一种用于强电磁环境测试的弱耦合全向天线探头制造技术

技术编号:40746615 阅读:34 留言:0更新日期:2024-03-25 20:04
本发明专利技术公开了一种用于强电磁环境测试的弱耦合全向天线探头,全向双锥天线、介质套筒、耦合腔体和调节器,介质套筒套设在全向双锥天线外侧,耦合腔体安装在全向双锥天线下方,调节器从全向双锥天线顶端伸入后贯穿耦合腔体顶端伸入耦合腔体内,耦合腔体底端分别安装有连接器一和连接器二,连接器一连接后端检测电路或电磁分析仪器,连接器二与匹配负载相连。本发明专利技术实现了强电磁脉冲的弱耦合全向接收,解决了传统测试探头需要严格对准、对后端电路功率容量要求高、所需衰减器体积大等缺点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种全向天线探头,具体涉及一种用于强电磁环境测试的弱耦合全向天线探头


技术介绍

1、以电磁能量为基础的高功率微波技术或电磁脉冲技术是一种全新的电子应用形式,亦是一个比较新的研究领域,具有巨大的应用前景。喇叭天线是传统上常使用的强电磁环境接收测试探头,有着波束宽度窄、增益高、定向性好的特点。这就要求在测试过程要有较为严格的空间对准装置和措施,消耗的时间成本和经费多,无法实现全向或大范围监测。其次,增益较高的探头在对强电磁环境进行测试时,耦合到的能量极高,这就加剧了天线后端接收链路的功率容量压力,同时也增加了后端电路被击穿的风险。因此,提出并设计出一种全向性良好、增益极低、耦合作用弱的强电磁环境监测探头具有很高的经济价值和应用价值。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服目前强电磁环境测试技术的不足,提出了一种具有极低增益的全向天线探头,解决传统强电磁环境测量需要严格对准、后端衰减器等器件体积大、成本高以及击穿风险大等问题。

2、本专利技术采用的技术方案是:一种用于强电磁环境测试的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于强电磁环境测试的弱耦合全向天线探头,其特征在于,全向双锥天线、介质套筒、耦合腔体和调节器(14),所述介质套筒套设在全向双锥天线外侧,耦合腔体安装在全向双锥天线下方,调节器(14)从全向双锥天线顶端伸入后贯穿耦合腔体顶端伸入耦合腔体内,耦合腔体底端分别安装有连接器一(15)和连接器二(16),连接器一(15)连接后端检测电路或电磁分析仪器,连接器二(16)与匹配负载相连。

2.根据权利要求1所述的一种用于强电磁环境测试的弱耦合全向天线探头,其特征在于,所述全向双锥天线包括上锥体(1)和下锥体(2),上锥体(1)与下锥体(2)相对放置,它们的中心线在同一轴线上,上锥...

【技术特征摘要】

1.一种用于强电磁环境测试的弱耦合全向天线探头,其特征在于,全向双锥天线、介质套筒、耦合腔体和调节器(14),所述介质套筒套设在全向双锥天线外侧,耦合腔体安装在全向双锥天线下方,调节器(14)从全向双锥天线顶端伸入后贯穿耦合腔体顶端伸入耦合腔体内,耦合腔体底端分别安装有连接器一(15)和连接器二(16),连接器一(15)连接后端检测电路或电磁分析仪器,连接器二(16)与匹配负载相连。

2.根据权利要求1所述的一种用于强电磁环境测试的弱耦合全向天线探头,其特征在于,所述全向双锥天线包括上锥体(1)和下锥体(2),上锥体(1)与下锥体(2)相对放置,它们的中心线在同一轴线上,上锥体(1)的上表面设有圆柱形凹槽,上锥体(1)的中心线上纵向开设有上通孔(3),上通孔(3)的上段内设螺纹,所述下锥体(2)内沿中心线贯穿整个下锥体(2)设有下通孔(4),下通孔(4)内填充介质,形成同轴线结构。

3.根据权利要求2所述的一种用于强电磁环境测试的弱耦合全向天线探头,其特征在于,所述上锥体(1)和下锥体(2)通过介质套筒固定,介质套筒由套筒主体(5)、上环盖(6)和下环盖(7)组成;所述套筒主体(5)内设有用于放置全向双锥天线的锥形凹槽,套筒...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪家兴高峯廖海黔
申请(专利权)人:贵州航天计量测试技术研究所
类型:发明
国别省市:

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