边际扫描测试界面中传输隐藏讯号的装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术是有关于一种边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置与方法，其是在边际扫瞄测试界面中定义一无作用状态回圈，且在边际扫瞄测试界面初始时，监测边际扫瞄测试界面的状态移转图的一输入，以当检测出有一第一预设输入串时，产生一符合该无作用的状态回圈的一输入串的第一资料的输出，而当检测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第二预设输入串是不同于该第一预设输入串且符合该无作用的状态回圈的输入串。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及边际扫瞄测试界面技术，尤指一种适用于。
技术介绍
随着晶片封装及多层印刷电路板技术的复杂化，传统以针床的测试方式已难于和印刷电路板上的节点接触，且由于表面粘着技术的成熟化，使得IC多已直接粘着在电路的表面上，因而造成IC内部讯号直接量测的困难。为解决此一问题，边际扫瞄(Boundary scan)技术便因应而生，例如JTAG(Joint Test Action Group)的boundary scan，其正式标准名称为IEE1149.1，及IEEE119.4的Digtal Test Access Port界面，便定义了可用于测试IC的边际扫瞄测试界面，其主要是以序列扫瞄链(Serial scan chain)来进行集成电路内部模组的测试，如图1所示为JTAG的界面架构，其采用五根讯号脚位(TDI，TDO，TMS，TCK，nTRST)作为扫瞄链资料的操作，其中，TDI脚位是作为序列资料输入、TDO脚位是作为序列资料输出、TMS脚位是作为模式选择输入、TCK脚位是作为时脉讯号输入、而nTRST脚位则提供系统重置的功能，而如图所示，JTAG架构包含有一测试存取接口(Tes本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，该边际扫瞄测试界面是依据一预定的状态移转图而运作，该状态移转图根据一输入而进行状态移转，其中，所进行的状态移转包括至少一无作用状态回圈，该装置包括：一状态检测器，用以监测该输入，以当检测出有一第一预设输入串时，产生一第一资料的输出，之后，当检测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第一预设输入串及第二预设输入串是符合该无作用的状态回圈的不同输入串。

【技术特征摘要】
1.一种边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，该边际扫瞄测试界面是依据一预定的状态移转图而运作，该状态移转图根据一输入而进行状态移转，其中，所进行的状态移转包括至少一无作用状态回圈，该装置包括一状态检测器，用以监测该输入，以当检测出有一第一预设输入串时，产生一第一资料的输出，之后，当检测出有一第二预设输入串时，产生一第二资料的输出，其中，该第一预设输入串及第二预设输入串是符合该无作用的状态回圈的不同输入串。2.根据权利要求1所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其更包括一移位暂存器，用以储存该状态检测器所输出的第一及第二资料的组合。3.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其中该边际扫瞄测试界面为一JTAG界面，该输入为一TMS输入。4.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其中该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.1界面，该输入为一TMS输入。5.根据权利要求2所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其中该边际扫瞄测试界面为一IEEE1149.4的Digtial TestAccess Port界面，该输入为一TMS输入。6.根据权利要求3所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其中该状态移转图是初始于一Test-Logic Reset状态，且在TMS输入为1时状态保持不变，当TMS输入为0时，状态移转为Run-Test/Idle状态，且在TMS输入为0，状态保持不变，当连续三个TMS输入为1时，状态移转为Test-Logic Reset状态，而形成该至少一无作用状态回圈。7.根据权利要求6所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其中该第一预设输入串为‘0111’，该第二预设输入串为‘1’。8.根据权利要求7所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其中该第一资料为‘1’，该第二资料为‘0’。9.根据权利要求6所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其中该第一预设输入串为 ，该第二预设输入串为‘1’，当中 代表至少一个0。10.根据权利要求9所述边际扫瞄测试界面中传输隐藏讯号的装置，其特征在于，其中该第一资料为‘1’，该第二资料为‘0...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁伯嵩，
申请(专利权)人：凌阳科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]