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本发明公开了一种表贴电子元器件批量测试结构,包括平行布置的丝杆滑台一和丝杆滑台二,丝杆滑台一和丝杆滑台二中段分别通过工装固定安装有压合机构一和压合机构二,批量测试治具一和批量测试治具二分别滑动连接与丝杆滑台一和丝杆滑台二,批量测试治具一和批...该专利属于贵州航天计量测试技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过贵州航天计量测试技术研究所授权不得商用。
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本发明公开了一种表贴电子元器件批量测试结构,包括平行布置的丝杆滑台一和丝杆滑台二,丝杆滑台一和丝杆滑台二中段分别通过工装固定安装有压合机构一和压合机构二,批量测试治具一和批量测试治具二分别滑动连接与丝杆滑台一和丝杆滑台二,批量测试治具一和批...