本发明涉及芯片测试转接器,包括：转接器本体，转接器本体包括安装在转接器本体两侧的输入接头和输出接头和对应连接在输入接头与输出接头上的第一线缆和第二线缆，以及安装在所述转接器本体内部的多个相互分离的屏蔽槽。本发明通过温度传感器随时将实时温...

本发明涉及一种芯片测试插座。本发明所述的芯片测试插座内设置有一用于承载待测试芯片的腔室和围绕该腔室的底座框架，所述底座框架上设置有凸起的第一侧和第二侧，该第一侧与第二侧相对设置，在第一侧和第二侧分别设置第一凸轮轴和第二凸轮轴，利用凸轮轴...

本发明一种ATE探针漏装检测方法涉及半导体精密仪器技术领域；所述方法在ATE探针漏装检测装置上实现，依次执行以下步骤：步骤a，针管装入针管治具板a；步骤b，接入传送机构；步骤c，治具块移出；步骤d，治具块检测；步骤e，漏装移除；步骤f，...

本发明一种ATE探针漏装检测装置及其治具板涉及半导体精密仪器技术领域；所述检测装置包括：治具板、传送机构和移除机构，所述治具板包括：外框和治具块，外框的一侧设置有开口，外框的内部设置有若干个朝向开口的滑槽，每个滑槽内均滑动设置有一行治具...