温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明一种ATE探针漏装检测方法涉及半导体精密仪器技术领域；所述方法在ATE探针漏装检测装置上实现，依次执行以下步骤：步骤a，针管装入针管治具板a；步骤b，接入传送机构；步骤c，治具块移出；步骤d，治具块检测；步骤e，漏装移除；步骤f，治具...
该专利属于苏州法特迪科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州法特迪科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。