【技术实现步骤摘要】
本技术涉及平面检具领域，具体涉及一种平面校准检测设备。
技术介绍
1、压铸件通过向压铸模具中注入熔融的金属液，待金属液冷却后形成压铸产品；产品在压铸冷却过程中，由于冷却收缩，产品多个本该在同一平面的点或面将会出现不共面，此时需要对每个产品进行检测。
2、对于多个检测点或面之间的结构为外凸形的产品而言，需要设计专用的检具。在检具中设置可以容置产品外凸结构的凹槽，以便产品检测时外凸结构不会与检具干涉。
3、此种检具的结构一般为在底板上固定多个与需要检测的点或面对应的检测柱，每个检测柱顶部采用螺钉结构形式，拧动螺钉改变检测柱顶部的水平高度，使得所有检测柱的顶部共面。各个检测柱之间自然形成凹槽，供产品的外凸结构容置。但是此种检具中检测柱与底板固定，无法改变检测柱的位置，使得每个检具仅能对单一型号的产品进行检测；同时螺钉在使用的过程中不可避免的将会受到外力的撞击等，从而发生转动，螺钉转动后，检测柱顶部的高度将会发生改变，使得检测基准出现错误，因此随着使用时间的增加将会出现检测结果偏差较大的情况，导致失去检测的目的。
技术实现思路
1、有鉴于现有技术的上述缺陷，本技术的目的就是提供一种平面校准检测设备，可以任意调整各个检测点的位置，满足对不同型号产品的多个检测点检测要求；同时使用过程中检测基准面不会出现偏差。
2、本技术的目的是通过这样的技术方案实现的：
3、一种平面校准检测设备，包括：
4、底板，磁性材料制作；
5、若干
6、磁吸部，磁吸在底板的上表面，所述磁吸部的顶部设有第一凹槽；所述第一凹槽内设有升降内螺纹；
7、升降部，下部外表面设有与升降内螺纹匹配的升降外螺纹；所述升降部的下部啮合在磁吸部的第一凹槽内；所述升降部的中部设有蜗轮齿；所述升降部的顶端端面与底板的上板面平行；
8、蜗杆件，可转动的设置在磁吸部内，转轴外伸出磁吸部；所述蜗杆件与蜗轮齿无缝啮合；通过拧动蜗杆件的转轴控制升降部在磁吸部内转动，从而改变升降部顶端的高度。
9、进一步地，所述磁吸部包括：
10、磁座，通过磁力吸附固定在底板上；所述磁座顶部设有第二凹槽；所述第二凹槽内设有固定内螺纹；
11、连接座；下部设有与固定内螺纹匹配的固定外螺纹；所述连接座啮合固定在磁座上；所述连接座的上端设有第一凹槽，所述第一凹槽内设有升降内螺纹；所述升降部啮合在连接座上。
12、进一步地，所述磁座包括：
13、固定座，下部成圆台形，其下表面水平，上端面设有第二凹槽；所述第二凹槽底部设置有容置槽，所述容置槽小于第二凹槽，所述容置槽为倒置的圆台形；
14、磁铁，形状为倒置的圆台形，设置在容置槽内，在磁力作用下降固定座与底板固定在一起。
15、进一步地，所述容置槽底部贯穿固定座；所述磁铁的下表面不超出容置槽；
16、所述容置槽的内壁设有贯穿容置槽与固定座外部的缺口，所述缺口位于磁铁的斜上方；所述磁铁顶部设有吊环；
17、所述磁座还包括撬杆，所述撬杆的头端设有与吊环匹配的弯曲部；所述撬杆头部与吊环勾设后，向下按压撬杆末端将磁体抬离底板。
18、进一步地，所述磁座以及连接座的外表面均设有相对平行的切面。
19、进一步地，所述第一凹槽为阶梯槽；所述第一凹槽的的下部内壁设有升降内螺纹；所述第一凹槽的上部直径大于升降部的直径；所述蜗轮齿的外轮廓直径小于第一凹槽上部直径；
20、所述连接座的顶部卡嵌有环形密封圈，环形密封圈与连接座的顶端固接，与升降部的外表面无缝滑动连接。
21、进一步地，所述连接座的顶端设有环形的卡嵌槽，
22、所述环形密封圈包括：
23、环形部，部分卡嵌在卡嵌槽内；
24、环形刮板，下部与环形部无缝连接，上部内侧紧贴升降部的外表面；所述环形刮板外轮廓呈圆台形；所述环形刮板的壁厚随着与环形部的距离增大而减小；所述环形刮板的顶部外表面与升降部的外表面平滑过渡。
25、进一步地，所述连接座的顶端设有若干垂直的插孔；所述升降部的上部的外表面设有环状的刻度；
26、所述磁吸部还包括：
27、与插孔数量对应的插杆；所述插杆下部插设在插孔内，被插孔径向限位；
28、与插杆数量相同的支杆，头端与插杆连接；
29、刻环，外套在升降部的外表面，与支杆的尾端连接；所述刻环与升降部的外表面贴合。
30、进一步地，所述蜗杆件包括：
31、蜗杆，水平设置，可转动的设置在磁吸部中；所述蜗杆的转轴的端面设有矩形插槽；
32、磁吸拧头，一端设有与矩形插槽匹配的矩形插头，所述磁吸拧头插设置在插槽内，与蜗杆的转轴磁力连接；所述磁吸拧头的轴线与蜗杆的轴线共线。
33、进一步地，所述升降部顶端设有定位槽；所述升降部顶端设有半球形件，所述半球形件的下表面与升降部的下表面贴合，所述半球形件的下表面设有与定位槽完全匹配的定位凸起。
34、由于采用了上述技术方案，本技术具有如下的优点：
35、1、检测柱通过磁力吸附的方式固定在底板上，从而可以任意调整各个检测柱的位置，使得本技术可以适用于不同型号产品的多点或面共面检测。
36、2、检测柱的升降部与磁吸部采用螺纹结构形式，但是控制升降部升降的为蜗轮蜗杆结构形式，通过螺杆可以调整升降部的升降，改变升降部顶部的高度，但是由于蜗轮蜗杆结构的特性，升降部将无法受迫转动，从而使得升降部的高度不会随着使用而改变，同时蜗杆蜗轮采用无缝啮合的方式连接，没有矿量，保证升降部不会出现任何转动，保证了检测基准面的稳定性。
37、本技术的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本技术的实践中得到教导。
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1.一种平面校准检测设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述磁吸部包括：
3.根据权利要求2所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述磁座包括：
4.根据权利要求3所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述容置槽底部贯穿固定座；所述磁铁的下表面不超出容置槽；
5.根据权利要求2所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述磁座以及连接座的外表面均设有相对平行的切面。
6.根据权利要求2所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述第一凹槽为阶梯槽；所述第一凹槽的下部内壁设有升降内螺纹；所述第一凹槽的上部直径大于升降部的直径；所述蜗轮齿的外轮廓直径小于第一凹槽上部直径；
7.根据权利要求6所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述连接座的顶端设有环形的卡嵌槽，
8.根据权利要求2所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述连接座的顶端设有若干垂直的插孔；所述升降部的上部的外表面设有环状的刻度；
9.根据权利要求1所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述蜗杆件包括：<...
【技术特征摘要】
1.一种平面校准检测设备，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述磁吸部包括：
3.根据权利要求2所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述磁座包括：
4.根据权利要求3所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述容置槽底部贯穿固定座；所述磁铁的下表面不超出容置槽；
5.根据权利要求2所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述磁座以及连接座的外表面均设有相对平行的切面。
6.根据权利要求2所述的平面校准检测设备，其特征在于，所述第一凹槽为阶梯槽；所述第一凹槽的下部内壁设有升降内螺纹；所述第一凹槽的上部直径大于升...
【专利技术属性】
技术研发人员：张敬雨，杨森宇，卢红林，韩佳冶，张刚，
申请(专利权)人：重庆瀚立机械制造有限公司，
类型：新型
国别省市：
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