数码产品故障检测方法技术

本发明专利技术涉及数码产品的检测技术，具体的说是涉及数码产品的故障检测方法。本发明专利技术公开了一种高效率的数码产品故障检测方法，解决传统技术中的数码产品故障不易检测，导致维修费用高、费时的问题。其技术方案的要点可概括为：通过对主芯片、内存、ＦＬＡＳＨ检测、三总线器件分别写入数据，再通过输出端读出数据，判断写入数据与读出数据是否相同，进而判断器件有无故障，对于ＩＩＣ器件，则是通过发送控制命令，判断在响应位有无ＳＤＡ低电平，进而判断ＩＩＣ器件好坏。本发明专利技术对故障的检测可以精确到故障点，提高了维修效率，同时降低维修成本，适用于数码产品故障检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及数码产品的检测技术，具体的说是涉及数码产品的故障检测方法。
技术介绍
对于目前的数码产品的故障检测基本上都是由修理工凭维修经验找故障点，逐一 排除，此方法对一些明显的故障维修还可以应付，但也很费时，效率极低，对一些隐性故障 就显得无能为力。甚至无法发现这些隐性故障，导致可能是一些完全可以克服的故障也要 更换元器件，增加了用户的维修成本。传统技术中还没有一种条理化、高效率的数码产品故 障检测方法。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对传统技术中数码产品故障不易检测，导致维 修费用高、费时的问题，提出一种高效率的。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案是，包括以 下步骤a.主芯片检测主芯片上电，系统初始化，通过控制锁相环寄存器，校准锁相环检 测函数来判断主芯片时钟是否正常工作，并输出测试结果；向RAM寄存器中某个地址写入 数据，再从该地址读出相应数据，判断写入数据与读出数据是否相同，并输出测试结果，以 上两项测试如果均正常则主芯片无故障，否则主芯片有故障；b.内存检测数据口测试，包括bl.数据口第1位测试在地址0X000000写入数据0X00，再从该地址读取本文档来自技高网...

【技术保护点】
数码产品故障检测方法，其特征在于：包括以下步骤：ａ．主芯片检测：主芯片上电，系统初始化，通过控制锁相环寄存器，校准锁相环检测函数来判断主芯片时钟是否正常工作，并输出测试结果；向ＲＡＭ寄存器中某个地址写入数据，再从该地址读出相应数据，判断写入数据与读出数据是否相同，并输出测试结果，以上两项测试如果均正常则主芯片无故障，否则主芯片有故障；ｂ．内存检测：数据口测试，包括：ｂ１．数据口第１位测试：在地址０Ｘ００００００写入数据０Ｘ００，再从该地址读取数据，将读取的数据与０Ｘ００异或运０；在地址０Ｘ００００００写入数据０Ｘ０６，再从该地址读取数据，将读取的数据与０Ｘ０６异或运算，运算结果赋值变量ＲＤＡＴ...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李前富，
申请(专利权)人：四川长虹电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：51[中国|四川]