一种LED芯片检测机及检测方法技术

本发明专利技术提供一种LED芯片检测机及检测方法，LED芯片检测机包括放置台及移动连接于放置台上的探针组，放置台上设置若干个宽度为标定宽度、高度为标定高度的放置区域，探针组包括沿x轴方向分布的第一探针队列及第二探针队列，第一探针队列与第二探针队列之间的距离为标定宽度，第一探针队列及第二探针队列分别包括沿y轴方向分布的若干个第一探针及若干个第二探针，相邻的第一探针及相邻的第二探针之间的距离均为标定高度。在多探针同步进行检测时，相邻的探针之间均间隔有一个放置区域，进而避免在同步检测的过程中，不同的探针之间产生空气放电，导致静电污染针尖的情况，提高了检测数据的精确性，确保了产品的质量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉led生产加工，特别是涉及一种led芯片检测机及检测方法。

技术介绍

1、半导体发光二极管(led)是新型的发光体，其具有电光效率高、体积小、寿命长、电压低、节能和环保等优点，已经被广泛应用于指示灯、信号灯、仪表显示以及车载光源等场合。

2、光电测试是检验led光电性能的重要且唯一的手段，相应的测试结果是评价和反映led性能的依据，现有的led光电性能检测一般于四组针测试机上进行检测。四组针测试机是一种四个探针同时测试多颗晶粒的设备，相较于传统的单组针测试单颗晶粒的设备而言，具有产能大和效率高的优势，其测试方式一般是将多颗led芯片均置于四组针测试机上，通过四组针测试机上的四个探针同时接触四个led芯片的电极，同步进行通电测试。

3、但对于led芯片而言，其尺寸小、间距短，在四个探针同时进行检测时，不同的探针之间存在空气放电现象，产生的静电容易污染探针的针尖，导致对led芯片的检测数据异常，影响产品的质量。

技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种led芯片检测机及检测方法，以本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种LED芯片检测机，其特征在于，包括放置台及移动连接于所述放置台上的探针组，所述放置台上设置若干个阵列分布的放置区域，所述放置区域的宽度为标定宽度，所述放置区域的高度为标定高度，所述放置区域用于放置待测LED芯片，所述探针组包括沿x轴方向分布的第一探针队列及第二探针队列，所述第一探针队列与所述第二探针队列之间的距离为所述标定宽度，所述第一探针队列包括沿y轴方向分布的若干个第一探针，所述第二探针队列包括沿y轴方向分布的若干个第二探针，相邻的所述第一探针及相邻的所述第二探针之间的距离均为所述标定高度。

2.一种LED芯片检测方法，应用于如权利要求1所述的LED芯片检测机，其...

【技术特征摘要】

1.一种led芯片检测机，其特征在于，包括放置台及移动连接于所述放置台上的探针组，所述放置台上设置若干个阵列分布的放置区域，所述放置区域的宽度为标定宽度，所述放置区域的高度为标定高度，所述放置区域用于放置待测led芯片，所述探针组包括沿x轴方向分布的第一探针队列及第二探针队列，所述第一探针队列与所述第二探针队列之间的距离为所述标定宽度，所述第一探针队列包括沿y轴方向分布的若干个第一探针，所述第二探针队列包括沿y轴方向分布的若干个第二探针，相邻的所述第一探针及相邻的所述第二探针之间的距离均为所述标定高度。

2.一种led芯片检测方法，应用于如权利要求1所述的led芯片检测机，其特征在于，包括以下步骤：

3.根据权利要求2所述的led芯片检测方法，其特征在于，所述通过所述探针组于所述放置台上确定起始点的步骤包括：

4.根据权利要求2所述的led芯片检测方法，其特征在于，所述并使所述探针组抵接所述待测led芯片的步骤具体为：

5.根据权利要求2所述的led芯片检测方...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱兵兵，王先明，郭磊，董国庆，文国昇，金从龙，
申请(专利权)人：江西兆驰半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：