通道单工位测试方式，采用多工位多模组测试方法，极大程度地提高了测试效率。批量测试治具上有多个工位并联排列，所有的测试工位通过pcb板引出导通线，连接到排母插座上，在如漏电流和绝缘电阻电参数测试中，可对批量测试治具上所有工位中的表贴电子元器件进行同时充电和放电，极大程度地提升了测试效率。
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1.一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，包括平行布置的丝杆滑台一和丝杆滑台二，丝杆滑台一和丝杆滑台二中段分别通过工装固定安装有压合机构一和压合机构二，批量测试治具一和批量测试治具二分别滑动连接与丝杆滑台一和丝杆滑台二，批量测试治具一和批量测试治具二上表面均设有并联的测试工位，批量测试治具一和批量测试治具二底部安装有电路板，电路板与测试工位电性连接，测试工位通过PCB板引出导通线，分别连接到排母插座一和排母插座二上。
2.根据权利要求1所述的一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，所述压合机构一及压合机构二均通过气缸连接工装，控制其抬升或下压，压合机构一及压合机构二下表面均有凸起，且凸起部分形状与批量测试治具一和批量测试治具二上表面的测试工位一致。
3.根据权利要求1所述的一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，所述批量测试治具一和批量测试治具二分别通过定位销固定在治具卡槽一和治具卡槽二上，治具卡槽一和治具卡槽二下方通过丝母座连接于丝杆滑台一和丝杆滑台二，丝杆滑台一和丝杆滑台二头端分别安装有伺服电机一和伺服电机二。
4.根据权利要
5.根据权利要求1所述的一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，所述丝杆滑台一和丝杆滑台二头端分别通过基座一和基座二固定安装，丝杆滑台一和丝杆滑台二终端分别设有L型固定座一和固定座二连接压合机构一和压合机构二。
6.根据权利要求1所述的一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，所述丝杆滑台一和丝杆滑台二一侧分别设有拖链一和拖链二，拖链一和拖链二的左右链板和上下链板均为绝缘材质，且每节都能打开。
7.根据权利要求1-6任一所述的一种表贴电子元器件批量测试的方法，其特征在于，该方法为：组装好批量测试结构，伺服电机一控制丝杆滑台一带动批量测试治具一滑动至上料位，等待自动上料机构将表贴电子元器件上料至批量测试治具一的测试工位上，待工位满后，伺服电机一再次控制丝杆滑台一带动批量测试治具一滑动至测试位，压合机构一下压，电参数测试仪器对批量测试治具一测试工位上的表贴电子元器件的电参数进行测试，待检测完成后，伺服电机一再次控制丝杆滑台一带动批量测试治具一滑动至下料位，等待下料机构完成下料后，伺服电机一控制丝杆滑台一带动批量测试治具一滑动至上料位，如此循环，实现批量测试。
...【技术特征摘要】
1.一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，包括平行布置的丝杆滑台一和丝杆滑台二，丝杆滑台一和丝杆滑台二中段分别通过工装固定安装有压合机构一和压合机构二，批量测试治具一和批量测试治具二分别滑动连接与丝杆滑台一和丝杆滑台二，批量测试治具一和批量测试治具二上表面均设有并联的测试工位，批量测试治具一和批量测试治具二底部安装有电路板，电路板与测试工位电性连接，测试工位通过pcb板引出导通线，分别连接到排母插座一和排母插座二上。
2.根据权利要求1所述的一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，所述压合机构一及压合机构二均通过气缸连接工装，控制其抬升或下压，压合机构一及压合机构二下表面均有凸起，且凸起部分形状与批量测试治具一和批量测试治具二上表面的测试工位一致。
3.根据权利要求1所述的一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，所述批量测试治具一和批量测试治具二分别通过定位销固定在治具卡槽一和治具卡槽二上，治具卡槽一和治具卡槽二下方通过丝母座连接于丝杆滑台一和丝杆滑台二，丝杆滑台一和丝杆滑台二头端分别安装有伺服电机一和伺服电机二。
4.根据权利要求1所述的一种表贴电子元器件批量测试结构，其特征在于，所述批量...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙毅，王伟伟，王红彬，郑伟伟，赵中泽，田毅明，
申请(专利权)人：贵州航天计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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