【技术实现步骤摘要】
本专利技术一种ate探针漏装检测方法涉及半导体精密仪器。
技术介绍
1、ate（automatic test equipment）指广义上的ic测试设备。包含了软件和硬件的结合，一般由大量的测试机能集合在一起，由电脑控制来测试半导体芯片的功能性。测试设备上需要大量的ate探针，对ate探针的生产提出了新的要求。
2、ate探针主要由针管、针头、弹簧和针尾四个部件构成，在生产过程中，需要先将该四个部件进行预组装，依次将针尾、弹簧和针头装入针管内，预组装完成后，在针管外壁打上铆坑，实现组装。
3、为提高预组装效率，通常采用治具板进行批量组装，如图12所示，图中为落入治具板漏孔内的针管，通过在治具板上设置漏孔，由于漏孔的直径小于针管一端外壁上的凸缘，使针管的下端容易落入漏孔中。因此，在治具板内撒入多个针管，在晃动后，多数针管能够以正确的方向落入漏孔内，便于后续的批量预组装。
4、但是，无法保障所有的针管等零件均能够落入漏孔，在晃动后，仍需要人工进行检查，将未落入漏孔的零件捡出，并在空的漏孔内装入零件，人工检查的效率低，并且错误率高，降低了预组装的成品率。
技术实现思路
1、针对现有的ate探针预组装过程中，需要人工检查的技术不足，本专利技术提供了一种ate探针漏装检测装置及其治具板和检测方法，能够实现自动的漏装检测，检测效率高，准确率高，提高了预组装的成品率。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
3、一种ate探针
4、步骤a，针管装入针管治具板a；将若干个针管投入针管治具板中，晃动针管治具板a，使针管落入针管治具板a的漏孔中；
5、步骤b，接入传送机构；将步骤a中的针管治具板a的外框一侧打开并接入传送机构的左侧，将另一个针管治具板a内部未装入治具块的外框一侧打开接入传送机构的右侧；
6、步骤c，治具块移出；通过传送机构的传送带将左侧外框内的治具块送入引导框架；
7、步骤d，治具块检测；通过移除机构的摄像头判断引导框架上的治具块内部是否装入针管；
8、步骤e，漏装移除；通过推板将未装入针管的治具块从引导框架上移除；
9、步骤f，治具块移入；通过传送带将装入针管的治具块送入右侧空的外框内部；
10、步骤g，检测完成；待该空的外框内部装满治具块后取下。
11、进一步地，所述的方法应用在一种ate探针漏装检测装置上，所述的检测装置包括：治具板、传送机构和移除机构。
12、与现有技术相比，本专利技术提供了一种ate探针漏装检测装置及其治具板和检测方法，具备以下有益效果：
13、第一、本专利技术一种ate探针漏装检测装置，包括：治具板、传送机构和移除机构，治具板包括：外框和治具块，外框的一侧设置有开口，外框的内部设置有若干个朝向开口的滑槽，每个滑槽内均滑动设置有一行治具块，每个治具块上均设置有一个供所述探针的零件落入的漏孔，由此结构，能够实现，由传送机构将左侧的治具板的外框内的治具块移动至右侧空的外框内，在移动过程中，移除机构将内部未装入零件的治具块移除，使右侧空的外框内部装入的治具块均为装载有零件的治具块，使右侧的治具板的装入率达到百分之百，避免了工作人员手动挑选，提高了预组装的成品率。
14、第二、本专利技术一种ate探针预组装用的治具板，包括：外框和治具块，所述的外框的一侧设置有开口，外框的内部设置有若干个朝向开口的滑槽，每个滑槽内均滑动设置有一行治具块，每个治具块上均设置有一个供所述探针的零件落入的漏孔，由此结构，能够实现，治具块能够从外框内部滑出，对其内部是否装入零件进行检查，检查后的治具块也能够重新滑入外框重新构成治具板，便于对治具板进行自动检查，节省人工，同时能够保障成品率。
15、第三、本专利技术一种ate探针漏装检测方法，包括：步骤a，针管装入针管治具板a；步骤b，接入传送机构；步骤c，治具块移出；步骤d，治具块检测；步骤e，漏装移除；步骤f，治具块移入；步骤g，检测完成；该方法能够实现，在ate探针预组装过程中，将治具板中的治具块移出检测，移除未装入零件的治具块，并将装入零件的治具块重新组装成治具板，避免了人工对治具板内的漏孔是否装入零件的检查，实现了自动检查，能够保障治具板内的零件装入率达到百分之百，提高了预组装的成品率。
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1.一种ATE探针漏装检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种ATE探针漏装检测方法，其特征在于，所述的方法应用在一种ATE探针漏装检测装置上，所述的检测装置包括：治具板（1）、传送机构（2）和移除机构（3）。
【技术特征摘要】
1.一种ate探针漏装检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种ate探针漏装检测方法，...
【专利技术属性】
技术研发人员：金永斌，王强，贺涛，丁宁，朱伟，章圣达，陈伟，
申请(专利权)人：苏州法特迪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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