一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置制造方法及图纸

技术编号:40788359 阅读:23 留言:0更新日期:2024-03-28 19:19
本发明专利技术公开了一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置,包括机柜,机柜中部设有台面大板,台面大板中心处安装有移动模组,移动模组头端设置有柔性振动盘,柔性振动盘正后方设有电容测试治具,移动模组靠近尾端连接编带机构,且移动模组尾端设有不合格品料盘,移动模组一侧安装有上料机械手和下料机械手,上料机械手靠近电容测试治具,下料机械手靠近不合格品料盘。本装置实现片式分立器件电性能自动检测,测试完成后可自动打点、自动编带,测试及编带过程无人值守,有效提升此类元器件的检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于检测设备,具体涉及一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置


技术介绍

1、片式分立器件是各类型装备电气结构的基础组成部分,其质量与可靠性水平直接影响装备的整体质量。在焊接至电路板前,需对其电性能参数进行检测。目前主要通过人工测试和机器测试考核其各项性能指标,人工测试质量把控不统一、人员劳动强度大、检测效率低下。虽然目前已有生产厂家实现了分立器件电性能参数的自动测试,但分立器件种类多、体积小,传统的测试仪器仍采用单只测试的方式,检测效率较人工并无较大提升。

2、cn 202011417875.3公开了一种钽电容测量装置,包括上料机构和适于与所述上料机构相衔接的第一翻转机构,以及依次位于所述第一翻转机构出料口一侧的测量机构;所述上料机构包括上料板,所述上料板上设有若干适于与所述第一翻转机构的进料口相对应的料槽,钽电容侧立于所述料槽并依次侧立进入所述第一翻转机构,在所述第一翻转机构的翻转作用下水平进入所述测量机构的线性轨道进行测试,该技术方案对钽电容的测量工作效率较高。但是该装置结构复杂,体积较大,对于小型钽电容,难以将其装配在本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置,其特征在于,包括机柜(20),机柜(20)中部设有台面大板(1),台面大板(1)中心处安装有移动模组(18),所述移动模组(18)头端设置有柔性振动盘(14),柔性振动盘(14)正后方设有电容测试治具(15),移动模组(18)靠近尾端连接编带机构(17),且移动模组(18)尾端设有不合格品料盘(16),移动模组(18)一侧安装有上料机械手(12)和下料机械手(13),所述上料机械手(12)靠近电容测试治具(15),下料机械手(13)靠近不合格品料盘(16)。

2.根据权利要求1所述的一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化...

【技术特征摘要】

1.一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置,其特征在于,包括机柜(20),机柜(20)中部设有台面大板(1),台面大板(1)中心处安装有移动模组(18),所述移动模组(18)头端设置有柔性振动盘(14),柔性振动盘(14)正后方设有电容测试治具(15),移动模组(18)靠近尾端连接编带机构(17),且移动模组(18)尾端设有不合格品料盘(16),移动模组(18)一侧安装有上料机械手(12)和下料机械手(13),所述上料机械手(12)靠近电容测试治具(15),下料机械手(13)靠近不合格品料盘(16)。

2.根据权利要求1所述的一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置,其特征在于,所述移动模组(18)包括平行布置的滑轨a(181)和滑轨b(182),滑轨a(181)和滑轨b(182)中段分别通过工装固定安装有下压盖板a(183)和下压盖板b(184),漏电流测试治具a(185)和漏电流测试治具b(186)分别通过滑块a(1810)和滑块b(1811)滑动连接于滑轨a(181)和滑轨b(182),滑轨a(181)和滑轨b(182)头端安装有步进电机(187),步进电机(187)输出轴通过拖链(189)连接滑块a(1810)和滑块b(1811),驱动滑块a(1810)和滑块b(1811)沿滑轨a(181)和滑轨b(182)移动。

3.根据权利要求1所述的一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置,其特征在于,所述漏电流测试治具a(185)和漏电流测试治具b(186)上表面均开设九个测试工位,且每个测试工位相互独立,漏电流测试治具a(185)和漏电流测试治具b(186)底部安装有电路板,电路板与测试工位电性连接,漏电流测试治具a(185)和漏电流测试治具b(186)一侧安装有与电路板相连的测试线接口(1812)。

4.据权利要求3所述的一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置,其特征在于,所述下压盖板a(183)及下压盖板b(184)均通过气缸连接工装,控制其抬升或下压,下压盖板a(183)及下压盖板b(184)下表面均有凸起,且凸起部分形状与漏电流测试治具a(185)和漏电流测试治具b(186)上表面的测试工位一致。

5.根据权利要求3所述的一种实现片式分立器件批量测试及编带的一体化装置,其特征在于,所述漏电流测试治具a(185)和漏电流测试治具b(186)通过测试治具固定夹具(188)锁紧于滑块a(1810)和滑块b(1811)上。

6.根据权利要求1所述的一种实现片式分立器件批量测试及编...

【专利技术属性】
技术研发人员:王伟伟王文玺孙毅王红彬杨玉龙赵中泽
申请(专利权)人:贵州航天计量测试技术研究所
类型:发明
国别省市:

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