【技术实现步骤摘要】
本申请属于集成电路设计，尤其涉及一种参数化设计的验证方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、在集成电路设计流程中，为了缩短研发周期，通常会在设计过程中引入不同的参数实现设计代码的复用。而在验证过程中，则会对设计的不同参数进行赋值来实现验证。
2、通过使用参数化的验证平台，可以实现对不同参数的幅值，从而提升验证效率。相关技术中，通常会在不同的验证环境中使用不同的宏定义对参数赋不同的值。
3、然而，在实际验证过程中，通过宏定义等编译前选项进行赋值，会导致赋值结果固定，从而使得每次访真过程中参数被赋予了相同的值，无法实现参数的随机赋值。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种参数化设计的验证方法、装置、设备及存储介质，能够改善相关技术中无法实现参数的随机赋值的技术问题。
2、第一方面，本申请实施例提供一种参数化设计的验证方法，应用于验证平台，参数化设计的验证方法包括：
3、将与输入信号对应的接口例化为第一虚接口，并将与输出信号对应的接口例化为第二虚接口；
4、随机生成选择信号；选择信号用于作为赋值参数指示多个待测设计中的目标待测设计；
5、响应于选择信号，对多个待测设计进行遍历，在遍历过程中对目标待测设计对应的第二虚接口赋值输入信号，并对第一虚接口赋值输出信号；其中，输出信号为目标待测设计根据输入信号生成，验证平台还用于根据输出信号对目标待测设计进行验证。
6、在一些实施例中，随机生成选择信号之前，还
7、根据多个待测设计，定义选择信号的多个信号状态；其中，多个信号状态与多个待测设计分别一一对应；
8、随机生成选择信号，包括：
9、根据随机函数生成第一随机结果；
10、根据信号状态对应关系确定第一随机结果对应的第一信号状态；其中，信号状态对应关系为随机结果与信号状态的对应关系；
11、生成第一信号状态的选择信号。
12、在一些实施例中，响应于选择信号，对多个待测设计进行遍历，在遍历过程中对目标待测设计对应的第二虚接口赋值输入信号，并对第一虚接口赋值输出信号，包括：
13、确定第一信号状态的选择信号中与每个待测设计分别对应的编码位；其中，多个待测设计中仅目标待测设计对应的编码位为有效信号；
14、根据每个待测设计对应的编码位的有效状态从多个待测设计中确定目标待测设计，将第一虚接口提供的输入信号赋值至目标待测设计对应的第二虚接口，并将目标待测设计返回的输出信号赋值至第一虚接口。
15、在一些实施例中，根据每个待测设计对应的编码位的有效状态从多个待测设计中确定目标待测设计，将第一虚接口提供的输入信号赋值至目标待测设计对应的第二虚接口，并将目标待测设计返回的输出信号赋值至第一虚接口，包括：
16、针对每个待测设计，将第一虚接口提供的输入信号和待测设计对应的编码位的编码信号进行与运算，作为待测设计对应的第二虚接口的赋值结果；
17、在待测设计对应的编码位的编码信号为有效信号时，将待测设计提供的输出信号作为第一虚接口的赋值结果。
18、在一些实施例中，将第一虚接口提供的输入信号和待测设计对应的编码位的编码信号进行与运算，作为待测设计对应的第二虚接口的赋值结果之后，还包括：
19、在待测设计对应的编码位的编码信号为非有效信号时，将高阻信号作为第一虚接口的赋值结果。
20、在一些实施例中，选择信号为独热码。
21、在一些实施例中，参数化设计的验证方法还包括：
22、确定目标待测设计对应的验证环境；
23、在验证环境下，对目标待测设计提供的输出信号进行验证。
24、第二方面，本申请实施例提供了一种参数化设计的验证装置，装置包括：
25、例化模块，用于将与输入信号对应的接口例化为第一虚接口，并将与输出信号对应的接口例化为第二虚接口；
26、随机模块，用于随机生成选择信号；选择信号用于作为赋值参数指示多个待测设计中的目标待测设计；
27、选择模块，用于响应于选择信号，对多个待测设计进行遍历，在遍历过程中对目标待测设计对应的第二虚接口赋值输入信号，并对第一虚接口赋值输出信号；其中，输出信号为目标待测设计根据输入信号生成，验证平台还用于根据输出信号对目标待测设计进行验证。
28、第三方面，本申请实施例提供了一种参数化设计的验证设备，该参数化设计的验证设备包括：
29、处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；
30、处理器执行计算机程序指令时实现第一方面的参数化设计的验证方法的步骤。
31、第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令，计算机程序指令被处理器执行时实现第一方面的参数化设计的验证方法的步骤。
32、本申请实施例的参数化设计的验证方法、装置、设备及存储介质，通过随机生成选择信号，可以实现参数的随机赋值，根据随机赋值的参数从多个待测设计中随机确定目标待测设计。在将待测设计的接口进行例化后，可以向目标待测设计提供输入信号，并获取目标待测设计返回的输出信号，从而实现对多个待测设计的随机验证。由于选择信号能够作为随机赋值的参数指示多个待测设计中的一个为目标待测设计，在验证过程中能够保障随机赋值的参数位于约束范围内，使得参数的赋值结果与多个待测设计分别对应，提升验证过程的准确性和可靠性。
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1.一种参数化设计的验证方法，其特征在于，应用于验证平台，所述参数化设计的验证方法包括：
2.根据权利要求1所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述随机生成选择信号之前，还包括：
3.根据权利要求2所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述响应于所述选择信号，对所述多个待测设计进行遍历，在遍历过程中对所述目标待测设计对应的第二虚接口赋值输入信号，并对所述第一虚接口赋值输出信号，包括：
4.根据权利要求3所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述根据每个待测设计对应的编码位的有效状态从所述多个待测设计中确定所述目标待测设计，将所述第一虚接口提供的输入信号赋值至所述目标待测设计对应的第二虚接口，并将所述目标待测设计返回的输出信号赋值至所述第一虚接口，包括：
5.根据权利要求4所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述将所述第一虚接口提供的输入信号和待测设计对应的编码位的编码信号进行与运算，作为待测设计对应的第二虚接口的赋值结果之后，还包括：
6.根据权利要求2所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述选择信号为独
7.根据权利要求2所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述参数化设计的验证方法还包括：
8.一种参数化设计的验证装置，其特征在于，包括：
9.一种参数化设计的验证设备，其特征在于，包括：处理器以及存储有计算机程序指令的存储器；
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-7任意一项所述的参数化设计的验证方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种参数化设计的验证方法，其特征在于，应用于验证平台，所述参数化设计的验证方法包括：
2.根据权利要求1所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述随机生成选择信号之前，还包括：
3.根据权利要求2所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述响应于所述选择信号，对所述多个待测设计进行遍历，在遍历过程中对所述目标待测设计对应的第二虚接口赋值输入信号，并对所述第一虚接口赋值输出信号，包括：
4.根据权利要求3所述的参数化设计的验证方法，其特征在于，所述根据每个待测设计对应的编码位的有效状态从所述多个待测设计中确定所述目标待测设计，将所述第一虚接口提供的输入信号赋值至所述目标待测设计对应的第二虚接口，并将所述目标待测设计返回的输出信号赋值至所述第一虚接口，包括：
5.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：王瑞杰，侯凯，董兆博，
申请(专利权)人：苏州华太电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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